広島工業大学工学系研究科知能情報工学研究室
Research of Intelligent Information Technology







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研究者情報

前田俊二

前田俊二 教授

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研究室

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所属学会

広島工業大学 工学部 電子情報工学科
知能情報工学研究室 新1号館706,701,702705(研究室)
〒731-5193 広島市佐伯区三宅2-1-1
(082) 921-4255
s.maeda.ep(at)cc.it-hiroshima.ac.jp
電子情報通信学会,精密工学会,映像メディア学会
日本法科学技術学会,電気学会,IEEE
学歴
昭和49年 3月31日 岡山県立岡山大安寺高等学校卒業(9期生)
昭和53年 3月31日 神戸大学 工学部 電子工学科卒業(6期生)
昭和55年 3月31日 神戸大学 大学院工学研究科 電気工学専攻修了
平成16年 2月29日 東京工業大学 博士(工学)「半導体回路パターンの欠陥認識技術に関する研究」
職歴
昭和55年  4月1日 (株)日立製作所 生産技術研究所 配属
平成6年  8月21日 同社 生産技術研究所 第三部 主任研究員
平成11年  4月1日 同社 生産技術研究所 検査システム部 室長
平成17年  6月1日 同社 生産技術研究所 参事
平成17年 10月1日 同社 生産技術研究所 主管研究員 兼 室長
平成18年 10月1日 同社 生産技術研究所 主管研究員
平成22年  4月1日 北海道大学大学院 情報科学研究科 客員教授
平成23年  4月1日 同社 横浜研究所 主管研究員
平成25年 3月31日 同社退社
平成25年  4月1日 広島工業大学 工学部 電子情報工学科 教授

  1. 平成28年 電気学会 電子・情報・システム部門大会にて、松尾浩司(B4)が「PS5-8 刃物の威力評価手法の検討」により,優秀ポスター賞を受賞(2016.8.31)
  2. 平成27年 論文「画像解析に基づく線条痕の特徴強調と局所照合による発射弾丸の異同識別」により,精密工学 会論文賞を受賞(2015)
  3. 平成25年 論文「部分空間法に基づく残差ベクトル軌跡による異常検知手法の検討」により、精密工学会髙城賞を受賞(2013)
  4. 平成19年 発表「欠陥種を考慮に入れた局所整合性に基づく点群照合法」により、画像センシングシンポジウム SSII07「オーディエンス賞」を受賞(2007)
  5. 平成18年 特許「TFT液晶基板の検査・修正方法」により、(社)発明協会「平成18年度関東地方発明表彰 発明奨励賞」を受賞(2006)
  6. 平成9年 特許「半導体回路パターン欠陥検出方法」により、(社)発明協会「平成9年度関東地方発明表彰 発明奨励賞」を受賞 (1997)
  7. 平成7年 「超高感度LSIパターン検査装置の開発」により、「第30回機械振興協会賞」を受賞(1995)
  8. 平成21年 「日立実績発明者トップ100」を受賞(2009)。 日立在籍中に社長技術賞、研開技術賞、​戦略特許賞​​​ほか41件の社内表彰を受賞。​また、平成26年に(株)日立パワーソリューションズから知的財 産権賞を受賞。計42件

文献 1-1 査読付き論文 - 学会論文集

  1. 湯山 藍美,山先 純也,水野 太介,長谷 智紘,森山 健,西村 晃紀,前田 俊二,高橋 雅也,田中 和英,星平 祐吾,サポートベクトル回帰による多地点時系列データを用いた風速予測におけるk-NNとVARによる学習データ選択の検討, 精密工学会誌,Vol.83No10(2017.10 予定)
  2. 西村 晃紀,前田 俊二,荒木 智行,金子 俊一,渋谷 久恵,仁戸部 勤,安野 拓也,飯塚 正美,中山 透,Histogram Intersectionを用いた弾丸固有の線条痕の絞込み手法の提案, 精密工学会誌, Vol.83, No.8, pp.781-788(2017.8)
  3. 荒木 智行,鈴木 貴,大橋 由侑,前田 俊二,ファジィ論理文に基づくファジィエントロピー,バイオメディカル・ファジィ・システム学会誌,Vol.19, No.1, pp.73-80(2017.6)
  4. 藤井 周,前田俊二,荒木智行,仁戸部勤,金子俊一,渋谷久恵,安野拓也,飯塚正美,中山 透,弾丸異同識別のための線条痕の重み付けと位置を保存したHistogram Intersectionによる類似性評価手法の提案 精密工学会誌, Vol.82, No.7, pp.672-678(2016.7)
  5. 升井 義博, 谷岡 知美, 谷口 哲至, 山内 将行, 荒木 智行, 豊田 宏, 小池 正記, 前田 俊二, 尾崎 徹, 浅野 敏郎, 田中 武,工学教育におけるアクティブラーニング電子情報工学科の基礎科目における実践報告,電気学会論文誌. A, 136(10), 657-662(2016.10)
  6. 渋谷 久恵, 前田 俊二,二次元分布密度に基づく設備の異常関連センサ特定技術,電気学会論文誌C(電子・情報・システム部門誌), Vol. 135, No. 6, pp.611-618(2015.6)
  7. 米田 圭吾, 金子 俊一, 渋谷 久恵, 前田 俊二, 仁戸部 勤, 飯塚 正美,中山 透, 画像解析に基づく線条痕の特徴強調と局所照合による発射弾丸の異同識別, 精密工学会誌,Vol.80,No.12,pp.1182-1188(2014.12)
  8. 渋谷 久恵, 前田 俊二,高速局所部分空間法による異常検知技術,電気学会論文誌C, Vol.134, No.5 pp.643-650(2014.5)
  9. 和田 俊和, 尾崎 晋作, 前田 俊二, 渋谷 久恵,Gaussian Process Regressionに基づく時系列データの異常モニタリング,電子情報通信学会論文誌, Vol.J96-D, No.12, pp.3068-3078 (2013.12)
  10. 近藤 正一, 金子 俊一, 高氏 秀則, 前田 俊二, 渋谷 久恵,ロバストかつ高い収束性能を持つ二次元点群照合アルゴリズム,精密工学会誌, Vol.79, no.11, pp.1130-1135 (2013.11)
  11. 近藤 孝洋, 髙木 勇治, 前田 俊二, 浅野敏郎, 視覚特性を考慮した電子ディスプレイの色むら定量評価, 精密工学会誌,Vol.79, no.11, pp.1096-1101 (2013.11)
  12. 渋谷 久恵, 前田 俊二,運転パターン情報を利用した異常検知技術,電気学会論文誌C(電子・情報・システム部門誌), Vol. 133,No. 10, pp.1998-2006 (2013.10)
  13. 渋谷 久恵, 前田 俊二,決定木を利用したルール設定支援機能を備えた設備監視システム,電気学会論文誌C(電子・情報・システム部門誌), Vol. 133,No. 9, pp.1845-1852 (2013.9)
  14. 前田 俊二, 丸山 重信, 飯塚 正美, 仁戸部 勉, 中山 透,線条痕顕在化と画像分割照合による発射弾丸の異同識別方式の検討,精密工学会誌,Vol.79, no.5, pp.423-429 (2013.5)
  15. 前田 俊二, 浦野 貴裕, 酒井 薫,背景別しきい値設定によるDie-to-Golden比較と画像内自己参照比較に基づく高感度ハイブリッド欠陥検査,精密工学会誌,Vol.79, no.4, pp.325-331 (2013.4)
  16. 浦野 貴裕, 酒井 薫, 前田 俊二, 佐藤 真一,対話的教示欠陥選択に基づく効率的な実欠陥・虚報弁別技術,電子情報通信学会論文誌, , Vol.J96-D, No.1, pp.221-229 (2013.1)
  17. 前田 俊二, 渋谷 久恵,部分空間法に基づく残差ベクトル軌跡による異常検知手法の検討,精密工学会誌, Vol.78, No.12,pp.1087-1092(2012.12)
  18. 浦野 貴裕, 金子 俊一, 高氏 秀則, 田中 孝之, 前田 俊二, 渋谷 久恵, 吉田 実,欠陥種を考慮に入れた局所一貫性に基づく欠陥パタン照合法,電気学会論文誌 C, 電子・情報・システム部門誌, Vol.129, No.5, pp.778-785(2009.5)
  19. 近藤 和樹, 菊地 啓, 堀田 政二, 渋谷 久恵, 前田 俊二,ランダム特徴選択とバギングを利用した欠陥分類,画像電子学会誌, Vol.38, no.1, pp.9-15(2009.1)
  20. 浦野 貴裕, 金子 俊一, 高氏 秀則, 田中 孝之, 前田 俊二, 渋谷 久恵, 吉田 実,局所一貫性による点群の回転照合法と欠陥パターン照合への応用,電子情報通信学会論文誌, Vol.J90-D, No.10, pp.2798-2806(2007.10)
  21. 前田 俊二, 酒井 薫, 芝田 行広, 岡部 隆史, 窪田 仁志,照明条件制御下における相関マップ統合型画像マッチング方法,精密工学会誌, Vol.73, No.9, pp.1051-1056(2007.9)
  22. 前田 俊二, 酒井 薫, 岡部 隆史,散布図情報を用いたLSIウェーハ薄膜多層パターン比較検査アルゴリズム,電子情報通信学会論文誌, Vol.J88-D-Ⅱ, No.7, pp.1173-1186(2005.7)
  23. 芝田 行広, 前田 俊二,明視野顕微鏡における像コントラスト向上技術-回折光の偏光を利用した欠陥顕在化技術-,精密工学会誌, Vol.70, No.11, pp.1428-1432(2004.11)
  24. 前田 俊二, 岡 健次,散布図情報を用いた重回帰分析によるしきい値設定手法の提案,精密工学会誌, Vol.66, No.12, pp.1885-1889(2000.12)
  25. 前田 俊二, 吉田 実, 岡 健次,画像解析を用いたステージ精度測定手法の提案,精密工学会誌, Vol.66, No.1, pp.137-140(2000.1)
  26. 前田 俊二, 広井 高志, 窪田 仁志,微分極性比較法によるLSIウェーハ多層パターンの自動外観検査,電子情報通信学会論文誌, Vol.J82-D-Ⅱ, No.1, pp.39-52(1999.1)
  27. 前田 俊二, 遠藤 文昭, 牧平 坦, 窪田 仁志,比較検査における数値解析手法を用いたしきい値設定支援,電子情報通信学会論文誌 D-Ⅱ, Vol.J81-D-Ⅱ, No.1, pp.27-36(1998.1)
  28. 前田 俊二, 小野 眞, 窪田 仁志, 中谷 光雄,赤外線画像マッチングによるTFT基板の高精度ショート欠陥検出,電子情報通信学会論文誌 D-Ⅱ, Vol.J80-D-Ⅱ, No.9, pp.2333-2344(1997.9)
  29. 前田 俊二, 窪田 仁志, 牧平 坦,LSIウェーハパターン自動外観検査における最適しきい値の自動生成,電子情報通信学会論文誌, Vol.J79-D-Ⅱ, No.2, pp.191-201(1996.2)
  30. 前田 俊二, 窪田 仁志, 牧平 坦, 二宮 隆典, 中川 泰夫, 谷口 雄三,カスケードパターンマッチングによるLSIウェーハ多層パターン自動外観検査,電子情報通信学会論文誌, Vol.J72-D-Ⅱ, No.12, pp.2012-2022 (1989.12)

 1-2 査読付き論文 - 国際会議論文集 

  1. Toshio Asano, Takahhiro Kondo, Shunji Maeda, Mura Grade Evaluation Based on S-CIELAB Color System, SID 2014 DIGEST, pp.1081-1084(2014.6)
  2. Toshio Asano, Takahhiro Kondo, Shunji Maeda, Unified Evaluation Method of White Uniformity for Electronic Displays, Industrial Electronics Society, IECON 2013 - 39th Annual Conference of the IEEE (2013.11)
  3. Toshikazu Wada, Yuki Matsumura, Shunji Maeda, Hisae Shibuya, Gaussian Process Regression with Dynamic Active Set and Its Application to Anomaly Detection, The 2013 International Conference on Data Mining(2013.7) world-comp.org/p2013/DMI8072.pdf
  4. KAYABA HIROYUKI, Shun'ichi Kaneko, Sakai Kaoru, Taniguchi Atsushi, Maeda Shunji, Robust 3-D Reconstruction from Single Camera Rotation Stereo, 2012 IEEE/ASME International Conference on Advanced Intelligent Mechatronics,pp.93-97(2012.7)(Full paper査読)
  5. Hiroyuki Kayaba, Shun’ichi Kaneko, Kaoru Sakai, Atsushi Taniguchi, Shunji Maeda, Robust 3-D Shape Measurement based on Single Camera Rotation Stereo, FCV2012, Proceedings of the 18th Japan-Korea Joint Workshop on Frontiers of Computer Vision 2012,H2-29(2012.2)(Full paper査読)
  6. Hidenori Takauji, Shouichi Kondo, Hisae Shibuya, Shunji Maeda, Minoru Yoshida, Yasuo Nakagawa , A Robust Point Registration of Imbalanced Point Sets based on Parameter-Adaptive LCPD, FCV2010, Proceedings of the 16th Japan-Korea Joint Workshop on Frontiers of Computer Vision 2010,O1-2,pp.6-11(2010.2)(Full paper査読)
  7. Kei Kikuchi, Kazuki Kondo, Seiji Hotta, Hisae Shibuya, Shunji Maeda , Class-Unbalanced Defect Classification Using Multistep Learning, FCV2008, Proceedings of the 14th Japan-Korea Joint Workshop on Frontiers of Computer Vision 2008, pp.82-87(2008.1) (Full paper査読)
  8. Kazuki Kondo, Kei Kikuchi, Seiji Hotta, Hisae Shibuya, Shunji Maeda , Defect Classification Using Random Feature Selection and Bagging, FCV2008, Proceedings of the 14th Japan-Korea Joint Workshop on Frontiers of Computer Vision 2008, pp.76-81(2008.1) (Full paper査読)
  9. Akira Hamamatsu, Hisae Shibuya, Yoshimasa Oshima, Shunji Maeda, Hidetoshi Nishiyama, Minori Noguchi, Statistical Threshold Method for Semiconductor Inspection, 12th A-PCNDT(Asia- Pacific Conference on Non-Destructive Testing)(2006.11) (Short Abstract 査読)
  10. Kensuke Takeda, Shun'ichi Kaneko, Takayuki Tanaka, Kaoru Sakai, Shunji Maeda, Yasuo Nakagawa , Interpolation-based Absolute Gradient Matching and Its Application for LSI Wafer Inspection, QCAV2005, 7th international Conference on Quality Control by Artificial Vision, pp.221-226(2005.5) (Extended Abstract査読)
  11. Kensuke Takeda, Shun'ichi Kaneko, Takayuki Tanaka, Kaoru Sakai, Shunji Maeda, Yasuo Nakagawa , Robust Subpixel Image Alignment by Interpolation-based Absolute Gradient Matching, FCV2005, Proceedings of the 11th Japan-Korea Joint Workshop on Frontiers of Computer Vision 2005, pp.154-159(2005.1) (Full paper査読)
  12. Atsushi Shimoda, Kenji Watanabe, Yuji Takagi, Shunji Maeda, , Short Cycle Killer-Particle Control based on Accurate In-Line Defect Classification, The 9th Int’l. Symposium on Semiconductor Manufacturing, pp.199-202(2000.9) (Full paper査読)
  13. Yasuhiro Yoshitake, Shunji Maeda, Kenji Watanabe, , Defect Control Using an Automatic Killer Defect Selection Method, IEEE, Int’l Workshop on Statistical Metrology Technical Papers, pp.32-35(1998.6) (Extended Abstract査読)
  14. Takashi Hiroi, Shunji Maeda, Hitoshi Kubota, Kenji Watanabe, Yasuo Nakagawa , Precise Visual Inspection for LSI Wafer Patterns Using Subpixel Image Alignment, Proc. Of the 2nd IEEE Workshop on Applications of Computer Vision, pp.26-34(1994.12) (Extended Abstract査読)
  15. Toshio Asano, Shunji Maeda, Toshiaki Murai , Vision system aligns leads for automatic component insertion, Assembly Automation, Volume 3 issue 1, pp.32-35(1983) (Extended Abstract査読)
2 著書
なし

3-1 報告書 - 査読なし国際会、研究会、シンポジウム等の論文

  1. 西村 晃紀,柳部 正樹,青戸 勇太,長谷 智紘,森山 健,前田 俊二,HOG 特徴量を電子部品検査に適用した場合の課題検討,D08, 精密工学会, 2017年度秋季大会(2017.9.20)
  2. 柳部 正樹,青戸 勇太,橋本 将弥,藤井 将貴,西村 晃紀,森山 健,長谷 智紘,前田 俊二,電子部品検査における過検出抑制のためのHOG特徴量に関する検討,D09,精密工学会, 2017年度秋季大会(2017.9.20)
  3. 森山 健,西村 晃紀,長谷 智紘,前田 俊二,荒木 智行,ごみ焼却設備における排ガス変動因子の分析,C04,精密工学会, 2017年度秋季大会(2017.9.20)
  4. 長谷智紘,森山 健,西村晃紀,前田俊二,雲画像を用いた日射量推定の検討,2017年電子情報通信学会ソサイエティ大会,A-8-3(2017.9.12)
  5. 西村晃紀,柳部正樹,青戸勇太,長谷智紘,森山 健,前田俊二,HOG特徴量を用いた外観検査における欠陥の影響検討,2017年電子情報通信学会ソサイエティ大会,A-8-4(2017.9.12)
  6. 森山 健,西村晃紀,長谷智紘,前田俊二,荒木智行,位相遅れを考慮したごみ焼却設備における排ガス変動因子の分析,2017年電子情報通信学会ソサイエティ大会,A-8-19(2017.9.12)
  7. 西村 晃紀,柳部 正樹,青戸 勇太,森山 健,長谷 智紘,前田 俊二,電子部品の外観検査におけるHOG評価のためのHistogram IntersectionとKullback Leibler Divergenceの比較検討,平成29年電気学会電子・情報・システム部門大会,GS9-2(2017.9.8)
  8. 森山 健,西村 晃紀,長谷 智紘,松林 幹大,前田 俊二,荒木 智行,ごみ焼却設備における排ガス低減因子の分析,平成29年電気学会電子・情報・システム部門大会,GS6-8(2017.9.7)
  9. 松林 幹大,前西 緋槻,秋本 匠,吉武 駿也,森山 健,西村 晃紀,長谷 智紘,前田 俊二,ごみ焼却設備の窒素酸化物低減に影響を与える要因に関する検討,平成29年電気学会電子・情報・システム部門大会,PS4-1(2017.9.6)
  10. 青戸 勇太,柳部 正樹,橋本 将弥,藤井 将貴,西村 晃紀,森山 健,長谷 智紘,前田 俊二,Histogram Intersectionによる局所特徴量の安定抽出に基づく欠陥検査,平成29年電気学会電子・情報・システム部門大会,PS6-7 (2017.9.6)
  11. 中迫 篤志,髙見 玲音,西村 晃紀,森山 健,長谷 智紘,前田 俊二,鈴木 寛,堀江 聖岳,道路における異常運転認識の検討,平成29年電気学会電子・情報・システム部門大会,PS6-10 (2017.9.6)
  12. 長谷 智紘,森山 健,西村 晃紀,前田 俊二,ニューラルネットワークによる短時間先風速予測におけるベクトル自己回帰を用いた時間および空間特徴に基づくデータ選択の検討,平成29年電気学会電子・情報・システム部門大会,TC2-2 (2017.9.6)
  13. 森山 健,西村 晃紀,長谷 智紘,前田 俊二,荒木 智行,鈴木 忠志,野田 統治郎,予測誤差分散分解を用いた設備の異常検知手法の検討,計測自動制御学会,第99回パターン計測部会研究会(2017.7.14)
  14. 西村 晃紀,柳部 正樹,青戸 勇太,長谷 智紘,森山 健,前田 俊二,HOG特徴を用いた外観検査における回路配線パターンとセルのかかり具合によるヒストグラム変動に関する分析検討,計測自動制御学会,第99回パターン計測部会研究会(2017.7.14)
  15. 長谷 智紘,森 山健,西村 晃紀,川人 将典,櫻井 博章,前田 俊二,日射量予測における全天画像と太陽画像の比較検討,計測自動制御学会,第99回パターン計測部会研究会(2017.7.14)
  16. 柳部 正樹, 青戸 勇太, 橋本 将弥, 藤井 将貴, 西村 晃紀, 森山 健, 長谷 智紘, 前田 俊二​,Histogram Intersectionによる局所特徴量の安定抽出に基づく欠陥検査,第5回電子デバイス・回路・照明・システム関連教育・研究ワークショップ(2017.5.27)
  17. 松林 幹大, 前西 緋槻, 秋本 匠, 吉武 駿也, 森山 健, 西村 晃紀, 長谷 智紘, 前田 俊二​,ごみ焼却設備の窒素酸化物発生に影響する要因に関する初期検討​,第5回電子デバイス・回路・照明・システム関連教育・研究ワークショップ(2017.5.27)
  18. 寺井 満俊, 橋本 興典, 藤本 章太郎, 天野 輝月, 米花 拓郎, 廣岡 祐輔, 前田 俊二, 飯塚 正美, 安野 拓也​,画像解析による被験物の変形および損傷に着目した刃物の威力評価​,第5回電子デバイス・回路・照明・システム関連教育・研究ワークショップ(2017.5.27)
  19. 前田 龍佑, 松岡 尚弥, 伊藤 駿, 上出 敦也, 櫻井 博章, 川人 将典, 長谷 智紘, 西村 晃紀, 森山 健, 前田 俊二​,太陽光発電のための天空画像における雲の分類​,第5回電子デバイス・回路・照明・システム関連教育・研究ワークショップ(2017.5.27)
  20. 中迫 篤志, 髙見 玲音, 西村 晃紀, 森山 健, 長谷 智紘, 前田 俊二​,道路における走行車両の異常状態検知の初期検討​,第5回電子デバイス・回路・照明・システム関連教育・研究ワークショップ(2017.5.27)
  21. 森山 健, 長谷 智紘, 西村 晃紀, 前田 俊二, 鈴木忠志, 野田統治郎, 知久馬成美, 予測誤差分散分解を用いた設備の性能劣化評価手法の検討, O07, 精密工学会, 2017年度春季大会(2017.3.13)
  22. 長谷 智紘, 森山 健, 西村 晃紀, 前田 俊二, ニューラルネットワークによる短時間先風速予測の初期検討, A20, 精密工学会, 2017年度春季大会(2017.3.13)
  23. 櫻井 博章, 川人 将典, 長谷 智紘, 西村 晃紀, 森山 健, 前田 俊二, 太陽光発電のための天空画像における雲領域の抽出, A63, 精密工学会, 2017年度春季大会(2017.3.15)
  24. 川人 将典, 櫻井 博章, 長谷 智紘, 森山 健, 西村 晃紀, 前田 俊二, 太陽光発電安定化のための天空画像における雲の動き追跡, A64, 精密工学会, 2017年度春季大会(2017.3.15)
  25. 松尾 浩司, 前田 俊二, 飯塚 正美,安野 拓也,西村 晃紀, 画像解析による断面積を考慮した刃物の威力評価, A73, 精密工学会, 2017年度春季大会(2017.3.15)
  26. 西村 晃紀,前田 俊二,金子 俊一,渋谷 久恵,仁戸部 勤,安野 拓也,飯塚 正美,中山 透,弾丸識別におけるハフ変換による検出直線部に限定したヒストグラムインターセクションの検討A74, 精密工学会, 2017年度春季大会(2017.3.15)
  27. 橋本興典, 橋本将弥, 宮崎大輔, 秋本匠, 川人将典, 櫻井博章, 佐々木秀晃,玉井雅大, 寺井満俊, 徳永優一, 藤井将貴, 吉武駿也, 前田俊二,Pythonを用いた天空画像における雲の動き追跡,第4回電子デバイス・回路・照明・システム関連教育・研究ワークショップ,2-11(2016.11.27)
  28. 森山 健, 前田 俊二, 荒木 智行, 鈴木 忠志, 野田 統治郎, 知久馬 成美, 機械学習を用いた設備の異常度分類手法の検討, 第18回 IEEE広島支部学生シンポジウム(2016.11.19,20)
  29. 松尾 浩司,前田 俊二,飯塚 正美,安野 拓也,画像解析による刃物突刺し威力の評価,D-27,日本法科学技術学会第22 回学術集会(2016.11.11)
  30. 西村 晃紀,前田 俊二,金子 俊一,渋谷 久恵,仁戸部 勤,安野 拓也,飯塚 正美,中山 透,弾丸の異同識別のための線条痕の特徴によるROI の選択,D-34,日本法科学技術学会第22 回学術集会(2016.11.11)
  31. 森山 健,前田俊二,荒木智行,鈴木忠志,野田統治郎,機械学習を用いた設備の異常度分類における初期検討,R16-15-02,平成28年(第67回)電気・情報関連学会 中国支部連合大会(2016.10.22)
  32. 西村晃紀,前田俊二,仁戸部 勤,安野拓也,飯塚正美,中山 透,金子俊一,渋谷久恵,Hough変換によるρθ空間を対象としたHistogram Intersectionと弾丸異同識別への適用,R16-22-01,平成28年(第67回)電気・情報関連学会 中国支部連合大会(2016.10.22)
  33. 西村晃紀,片山拓哉,前田俊二,金子俊一,渋谷久恵,仁戸部 勤,安野拓也,飯塚正美,中山 透,固有線条痕を手がかりとした弾丸画像の対応付け,A-8- 24,2016年電子情報通信学会ソサイエティ大会(2016.9.21)
  34. 長谷智紘,湯山藍美,水野太介,山先純也,前田俊二,高橋雅也,田中和英,星平祐吾,因果関係を考慮した風速予測の検討,A-8- 26,A-8- 26,2016年電子情報通信学会ソサイエティ大会(2016.9.21)
  35. 湯山藍美,長谷智紘,水野太介,山先純也,前田俊二,高橋雅也,田中和英,星平祐吾,SVR風速予測における学習データ選択に関する検討,A-8- 27,2016年電子情報通信学会ソサイエティ大会(2016.9.21)
  36. 水野太介,長谷智紘,山先純也,湯山藍美,前田俊二,高橋雅也,田中和英,星平祐吾,SVR風速予測における学習データセットの役割の実験検討,A-8- 28,2016年電子情報通信学会ソサイエティ大会(2016.9.21)
  37. 森山 健,荒木智行,前田俊二,鈴木忠志,野田統治郎,主成分分析と予測誤差分散分解を用いた設備の性能評価手法の検討,A-3- 3,2016年電子情報通信学会ソサイエティ大会(2016.9.22)
  38. 山先純也,湯山藍美,前田俊二,高橋雅也,田中和英,星平祐吾,多地点の風速時系列データを用いたサポートベクトル回帰による風速予測手法の検討,平成28年電気学会電子・情報・システム部門大会,TC3-4(2016.8)
  39. 西村晃紀,片山拓哉,前田俊二,金子俊一,渋谷久恵,中山 透,仁戸部 勤,安野拓也,飯塚正美,弾丸異同識別のための固有線条痕の特定方法の研究,平成28年電気学会電子・情報・システム部門大会,GS7-5(2016.8)
  40. 森山 健,荒木智行,前田俊二,鈴木忠志,野田統治郎,時系列データを用いた設備の性能評価手法の検討,平成28年電気学会電子・情報・システム部門大会,GS8-4(2016.8)
  41. 松尾浩司,岸田 諭,前田俊二,飯塚正美,安野拓也,刃物の威力評価手法の検討,平成28年電気学会電子・情報・システム部門大会,PS5-8(2016.8)
  42. 西村 晃紀,前田 俊二,金子 俊一,渋谷 久恵,中山 透,仁戸部 勤,安野 拓也,飯塚 正美,弾丸異同識別のための固有線条痕の検出方法の提案, IS1-15,第22回画像センシングシンポジウムSSII2016(2016.6.8)
  43. 湯山 藍美, 山先 純也, 前田 俊二, 高橋 雅也, 田中 和英, 星平 祐吾,サポートベクトル回帰による風速予測の検討,第3回電子デバイス・回路・照明・システム関連教育・研究ワークショップ(2016.5.28)
  44. 松尾 浩司,岸田 諭,前田 俊二,安野 拓也,飯塚 正美,刃物の威力評価のための刃物の動き検出と 突き刺し深さに与える要因の分析,第3回電子デバイス・回路・照明・システム関連教育・研究ワークショップ (2016.5.28)
  45. 西村 晃紀,前田 俊二,金子 俊一,渋谷 久恵,中山 透,仁戸部 勤,安野 拓也,飯塚 正美,弾丸異同識別のためのCannyエッジオペレータとHough変換による線条痕の検出,第3回電子デバイス・回路・照明・システム関連教育・研究ワークショップ (2016.5.28)
  46. 西村晃紀,前田俊二(広島工業大学),金子俊一,渋谷久恵(北海道大学),中山透(神奈川県警),仁戸部勤,安野拓也,飯塚正美(科警研),弾丸異同識別のための固有線条痕絞込み方法の検討,第97回パターン計測部会研究会 計測自動制御学会 計測部門(2016.5.13)  
  47. 山先純也,長谷智紘,水野太介,森山 健, 前田俊二, 荒木智行,野田統治郎,鈴木忠志,因果関係に基づく異常検知に関する考察,F79, 精密工学会, 2016 年度春季大会(2016.3.17)  
  48. 森山 健,長谷智紘,水野太介,山先純也,荒木智行,前田俊二,鈴木忠志,野田統治郎,多変量時系列データを用いた保守作業の分析,F80, 精密工学会, 2016 年度春季大会(2016.3.17)
  49. 水 野 太介,森山 健,山先 純也,長谷 智紘, 湯山 藍美, 前田 俊二,高橋 雅也,田中 和英, 星平 祐吾,多変量時系列データへのベクトル自己回帰モデルの適用に関する考察,H16, 精密工学会, 2016 年度春季大会(2016.3.15) 
  50. 長谷 智紘, 森山 健, 湯山 藍美, 前田 俊二,高橋 雅也, 田中 和英, 星平 祐吾,ベクトル自己回帰と過去の類似データの活用による風速予測,H15, 精密工学会, 2016 年度春季大会(2016.3.15)
  51. 湯山 藍美, 長谷 智紘, 水野 太介, 前田 俊二,高橋 雅也, 田中 和英, 星平 祐吾,VARモデル風速予測における予測誤差の分析,H14, 精密工学会, 2016 年度春季大会(2016.3.15)
  52. 西村 晃紀,片山 拓哉,藤井 周,前田 俊二,金子 俊一,渋谷 久恵,仁戸部 勤,安野 拓也,飯塚 正美,中山 透,弾丸の異同識別における線条痕の強調,C21, 精密工学会, 2016 年度春季大会(2016.3.15)
  53. 田中 武, 谷岡 知美, 升井 義博, 谷口 哲至, 山内 将行, 荒木 智行, 福原 省三, 豊田 宏, 小池 正記, 前田 俊二, 尾崎 徹, 浅野 敏郎、広島工業大学電子情報工学科における学修に対する体系的な取り組み、電気学会研究会資料、FIE 2016(1-7・9-16), 79-84(2016.2.28)
  54. 升井 義博, 谷岡 知美, 谷口 哲至, 山内 将行, 荒木 智行, 豊田 宏, 小池正 記, 前田 俊二, 尾崎 徹, 浅野 敏郎, 田中 武、工学教育におけるアクティブラーニング電子情報工学科の基礎科目における実践報告、電気学会研究会資料、FIE 2016(1-7・9-16), 29-34( 2016.2.28)
  55. 山内 将行, 谷岡 知美, 升井 義博, 谷口 哲至, 荒木 智行, 豊田 宏, 小池 正記, 前田 俊二, 尾崎 徹 , 浅野 敏郎, 田中武、早期に研究を希望する学生への教育と効果の中間報告、電気学会研究会資料、FIE-15-034(2015.12.12)
  56. Takeru Moriyama, Tomohiro Nagatani, Shu Fujii, Tomoyuki Araki, Shunji Maeda, Tadashi Suzuki, Tojiro Noda, Analysis of maintenance tasks with VAR model and impulse response function, abstract査読, A-16, pp.50-53, 第17回 IEEE広島支部学生シンポジウム(2015.11)
  57. 長谷 智紘, 森山 健, 藤井 周, 前田 俊二, 高橋 雅也, 田中 和英, 星平 祐吾VARモデルによる風速予測に与える多地点データの影響分析,abstract査読, B-12, pp.302-305,第17回 IEEE広島支部学生シンポジウム(2015.11)
  58. 長谷 智紘, 片山 拓哉, 岸田 諭, 竹原 和希, 西村 晃紀, 水野 太介, 宮崎 大輔, 森山 健, 山先 純也, 湯山 藍美, 松尾 浩司, 古賀 和喜, 前田 俊二,Arduinoを用いた動的センシング,第2回電子デバイス・回路・照明・システム​関連教育・研究ワークショップ(2015.11) [奨 励賞受賞]
  59. 森山 健, 長谷 智紘, 藤井 周, 荒木 智行, 前田 俊二, 鈴木 忠志, 野田 統治郎,予測誤差分散分解を用いた保守作業の分析,第2回電子デバイス・回路・照明・システム​関連教育・研究ワークショップ(2015.11)
  60. 古賀 和喜, 長谷 智紘, 森山 健, 前田 俊二, 高橋 雅也, 田中 和英, 星平 祐吾, 過去の誤差を加味した類似データ選択による風速予測, 6-13, pp. 147 – 148, , 第66回電気・情報関連学会中国支部連合大会(2015.10)
  61. 長谷 智紘, 森山 健, 藤井 周, 前田 俊二, 高橋 雅也, 田中 和英, 星平 祐吾, VARモデルによる風速予測に与える多地点の影響検討, 6-14, pp. 149 – 150 , 第66回電気・情報関連学会中国支部連合大会(2015.10)
  62. 森山 健, 長谷 智紘, 藤井 周, 荒木 智行, 前田 俊二, 鈴木 忠志, 野田 統治郎, VARモデルとインパルス応答関数を用いた保守作業の分析, 15-5, pp. 39 – 40, 第66回電気・情報関連学会中国支部連合大会(2015.10)
  63. 藤井 周, 大西 淳, 中田 英紀, 前田 俊二, 飯塚 正美, 安野 拓也, 仁戸部 勤, 中山 透, 金子 俊一, 渋谷 久恵, 試射弾丸の異同識別を目的としたHistogram Intersectionと共通線条痕への重み付けに基づく類似性評価手法, 22-8, pp. 299 – 300, 第66回電気・情報関連学会中国支部連合大会(2015.10)
  64. 山内 将行, 谷岡 知美, 升井 義博, 谷口 哲至, 豊田 宏, 荒木 智行, 小池 正記, 前田 俊二, 尾崎 徹, 浅野 敏郎, 田中 武、国内学会発表を通した電気電子系学生の育成に向けて、電気学会教育フロンティア研究会、FIE-15-021(2015.9.26)
  65. 藤井 周,中田英紀,前田俊二,飯塚正美,安野拓也,仁戸部勤,中山 透,金子俊一,渋谷久恵,試射弾丸の異同識別を目的としたヒストグラムインターセクションとダイバージェンスによる類似性評価の検討, H-005, FIT2015 第14回情報科学技術フォーラム(2015.9)
  66. 中田英紀、藤井 周、前田俊二,飯塚正美,安野拓也,仁戸部勤,中山 透,金子俊一,渋谷久恵,試射弾丸の画像類似性評価のための局所領域の寸法決定, H-006, FIT2015 第14回情報科学技術フォーラム(2015.9)
  67. 森山 健、長谷智紘、藤井 周、前田俊二、鈴木忠志, 野田統治郎,インパルス応答関数を用いた保守作業の評価手法の検討,電気学会C部門大会, GS13-4, pp.1450-1455(2015.8)
  68. 長谷智紘、森山 健、藤井 周、前田俊二、高橋雅也,田中和英,星平祐吾,風速予測における他地点風速データ活用方法の検討,電気学会C部門大会, GS13-5, pp.1456-1461(2015.8)
  69. 清水雄二, 根石暁,荒木智行, 前田俊二, 鈴木忠志, 野田統治郎,インパルス応答関数を用いた設備の異常予兆検知手法の提案,平成27年計測自動制御学会 計測部門 第95回パターン計測部会研究会(2015.5)
  70. 根石暁,清水雄二, 荒木智行, 前田俊二, 鈴木忠志, 野田統治郎,設備の余寿命予測手法の検討,平成27年計測自動制御学会 計測部門 第95回パターン計測部会研究会(2015.5)
  71. 橘高滋成,住田隼雅,田坂翔,和田義人,隅田将太,前 田俊二,高橋雅也,田中和英,星平祐吾,類似データ選択による風速予測手法 の基礎検討,平成27年電気学会全国大会, 6-094, pp.133-134(2015.3)
  72. 住田隼雅,橘高滋成,田坂 翔,和田義人,隅田将太,前田俊二,高橋雅也,田中和英,星平祐吾,線形予測VARモデルによる風速予測の基礎検討,平成27年電気学会全国大会, 6-205, pp.338-339(2015.3)
  73. 和田義人,田坂 翔,隅田将太,前田俊二,高橋雅也,田中和英,星平祐吾,過去データを用いた風速予測のための類似データ選択,精 密工学会2015年度春季大会, E17, pp.283-284(2015.3)
  74. 吉岡哲郎,佐竹凌太,清水雄二,前田俊二,鈴木忠治, 野田統治郎,設備のパフォーマンスモニタ実現のためのインパルス応答関数に 基づくセンサデータの選択,精密工学会, 2015年度春季大会, E15, pp.279-230(2015.3)
  75. 佐竹凌太,吉岡哲郎,根石 暁,前田俊二,鈴木忠志,野田統治郎,余寿命予測のための設備状態監視手法の検討,精密工学会, 2015 年度春季大会, E06, pp.273-274(2015.3)
  76. 落合俊介,櫻田はなみ,神原卓也,藤井周,前田俊二, 大石昌典,川口哲史,産業素材を対象にしたX線画像を用いた異物認識, 動的画像処理実用化ワークショップ, IS1-A2, DIA2015(2015.3)
  77. 藤井 周,大西淳,中田英紀,前田俊二,飯塚正美,安野拓也,仁戸部勤,中山 透,金子俊一,渋谷久恵:試射弾丸の異同識別を目的と したヒストグラムを用いた類似度分布の取得,動的画像処理実用化ワークショップ, IS1-B7, DIA2015(2015.3)
  78. 大西 淳,藤井 周,中田秀紀,前田俊二,飯塚正美,安野拓也,仁戸部勤,中山 透,金子俊一,渋谷久恵:異同識別のための位置と周波 数に関する類似性評価手法の検討,動的画像処理実用化ワークショップ, IS1-B7, DIA2015(2015.3)
  79. 落合 俊介, 櫻田 はなみ, 神原 卓也, 藤井 周, 前田 俊二, 大石 昌典, 川口 哲史, X線画像を用いた異物検査手法の検討, 平成26年度(第65回)電気・情報関連学会中国支部連合大会, pp.157-158(2014.10)
  80. 田坂 翔, 和田 義人, 隅田 将太, 前田 俊二,高橋 雅也,星平 祐吾, 風速予測のための予測誤差分析と予測値の修正, 精密工学会秋季大会学術講演会講演論文集,O23(2014.9)
  81. 藤井 周,前田 俊二,飯塚 正美,安野 拓也,仁戸部 勤,中山 透, 金子 俊一,渋谷 久恵, 試射弾丸の異同識別を目的とした画像ヒストグラムを用いた類似性評価手法の検討, 精密工学会秋季大会学 術講演会講演論文集,C17(2014.9)
  82. 和田 義人, 隅田 将太, 田坂 翔, 前田 俊二,高橋 雅也,星平 祐吾, 類似データ選択に基づく風速予測手法の検討, imec008, pp.131-136, 第19回知能メカトロニクスワークショップ(2014.7.12)
  83. 藤井 周,前田 俊二,飯塚 正美,安野 拓也,仁戸部 勤,中山 透, 金子 俊一,渋谷 久恵, 試射弾丸の異同識別のための対応付け評価手法の検討, imec007, pp.92-97, 第19回知能メカトロニクスワークショップ(2014.7.12)
  84. 渋谷 久恵, 前田 俊二,センサ信号からの異常検知および異常関連センサ特定技術, 電気学会 知覚情報/次世代産業システム合同研究会, PI-14-005 (2014.3)
  85. 吉岡 哲郎, 佐竹 凌太, 前田 俊二, 鈴木 忠志, 野田 統治朗, 設備の異常予兆検知における時系列データを対象にしたクラスタリング手法の比較検討̶, 精密工学会2013年度春季大会,A14(2014.3)
  86. 佐竹 凌太, 吉岡 哲郎, 前田 俊二, 鈴木 忠志, 野田 統治朗, 複数のクラスタリング手法の組合せによる時系列データを対象にした予兆検知手法の検討̶, 精密工学会2013年度春季大会,A15(2014.3)
  87. 米田 圭吾,金子 俊一,渋谷 久恵,仁戸部 勤,飯塚 正美,中山 透,前田 俊二,画像照合に基づく発射弾丸異同識別における有効線条痕の選択, ビジョン技術の実利用ワークショップ,ViEW2013,IS2-A11(2013.12)
  88. 米田 圭吾, 金子 俊一, 仁戸部 勤, 飯塚 正美, 中山 透, 前田 俊二,線条痕の画像解析に基づく発射弾丸の異同識別, 第19回 画像センシングシンポジウムSSII2013, IS2-16(2013.6.13)
  89. 近藤 正一, 金子 俊一, 前田 俊二, 渋谷 久恵, 高氏 秀則,パラメータ適応型LCPDによるロバスト点群照合,動的画像処理実用化ワークショップ(DIA), I3-8(2013.3.8)
  90. 渋谷 久恵, 前田 俊二,高速局所部分空間法による異常検知技術, 電気学会情報処理研究会資料Vol.IP−13 No.1−11 Page.35-40 (2013.03.29)
  91. 岩崎 匠史, 金井 理, 伊達 宏昭, 金子 俊一, 谷口 敦史, 前田 俊二, 宮本 敦, 田中 麻紀, スクリュー理論を用いた多数の計測点群に対する同時レジストレーション, 精密工学会大会学術講演会講演論文集, Vol.2013 春季(CD−ROM) Page.ROMBUNNO.M66 (2013.02.27)
  92. 金井 理, 岩崎 匠史, 伊達 宏昭, 金子 俊一, 谷口 敦史, 前田 俊二, 宮本 敦, 田中 麻紀, MLSを用いた計測点群に基づいた現物良品モデル生成とその検査への応用, 精密工学会大会学術講演会講演論文集, Vol.2013 春季(CD−ROM) Page.ROMBUNNO.M32 (2013.02.27)
  93. 松村 祐貴, 和田 俊和, 前田 俊二, 渋谷 久恵,動的Active Setを用いたGaussian Process Regressionによるベクトル出力推定法,パターン認識・メディア理解研究会(PRMU)pp.317-322 (2013.1.24)
  94. 栢場 皓之, 金子 俊一, 谷口 敦史,前田 俊二,宮本 敦,ロバスト単眼回転ステレオの開発とその3次元形状計測への融合的応用,ビジョン技術の実利用ワークショップ,ViEW2012,IS2-C1 (2012.12)
  95. 山本 忠, 吉田 稔, 中川 裕志, 渋谷 久恵, 前田 俊二,製品修理作業レポートと付随する数値データの関係性分析,第15回情報論的学習理論ワークショップ(IBIS2012)(2012.11.7)
  96. 前田 俊二, 丸山 重信, 飯塚 正美, 仁戸部 勉,画像分割照合による発射弾丸の異同識別方式の検討,日本法科学技術学会 第18回学術集会,D-31(2012.11)
  97. 米田 圭吾, 金子 俊一, 前田 俊二, 飯塚 正美, 仁戸部 勤, 石井 将人, 中山 透, 画像パタン認識による発射弾丸の異同識別の試み,日本法科学技術学会 第18回学術集会,D-30(2012.11)
  98. 栢場皓之, 金子俊一, 谷口敦史, 酒井薫, 前田俊二,幾何拘束を利用した単眼回転ステレオによる3次元形状計測,第30回日本ロボット学会学術講演会(2012.9)
  99. 前田 俊二, 丸山 重信, 飯塚 正美, 仁戸部 勉,展開画像取得と線条痕顕在化による弾丸の異同識別方式の検討,精密工学会第17 回知能メカトロニクスワークショップIMEC2012,V4-4 (2012.8)
  100. 吉田 稔, 中川 裕志, 渋谷 久恵, 前田 俊二,テキストマイニングによる機器異常診断支援の試み,第4回データ工学と情報マネジメントに関するフォーラムdeim2012,F5-4 (2012.3)
  101. 三上 卓也, 安藤 政志, 小山 純, 堀田 政二, 渋谷 久恵, 前田 俊二,尤度プロファイル特徴に基づく異常分類識別,パターン認識・メディア理解研究会(PRMU)pp.37-40(2012.2)
  102. 尾崎 晋作, 渋谷 久恵, 前田 俊二, 和田 俊和,Gaussian Processesに基づく異常予兆検出への多重解像度解析の導入,パターン認識・メディア理解研究会(PRMU)pp.109-114(2012.1)
  103. 栢場 皓之, 金子 俊一, 酒井 薫, 谷口 敦史, 前田 俊二,単眼回転ステレオ法によるロバスト3次元形状計測,ビジョン技術の実利用ワークショップ,I2-29,ViEW2011,pp.444-449 (2011.12)
  104. 渋谷 久恵, 前田 俊二, 鈴木 忠志, 野田 統治郎,予兆診断のためのリモートモニタリング基準設定支援技術,第16 回動力・エネルギー技術シンポジウム,機械学会,C114,pp43-46(2011.6)
  105. 野田 統治郎, 鈴木 忠志, 藤村 尚, 鈴木 英明, 前田 俊二, 渋谷 久恵,高度予兆診断システムの開発,第16 回動力・エネルギー技術シンポジウム,機械学会,C113,pp39-42(2011.6)
  106. 前田 俊二, 浦野 貴裕, 酒井 薫,背景別しきい値設定によるDie-to-Golden比較と画像内自己参照比較に基づく高感度ハイブリッド欠陥検査,第17回画像センシングシ ンポジウム, IS4-13,SSII2011,pp. IS4-13-1 - IS4-13-6(2011.6)
  107. 尾崎 晋作, 和田 俊和, 前田 俊二, 渋谷 久恵,異常検出におけるSimilarity Based ModelingとGaussian Processesの関連に関して,パターン認識・メディア理解研究会(PRMU),画像工学(IE),pp.133-138(2011.5)
  108. 前田 俊二, 渋谷 久恵,時系列データに対する異常予兆検知のための部分空間生成方法の検討,精密工学会2011年度春季大会,K19,pp.819-820 (2011.3)
  109. 安藤 政志, 堀田 政二, 渋谷 久恵, 前田 俊二,尤度ヒストグラムに基づく異常検出,パターン認識・メディア理解研究会(PRMU), pp.127-130 (2011.3)
  110. 中島 將貴, 堀田 政二, 渋谷 久恵, 前田 俊二,多センサの多次元表現と部分空間識別器に基づく異常検知,パターン認識・メディア理解研究会(PRMU), pp.123-126 (2011.3)
  111. 尾崎 晋作, 和田 俊和, 前田 俊二, 渋谷 久恵,Gaussian Processesを用いたプラントの異常及びその予兆の検出,パターン認識・メディア理解研究会(PRMU), pp.211-216 (2011.1)
  112. 浦野貴裕,酒井薫,前田俊二,佐藤真一,実欠陥・虚報 弁別のための対話的教示欠陥選択における誤り耐性解析,ビジョン技術の実利用ワークショップ, B-3O,ViEW2010,pp.54-61(2010.12)
  113. Masashi Ando, Masaki Nakajima, Seiji Hotta, Hisae Shibuya, and Shunji Maeda, ``Likelihood Histogram for Fault Detection,'' China-Japan-Korea Joint Workshop on Pattern Recognition (CJKPR2010)(2010.11)
  114. 前田 俊二, 渋谷 久恵,過渡状態を伴うセンサデータに対応可能な異常予兆検知方法の研究,精密工学会2010年度秋季大会,H40, pp541-542(2010.9)
  115. 高宮隆弘,和田俊和,前田俊二, 渋谷久恵,ユーザの選好を反映した特徴変換法,第13回画像の認識・理解シンポジウム, IS1-84, MIRU2010,pp.618-624(2010.7)
  116. 浦野貴裕,酒井薫,前田俊二,佐藤真一,対話的教示欠 陥選択に基づく効率的な実欠陥・虚報弁別技術の開発,第13回画像の認識・理解シンポジウム, IS1-71, MIRU2010,pp.528-534(2010.7)
  117. 尾崎 晋作, 和田 俊和, 前田 俊二, 渋谷 久恵,Whiteningと線形予測を用いた人為的操作を伴うプラントの異常検出,パターン認識・メディア理解研究会(PRMU),pp.275-279 (2010.3)
  118. 高宮 隆弘, 和田 俊和, 前田 俊二, 渋谷 久恵,ユーザの選好を反映した特徴変換,パターン認識・メディア理解研究会(PRMU),pp.425-430(2010.3)
  119. 前田 俊二, 渋谷 久恵,部分空間法に基づく残差ベクトル軌跡による異常検知手法の検討,精密工学会2010年度春季大会,D74,pp329-330(2010.3)
  120. 菊地 啓, 近藤 和樹, 堀田 政二, 渋谷 久恵, 前田 俊二,センサモデルと投票に基づく異常検知,情報処理学会創立50周年記念(第72回)全国大会, 3E-2,pp.2-119 - 2-120 (2010.3)
  121. 渋谷 久恵, 前田 俊二,クラスタリングと部分空間法による異常検知手法,電気学会一般産業研究会GID-09-16, pp.83-88 (2009.12)
  122. 近藤 正一, 高氏 秀則, 渋谷 久恵, 前田 俊二, 吉田 実, 中川 泰夫, 金子 俊一,不均衡点群データを対象としたロバスト点群照合,ViEW2009ビジョン技術の実利用ワークショップ講演論文集, I-41, pp.300-305(2009.12)
  123. 前田 俊二, 渋谷 久恵,多次元時系列センシングデータを対象とした部分空間法による設備異常検知の検討,精密工学会2009年度秋季大会, I39,pp651-652(2009.9)
  124. 近藤 和樹, 菊地 啓, 堀田 政二, 渋谷 久恵, 前田 俊二,センサモデルと投票に基づく発電機の異常検知の検討,第8回情報科学技術フォーラム(2009.9)
  125. 高宮 隆弘, 小倉 将義, 和田 俊和, 前田 俊二, 酒井 薫,カーネル弁別特徴変換に関する研究,第12回画像の認識・理解シンポジウム, IS1-9, MIRU2009(2009.7)
  126. 淺海 徹哉, 和田 俊和, 酒井 薫, 前田 俊二,自己参照に基づくパターン欠陥検査法,第12回画像の認識・理解シンポジウム, IS3-5, MIRU2009(2009.7)
  127. 近藤 正一, 高氏 秀則, 渋谷 久恵, 前田 俊二, 吉田 実, 中川 泰夫, 金子 俊一,点数不均衡な二次元点群照合のためのパラメータ適応型LCPD,第15回画像センシングシンポジウム, IS3-14, SSII2009,pp. IS3-14-1 - IS3-14-6(2009.6)
  128. 淺海 徹哉, 和田 俊和, 酒井 薫, 前田 俊二,自己参照に基づくパターン欠陥検査法,パターン認識・メディア理解研究会(PRMU)pp.287-292 (2009.3)
  129. 菊池 啓, 近藤 和樹, 堀田 政二, 渋谷 久恵, 前田 俊二,未知欠陥の分類における閾値の決定に関する基礎検討,2009年 電子情報通信学会 総合大会講演論文集(2009.3)
  130. 近藤 和樹, 菊池 啓, 堀田 政二, 渋谷 久恵, 前田 俊二,未知欠陥の分類に有効な特徴量選択手法の基礎検討,2009年 電子情報通信学会 総合大会講演論文集(2009.3)
  131. 渋谷 久恵, 前田 俊二, 堀田 政二,フレキシブルナイブベイズと特徴選択による欠陥分類,ViEW2008ビジョン技術の実利用ワークショップ講演論文集, C-40, pp.204-208(2008.12)
  132. 近藤 正一, 金子 俊一, 高氏 秀則, 前田 俊二, 渋谷 久恵, 吉田 実, 中川 泰夫,局所一貫性に基づく点群照合の位置・スケール変化を含む点群への応用,精密工学会, 第13回知能メカトロニクスワークショップ(2008.9)
  133. 近藤 正一, 金子 俊一, 高氏 秀則, 前田 俊二, 渋谷 久恵, 吉田 実, 中川 泰夫,局所一貫性に基づく点群照合法,映像情報メディア学会技術報告, Vol.32, No.35(ME2008 107-138), pp.75-78 (2008.8)
  134. 中川 泰夫, 前田 俊二,外観検査の課題と進化,電気学会電子・情報・システム部門大会講演論文集(CD-ROM), Vol.2008, TC3-2(2008.8)
  135. 堀田 政二, 菊地 啓, 近藤 和樹, 渋谷 久恵, 前田 俊二,特徴選択とベイズ決定則を利用した欠陥分類,電気学会情報処理研究会資料, Vol.IP-08, No.13-25, pp.1-4(2008.7)
  136. 堀田 政二, 菊地 啓, 近藤 和樹, 渋谷 久恵, 前田 俊二,特徴選択とベイズ決定則を利用した欠陥分類,電気学会情報処理・産業システム情報化合同研究会(2008.7)
  137. 淺海 徹哉, 加藤 丈和, 和田 俊和, 酒井 薫, 前田 俊二,顕著性に基づく外観検査のための異常検出アルゴリズム,第11回画像の認識・理解シンポジウム, IS5-2, MIRU2008(2008.7)
  138. 佐野 真通, 加藤 丈和, 和田 俊和, 酒井 薫, 前田 俊二,パターンの近接性と密度推定に基づく1クラス識別器,第11回画像の認識・理解シンポジウム, IS3-6, MIRU2008(2008.7)
  139. 浦野 貴裕, 金子 俊一, 高氏 秀則, 田中 孝之, 前田 俊二, 渋谷 久恵, 吉田 実,欠陥種を考慮に入れた局所一貫性に基づく欠陥パタン照合法とその応用,電気学会情報処理研究会資料, Vol.IP-08, No.1-12, pp.39-44(2008.2)
  140. 菊地 啓, 近藤 和樹, 堀田 政二, 渋谷 久恵, 前田 俊二,多段階学習を利用したクラス不均衡な欠陥分類,View2007ビジョン技術の実利用ワークショップ講演論文集, I-28, pp. 177-182(2007.12)
  141. 近藤 和樹, 菊地 啓, 堀田 政二, 渋谷 久恵, 前田 俊二,ランダム特徴選択とアンサンブル学習を利用した欠陥分類,View2007ビジョン技術の実利用ワークショップ講演論文集, I-27(A-5H), pp.24-29(2007.12)
  142. 浦野 貴裕, 金子 俊一, 高氏 秀則, 田中 孝之, 前田 俊二, 渋谷 久恵, 吉田 実,Color LCPDに基づく欠陥点群照合法,View2007ビジョン技術の実利用ワークショップ講演論文集, I-21, pp.167-172(2007.12)
  143. 浦野 貴裕, 金子 俊一, 高氏 秀則, 田中 孝之, 前田 俊二, 渋谷 久恵, 吉田 実,局所一貫性による点群の回転照合法と欠陥パタン照合への応用,精密工学会画像応用技術専門委員会 研究会報告, Vol.22, No.1, pp.17-22(2007.7)
  144. 加藤 丈和, 野口 真身, 和田 俊和, 酒井 薫, 前田 俊二,パターンの近接性に基づく1クラス識別器,第10回画像の認識・理解シンポジウム, MIRU2007, IS-2-10,pp.762-767(2007.7)
  145. 浦野 貴裕, 金子 俊一, 高氏 秀則, 田中 孝之, 前田 俊二, 渋谷 久恵, 吉田 実,欠陥種を考慮に入れた局所整合性に基づく点群照合法,第13回画像センシングシンポジウム, IN2-02, SSII2007 (2007.6)
  146. 浦野 貴裕, 金子 俊一, 高氏 秀則, 田中 孝之, 前田 俊二, 渋谷 久恵, 吉田 実,LCPDに基づく点群位置決め法と欠陥点群照合への応用,ViEW2006ビジョン技術の実利用ワークショップ講演論文集, A-4H, pp.20-25(2006.12)
  147. 浦野 貴裕, 金子 俊一, 高氏 秀則, 田中 孝之, 前田 俊二, 渋谷 久恵, 吉田 実,LCPDによる欠陥点群照合のためのロバスト位置決め法,計測自動制御学会 第7回システムインテグレーション部門講演会, SI-SICE, pp.1332-1333(2006.12)
  148. 酒井 薫, 前田 俊二,特徴空間の再帰的分割に基づく半導体欠陥検査手法,電子情報通信学会技術研究報告, Vol.106, No.229(PRMU2006 60-76),pp.65-72 (2006.9)
  149. 浦野 貴裕, 金子 俊一, 田中 孝之, 前田 俊二, 渋谷 久恵, 吉田 実,近傍整合性の累積評価に基づく回転照合法と欠陥点群分布照合への応用,電気学会情報処理研究会, Vol.IP-06-28,IIS-06-44, No.20-25.27-28, pp.41-44(2006.8)
  150. 酒井 薫, 前田 俊二,複数パターン情報を利用した統計的はずれ値検出による微小欠陥の認識手法,電子情報通信学会技術研究報告, Vol.105, No.673(PRMU2005 233-258), pp.1-6(2006.3)
  151. 竹田 健祐, 金子 俊一, 田中 孝之, 酒井 薫, 前田 俊二, 中川 泰夫,内挿型絶対差分照合法を用いたLSIウェハ欠陥抽出,ViEW2005ビジョン技術の実利用ワークショップ講演論文集, A-5H, pp.20-25(2005.12)
  152. 酒井 薫, 前田 俊二,統計パターン比較と特徴的はずれ値検出による微小欠陥の認識手法,電子情報通信学会技術研究報告, Vol.105, No.301(PRMU2005 51-62), pp.11-16(2005.9)
  153. 竹田 健祐, 金子 俊一, 田中 孝之, 酒井 薫, 前田 俊二, 中川 泰夫,内挿型絶対差分照合に基づくロバストなサブピクセル画像照合法,映像情報メディア学会技術報告, Vol.29, No.47(ME2005 125-139), pp.31-34(2005.8)
  154. 浜松 玲, 渋谷 久恵, 西山 英利, 大 島良正, 前田 俊二 , 野口 稔,背景別統計的しきい値法を用いた半導体ウェハ検査技術,ViEW2004ビジョン技術の実利用ワークショップ講演論文集, 11, pp.1-5(2004.12)
  155. 竹田 健祐, 金子 俊一, 田中 孝之, 酒井 薫, 前田 俊二, 中川 泰夫,内挿型増分符号相関に基づくロバストなサブピクセル画像照合法,ViEW2004ビジョン技術の実利用ワークショップ講演論文集, 21, pp.16-21(2004.12)
  156. 竹田 健祐, 金子 俊一, 田中 孝之, 酒井 薫, 前田 俊二, 中川 泰夫,増分符号相関を用いたサブピクセル単位での位置照合,精密工学会北海道支部大会講演論文集, pp.41-42(2004.9)
  157. 岡部 隆史, 前田 俊二, 酒井 薫,画像位置合せの信頼性評価技術,第14回外観検査の自動化ワークショップ講演論文集, 61, pp.166-171(2002.12)
  158. 芝田 行広, 前田 俊二,光学顕微鏡における像コントラスト向上に関する検討,精密工学会大会学術講演会講演論文集, Vol.2002, 秋季, pp.558(2002.9)
  159. 酒井 薫, 前田 俊二, 岡部 隆史,複数の正規化相関マップを用いたロバストな画像マッチング,第13回外観検査の自動化ワークショップ論文集, 42, pp.65-70(2001.12)
  160. 芝田 行広, 前田 俊二,光学顕微鏡における焦点検出方式の検討,精密工学会大会学術講演会講演論文集, Vol.2001, 春季, pp.611(2001.3)
  161. 吉田 実, 前田 俊二, 岡健 次, 牧平 坦,画像解析によるスキャニングステージの高精度測定技術,精密工学会大会学術講演会講演論文集, Vol.1997, 秋季, pp.265(1997.9)
  162. 小野 眞, 前田 俊二, 窪田 仁志, 中谷 光雄,赤外線画像を用いた発熱追跡によるTFT基板ショート欠陥検出 TFT基板ショート欠陥検出技術 (1),精密工学会大会学術講演会講演論文集, Vol.1994, 春季, pp.39-40(1994.3)
  163. 前田 俊二, 小野 真, 窪田 仁志, 中谷 光雄,赤外線画像マッチングによるTFT基板の高精度ショート欠陥位置検出 TFT基板ショート欠陥検出技術 (2),精密工学会大会学術講演会講演論文集, Vol.1994, 春季, pp.41-42(1994.3)
  164. 広井 高志, 前田 俊二, 窪田 仁志, 牧平 坦,最小二乗法を用いたサブピクセルマッチング法,電子情報通信学会大会講演論文集, Vol.1993, 春季, D-89, pp.6.89(1993.3)
  165. 前田 俊二, 牧平 坦, 窪田 仁志,ストライプパターン投影コントラスト検出方式によるオートフォーカスの開発,精密工学会大会学術講演会講演論文集, Vol.1993, 春季, pp.977-978(1993.3)
  166. 前田 俊二, 窪田 仁志, 広井 高志, 牧平 坦,LSIウェーハ多層パターン自動外観検査における高精度欠陥検出アルゴリズム,電子情報通信学会大会講演論文集, Vol.1993, 春季,D-527, pp.7.288(1993.3)
  167. 窪田 仁志, 前田 俊二, 牧平 坦, 広井 高志,LSIウェーハパターン検査装置の開発 (第2報) システム構成と性能,精密工学会大会学術講演会講演論文集, Vol.1993, 春季, L09, pp.431-432(1993.3)
  168. 窪田 仁志, 前田 俊二, 広井 高志, 牧平 坦,LSIウェーハパターン検査装置の開発 (第1報) 検査原理,精密工学会大会学術講演会講演論文集, Vol.1993, 春季, L08, pp.429-430(1993.3)
  169. Shunji Maeda, Takashi Hiroi, Hiroshi Makihira, Hitoshi Kubota , Automated Visual Inspection of LSI Wafer Patterns Using a Derivative-Polarity Comparison Algorithm,  SPIE, Vol.1567 Applications of Digital Image Processing XIV, pp.100-109(1991.7)(査読なし)
  170. 前田 俊二, 窪田 仁志, 広井 高志, 牧平 坦,微分極性比較によるLSIウェーハパターン自動外観検査,電子情報通信学会全国大会講演論文集, Vol.1991, 春季, D-470, pp.7.182(1991.3)
  171. 谷口 雄三, 斎藤 幹人 , 窪田 仁志, 前田 俊二, 依田 晴夫,LSIウエーハ自動外観検査技術 (第1報) システム構成と欠陥検出性能,精密工学会大会学術講演会講演論文集, Vol.1990, 秋季, A64, pp.953-954(1990.9)
  172. 窪田 仁志, 前田 俊二, 牧平 坦, 谷口 雄三,LSI多層パターンを対象としたサブミクロン欠陥検査の研究,精密工学会関西地方定期学術講演会論文集, 221, pp.115-120(1990)
  173. 前田 俊二, 窪田 仁志, 遠藤 文昭,濃淡画像の比較検査における数値解析的しきい値設定,電子情報通信学会技術研究報告, Vol.90, No.168(IE90-29), IE90-29,pp.1-8(1990.7)
  174. 前田 俊二, 窪田 仁志,LSIウエーハパターン自動外観検査におけるしきい値最適化の試み エッジ保存グレインノイズスムージングアルゴリズム,電子情報通信学会技術研究報告, Vol.89, No.438(IE89-93),IE-89-93,pp.7-14(1990.2)
  175. 前田 俊二, 窪田 仁志, 牧平 担, 二宮 隆典, 中川 泰夫,カスケードパターンマッチングによるLSIウエハ多層パターン自動外観検査,電子情報通信学会技術研究報告, Vol.87, No.132, pp.31-38(IE87-46)(1987.7)
  176. 前田 俊二, 金田 修身,テレビ画像の色相計測,昭和58年電気関係学会東北支部連合大会,1H2(1983.8)
  177. 前田 俊二, 戸塚 範敬, 河合 信雄,テレビ画質計測方法の検討,昭和58年電気学会総合全国大会, 1190, pp.5.61(1983.4)
  178. 前田 俊二, 浅野 敏郎, 戸塚 範敬,動的p-タイル法を用いた電子部品のリード認識,第21回SICE学術講演会, 2506, pp.373(1982.7)
  179. 浅野敏郎, 前田 俊二, 川原田政幸, 有賀 誠,プログラマブル画像入力装置(PPI),昭和56年電気学会東京支部大会,330, pp.441(1981.11)
  180. 前田 俊二, 浅野 敏郎, 戸塚 範敬,電子部品のリード認識(第二報),昭和56年電気学会東京支部大会,329, pp.440(1981.11)
執筆支援 2015.1.1追加
中川泰夫、外観検査技術の進展、電気学会論文誌C、121巻、5号(2001.5)
中川泰夫、世紀末の外観検査、第11回外観検査の自動化ワークショップ、pp.89-94(1999.12)

3-2 報告書 - 解説記事

  1. 渋谷 久恵, 前田 俊二,局所部分空間法に基づく異常予兆検知技術,日立返仁会(2013.11)
  2. 酒井 薫, 前田 俊二, 岡部 隆史,散布図情報を用いたLSIウェーハ薄膜多層パターンの比較検査手法,画像ラボ, Vol.17, No.2, pp.15-19(2006.2)
  3. Kenji Watanabe, Shunji Maeda, Tomohiro Funakoshi, Yoko Miyazaki , DUV Optical Wafer Inspection System for 65-nm Technology Node, Hitachi Review, Vol.54, No.1(2005.1)
  4. 芝田 行広, 前田 俊二,外観検査技術 光学式半導体外観検査における光学技術,光技術コンタクト, Vol.42, No.11, pp.574-582(2004.11)
  5. 渡辺 健二, 船越 知弘, 前田 俊二, 宮崎 陽子,65nmノード対応高性能明視野光学式ウェーハ外観検査装置「HA-3000形」,日立評論, Vol.86, No.7, pp.477-480(2004.7)
  6. 芝 正孝, 見坊 行雄, 前田 俊二, 窪田 仁志, 平塚 信次,サブクォータミクロンデバイスに対応する半導体製造・検査システム 半導体ウェーハ外観不良検査の効果的運用,日立評論, Vol.79, No.10, pp.809-814(1997.10)
  7. 金井 務, 渡辺 健二 , 窪田 仁志, 前田 俊二, 広井 高志, 野村 敬三,超高感度LSIパターン検査装置の開発,機械振興, Vol.28, No.12, pp.68-71(1995.12)

3-3 報告書 - 招待講演・講師

  1. 前田 俊二,類似性に基づく生産設備の異常検知・風速予測・弾丸の異同識別の研究, 北海道大学情報科学研究科技術講演会(2016.9.7)
  2. 前田 俊二,工場自動化の画像処理技術, 日立総合技術研修所 第44回グローバル化に対応した新時代の生産設備・システム技術(2016.8)
  3. 前田 俊二,製造業におけるビッグデータ活用 〜時系列データから生産設備の異常を検知〜、日本産業機械工業会関西支部 環境装置部会(2016.7)
  4. 前田 俊二,工場自動化の画像処理技術, 日立総合技術研修所 第43回グローバル化に対応した新時代の生産設備・システム技術(2015.8)
  5. 前田 俊二,視て・診て・読んで、 現場を支えるビッグデータ  -スマートメンテナンスを中心に- ,広島工業大学主催 企業懇談会講演(2014.11)
  6. 前田 俊二,ビッグデータを用いた スマートメンテナンスの世界,日本鉄鋼協会 第90回設備技術部会大会(2014.6)
  7. 前田 俊二,FAの画像処理技術, 日立総合技術研修所 第42回 グローバル化に対応した新時代の生産設備・システム技術(2014.6)
  8. 前田 俊二,FAの画像処理技術, 日立総合技術研修所 第41回生産設備の基本要素と応用事例講座(2013.6)
  9. 前田 俊二,画像処理応用概論, 日立総合技術研修所 第14回画像処理の基礎と応用講座(2013.5)
  10. 前田 俊二,マシンビジョン・パタ ン認識による半導体欠陥検査・設備異常予兆検知,:北海道大学情報科学研究科システム制御情報学研究室主催技術講演会 (2012.12)
  11. 前田 俊二,半導体パターン欠陥認 識技術の動向,精密工学会中国四国支部講習会,pp1-11(2008)
  12. 前田 俊二,マシンビジョン応用研 究の歴史と最近の事例,広島県画像処理活用研究会(2008)
  13. 前田 俊二,早稲田大学 理工学部  講義「生産プロセス工学」(検査・計測)2006年11月

4 特許 総出願件数 308件(2014.10.27) 広島工大着任(2013.4.1)後7件出願

  1. 特願2016-75983 気象予測装置及び風力発電所 (2016年4月5日出願)
  2. 特願2014-264916 風力発電量の予測方法 (2014年12月26日出願)
  3. 特願2014-171436 特許第5771317異 常診断装置及び異常診断方法(2015年7月3日登録)
  4. 特願2014-171446 特許第 5771318  異常診断装置及び異常診断方法(2015年7月3日登録)
  5. 特願2014-171350 特許第5715288  動態監視装置及び動態監視方法(2015年3月20日登録)
  6. 特願2014-023667 特許第5530045  ヘルスマネージメントシステム及びヘルスマネージメント方法(2014年4月25日登録)
  7. 特願2013-227838 特許第5530020  異常診断システム及び異常診断方法 (2014年4月25日登録)
  8. 特願2013-227837 特許第5530019  異常予兆検知システム及び異常予兆検知方法(2014年4月25日登録
特許 - 合計(Shareresearch、米国特許庁検索 2014年8月25日
国内出願特許 計282件(筆頭 89件)  ほかに公開前の出願あり
国内登録特許 計153件(筆頭 53件)
米国登録特許 計157件(筆頭 27件)
特許 - 日立知的財産権本部 特許第2部調査(2013年3月19日)
国内出願特許 計282件(筆頭 89件)  ほかに公開前の出願あり
国内登録特許 計153件(筆頭 53件)
米国登録特許 計157件(筆頭 27件)
以下,内訳を記す.

4-1-1 特許 - 成立済 - 国内

  1. 前田 俊二,岡 健次,芝田 行広,吉田 実,宍戸 千絵,高木裕治,欠陥検査方法および装置,特許番号:特許4024381(2007年12月19日)
  2. 前田 俊二,吉田 敦志,芝田 行広,吉田 実,宇都 幸雄,中田 俊彦,宍戸 弘明,パターン欠陥検査方法及びその装置,特許番号:特許4009409(2007年11月14日)
  3. 前田 俊二,中山 保彦,吉田 実,岡 健次,窪田 仁志,パターンの欠陥検査方法およびその装置,特許番号:特許3976775(2007年9月19日)
  4. 前田 俊二,中山 保彦,吉田 実,岡 健次,窪田 仁志,パターンの欠陥検査方法およびその装置,特許番号:特許3936959(2007年6月27日)
  5. 前田 俊二,吉武 康裕,岡 健次,下田 篤,芝 正孝,検査データ処理方法およびその装置,特許番号:特許3920003(2007年5月30日)
  6. 前田 俊二,吉田 敦志,岡 健次,吉田 実,芝田 行広,山口 和夫,パターンの欠陥検査方法およびその装置,特許番号:特許3878340(2007年2月7日)
  7. 前田 俊二,吉田 敦志,芝田行広,吉田 実,宇都 幸雄,宍戸 弘明,中田 俊彦,パターン欠陥検査方法及びその装置,特許番号:特許3858571(2006年12月13日)
  8. 前田 俊二,中山 保彦,吉田 実,岡 健次,窪田 仁志,半導体基板の製造方法,特許番号:特許3744966(2006年2月15日)
  9. 前田 俊二,田中 麻紀,窪田 仁志,被検査パターンの検査方法及び製造プロセス診断方法並びに半導体基板の製造方法,特許番号:特許3660763(2005年6月15日)
  10. 前田 俊二,田中 麻紀,窪田 仁志,被検査パターンの検査方法および半導体製造プロセス評価方法,特許番号:特許3625236(2005年3月2日)
  11. 前田 俊二,窪田 仁志,広井 高志,牧平 坦,半導体デバイスの製造方法,特許番号:特許3472600(2003年12月2日)
  12. 前田 俊二,岡 健次,牧平 坦,中山 保彦,吉田 実,芝田行広,欠陥検査方法および装置,特許番号:特許3397101(2003年4月14日)
  13. 前田 俊二,窪田 仁志,広井 高志,吉武 康裕,牧平 坦,パターン検査方法及び装置,特許番号:特許3346032(2002年11月18日)
  14. 前田 俊二,牧平 坦,窪田 仁志,パターン欠陥検査方法およびその装置,特許番号:特許3327600(2002年9月24日)
  15. 前田 俊二,吉田 実,中山 保彦,窪田 仁志,牧平 坦,被検査パターンの欠陥検査方法及びその装置,特許番号:特許3279868(2002年4月30日)
  16. 前田 俊二,窪田 仁志,半導体デバイスの製造方法,特許番号:特許3271622(2002年4月2日)
  17. 前田 俊二,窪田 仁志,牧平 坦,広井 高志,パターン検査方法及び装置,特許番号:特許3257010(2002年2月18日)
  18. 前田 俊二,広井 高志,窪田 仁志,牧平 坦,回路パターン欠陥検査方法及びその装置,特許番号:特許3252826(2002年2月4日)
  19. 前田 俊二,小野 眞,窪田 仁志,薄膜トランジスタ液晶基板検査方法及びその装置,特許番号:特許3252451(2002年2月4日)
  20. 前田 俊二,広井 高志,牧平 坦,窪田 仁志,パターン検査方法及び装置,特許番号:特許3221861(2001年10月22日)
  21. 前田 俊二,窪田 仁志,半導体デバイスの製造方法,特許番号:特許3201396(2001年8月20日)
  22. 前田 俊二,窪田 仁志,牧平 坦,広井 高志,欠陥検査方法及び装置,特許番号:特許3189796(2001年7月16日)
  23. 前田 俊二,窪田 仁志,牧平 坦,広井 高志,パターン検査方法及び装置,特許番号:特許3163306(2001年5月8日)
  24. 前田 俊二,窪田 仁志,半導体装置の製造システム及び半導体装置の製造方法,特許番号:特許3047881(2000年6月5日)
  25. 前田 俊二,広井 高志,窪田 仁志,牧平 坦,回路パターン欠陥検出方法及びその装置,特許番号:特許2986824(1999年12月6日)
  26. 前田 俊二,広井 高志,牧平 坦,窪田 仁志,パターン検査方法及び装置,特許番号:特許2971628(1999年11月8日)
  27. 前田 俊二,窪田 仁志,牧平 坦,広井 高志,パターン検査方法及び装置,特許番号:特許2954381(1999年9月27日)
  28. 前田 俊二,窪田 仁志,牧平 坦,広井 高志,回路パターンの画像検出方法およびその装置,特許番号:特許2886278(1999年4月26日)
  29. 前田 俊二,窪田 仁志,半導体装置の製造システム及び欠陥検査方法,特許番号:特許2822937(1998年11月11日)
  30. 前田 俊二,窪田 仁志,市橋 幹雄,松井 宏信,パターン検査方法及びその装置,特許番号:特許2810216(1998年10月15日)
  31. 前田 俊二,窪田 仁志,牧平 坦,多層パターン欠陥検出方法及びその装置,特許番号:特公平7-74787(1995年8月9日)
  32. 前田 俊二,窪田 仁志,欠け検査装置,特許番号:特公平7-43325(1995年5月15日)
  33. 前田 俊二,窪田 仁志,二宮 隆典,牧平 坦,中川 泰夫,パターン欠陥検出装置,特許番号:特公平6-74972(1994年9月21日)
  34. 前田 俊二,牧平 坦,窪田 仁志,半導体ウェハ上の被検査パターンの欠陥検査方法およびその装置,特許番号:特公平6-58215(1994年8月3日)
  35. 前田 俊二,二宮 隆典,中川 泰夫,窪田 仁志,多層パターン欠陥検出方法及びその装置,特許番号:特公平6-56294(1994年7月27日)
  36. 前田 俊二,窪田 仁志,伏見 智,牧平 坦,中川 泰夫,パターン欠陥検出方法およびその装置,特許番号:特公平6-24215(1994年3月30日)
  37. 前田 俊二,窪田 仁志,伏見 智,中川 泰夫,被検査チップの回路パターン外観検査方法並びにその装置,特許番号:特公平6-24214(1994年3月30日)
  38. 前田 俊二,窪田 仁志,牧平 坦,伏見 智,パターン欠陥検出方法及びその装置,特許番号:特公平6-17778(1994年3月9日)
  39. 前田 俊二,牧平 坦,窪田 仁志,自動焦点合わせ方法,特許番号:特公平6-10696(1994年2月9日)
  40. 前田 俊二,牧平 坦,窪田 仁志,自動焦点合せ方法及び装置,特許番号:特公平6-10694(1994年2月9日)
  41. 前田 俊二,小泉 光義,異物検査装置,特許番号:特公平4-58622(1992年9月18日)
  42. 前田 俊二,金田 修身,カラーテレビジヨン受像機の彩度検査方法および装置,特許番号:特公平4-49835(1992年8月12日)
  43. 前田 俊二,白色むら検査装置,特 許番号:特公平4-49834(1992年8月12日)
  44. 前田 俊二,小泉 光義,多層回路パターン検査装置,特許番号:特公平3-29177(1991年4月23日)
  45. 前田 俊二,浅野 敏郎,円形端面の位置検出装置,特許番号:特公平1-55630(1989年11月27日)
  46. ほか.
    国内登録特許 計117件(筆頭上記 45件)

4-1-2 特許 - 成立済 - 米国

  1. Shunji Maeda et al., Defect inspection method and apparatus, US8107717B2( 2012/1/31)
  2. Shunji Maeda et al., Fault inspection method, US8103087B(2012/1/24)
  3. Shunji Maeda et al., Defect inspection method and apparatus, US7916929B2(2011/3/29)
  4. Shunji Maeda et al., Defect inspection method and apparatusUS7512259B2(2009/3/31)
  5. Shunji Maeda et al., Manufacturing method of semiconductor substrate and method and apparatus for inspecting defects of patterns of an object to be inspected, US7460220B2(2008/12/2)
  6. Shunji Maeda et al., Defect inspection method and apparatus, US7274813B2(2007/9/25)
  7. Shunji Maeda et al., Defect inspection method and apparatus therefor, US7251024B2(2007/7/31)
  8. Shunji Maeda et al., Manufacturing method of semiconductor substrate and method and apparatus for inspecting defects of patterns of an object to be inspected, US7180584B2(2007/2/20)
  9. Shunji Maeda et al., Manufacturing method of semiconductor substrate and method and apparatus for inspecting defects of patterns on an object to be inspected, US7061600B2(2006/6/13)
  10. Shunji Maeda et al., Defect inspection method and apparatus, US6947587B1(2005/9/20)
  11. Shunji Maeda et al., Defect inspection method and apparatus therefor, US6819416B2(2004/11/16)
  12. Shunji Maeda et al., Defect inspection method and apparatus therefor, US6674890B2(2004/1/6)
  13. Shunji Maeda et al., Method and apparatus for inspecting defects in a patterned specimen, US6621571B1(2003/9/16)
  14. Shunji Maeda et al., Defect inspection method and apparatus therefor, US6556290B2(2003/4/29)
  15. Shunji Maeda et al., Method and apparatus for processing inspection data, US6456951B1(2002/9/24)
  16. Shunji Maeda et al., Manufacturing method of semiconductor substrate and method and apparatus for inspecting defects of patterns on an object to be inspected, US6404498B1(2002/6/11)
  17. Shunji Maeda et al., Pattern checking method and checking apparatus, US6317512B1(2001/11/13)
  18. Shunji Maeda et al., Manufacturing method of semiconductor substrate and method and apparatus for inspecting defects of patterns of an object to be inspected, US6263099B1(2001/7/17)
  19. Shunji Maeda et al., Defect inspection method and apparatus therefor, US6169282B1(2001/1/2)
  20. Shunji Maeda et al., Manufacturing method of semiconductor substrative and method and apparatus for inspecting defects of patterns on an object to be inspected, US5774222(1998/6/30)
  21. Shunji Maeda et al., Pattern checking method and checking apparatus, US5649022(1997/7/15)
  22. Shunji Maeda et al., Method of inspecting thin film transistor liquid crystal substrate and apparatus therefor, US5309108(1994/5/3)
  23. Shunji Maeda et al., Chipping detection system and method, US5157735(1992/10/20)
  24. Shunji Maeda et al., Method and apparatus for detecting patterns, US5153444(1992/10/6)
  25. Shunji Maeda et al., Defect detection system and method for pattern to be inspected utilizing multiple-focus image signals, US5038048(1991/8/6)
  26. Shunji Maeda et al., Method of and apparatus for checking geometry of multi-layer patterns for IC structures, US4791586(1988/12/13)
  27. Shunji Maeda et al., Automatic focusing method and apparatus utilizing contrasts of projected pattern, US4725722(1988/2/16)
  28. ほか.
    米国登録特許 計 125件(筆頭上記 27件)

4-2 特許 - 出願中(公開)

  1. 前田 俊二,渋谷 久恵,発電量予測方法及びそのシステム並びに風力発電設備の健康管理方法及びそのシステム, 公開番号:特開2013—222423(2013年10月28日)
  2. 前田 俊二,渋谷 久恵,異常検知方法及び異常検知システム, 公開番号:特開2013-218725(2013年10月24日)
  3. 前田 俊二,弾丸の異同識別方法及びその装置, 公開番号:特開2013-210690(2013年10月10日)
  4. 前田 俊二,渋谷 久恵,プラント又は設備の異常診断方法及びヘルスマネージメント方法, 公開番号:特開2013-152655(2013年8月8日)
  5. 前田 俊二,渋谷 久恵,異常検知・診断方法、および異常検知・診断システム, 公開番号:特開2013-41448(2013年2月28日)
  6. 前田 俊二,渋谷 久恵,異常検知方法及びシステム, 公開番号:特開2012-230703(2012年11月22日)
  7. 前田 俊二,渋谷 久恵,真柄 博幸,異常検知・診断方法,異常検知・診断システム,及び異常検知・診断プログラム並びに企業資産管理・設備資産管理システム,公開番号:特開2012- 137934(2012年7月19日)
  8. 前田 俊二,渋谷 久恵,異常検知方法及びそのシステム,公開番号:特開2012-58890(2012年3月22日)
  9. 前田 俊二,渋谷 久恵,真柄 博幸,異常検知・診断方法,異常検知・診断システム,及び異常検知・診断プログラム,公開番号:特開2011-227706(2011年11月10日)
  10. 前田 俊二,渋谷 久恵,異常検知方法,異常検知システム,及び異常検知プログラム,公開番号:特開2011-145846(2011年7月28日)
  11. 前田 俊二,渋谷 久恵,異常検知・診断方法,異常検知・診断システム,及び異常検知・診断プログラム,公開番号:特開2011-059790(2011年3月24日)
  12. 前田 俊二,酒井 薫,浦野 雄太,欠陥検出方法及び装置,公開番号:特開2011-007553(2011年1月13日)
  13. 前田 俊二,渋谷 久恵,異常検知方法及び異常検知システム,公開番号:特開2010-191556(2010年9月2日)
  14. 前田 俊二,酒井 薫 , 西山 英利,欠陥検査方法及びその装置,公開番号:特開2010-151655(2010年7月8日)
  15. 前田 俊二,渋谷 久恵,異常検知方法及びシステム,公開番号:特開2010-092355(2010年4月22日)
  16. 前田 俊二,酒井 薫,欠陥検査方法,公開番号:特開2007-192688(2007年8月2日)
  17. 前田 俊二,中山 保彦,吉田 実,岡 健次,窪田 仁志,パターンの欠陥検査方法およびその装置,公開番号:特開2006-227016(2006年8月31日)
  18. 前田 俊二,中山 保彦,吉田 実,岡 健次,窪田 仁志,パターンの欠陥検査方法およびその装置,公開番号:特開2006-171014(2006年6月29日)
  19. 前田 俊二,中山 保彦,吉田 実,岡 健次,窪田 仁志,被検査対象物上のパターンの欠陥検査方法及びその装置,公開番号:特開2005-003689(2005年1月6日)
  20. 前田 俊二,酒井 薫,岡部 隆史,欠陥検査方法,公開番号:特開2003-271927(2003年9月26日)
  21. 前田 俊二,パターン欠陥検査方 法,公開番号:特開2002-168799(2002年6月14日)
  22. 前田 俊二,吉田 敦志,芝田 行広,田 実,宇都 幸雄,宍戸 弘明,中田 俊彦,パターン欠陥検査方法及びその装置,公開番号:特開2002-039960(2002年2月6日)
  23. 前田 俊二,窪田 仁志,半導体デバイスの製造方法,公開番号:特開2001-313324(2001年11月9日)
  24. 前田 俊二,吉武 康裕,岡 健次,下田 篤,芝 正孝,検査データ処理方法およびその装置,公開番号:特開2001-305073(2001年10月31日)
  25. 前田 俊二,吉田 敦志,芝田 行広,吉田 実,宇都 幸雄,中田 俊彦,宍戸 弘明,パターン欠陥検査方法及びその装置,公開番号:特開2001-194323(2001年7月19日)
  26. 前田 俊二,吉武 康裕,岡 健次,検査データ処理方法および検査データ処理装置,公開番号:特開2000-306964(2000年11月2日)
  27. 前田 俊二,窪田 仁志,被処理基板の検査方法及びその装置,公開番号:特開2000-155842(2000年6月6日)
  28. 前田 俊二,吉田 敦志,岡 健次,吉田 実,芝田 行広,山口 和夫,パターンの欠陥検査方法およびその装置,公開番号:特開2000-097869(2000年4月7日)
  29. 前田 俊二,広井 高志,牧平 坦,窪田 仁志,パタ―ン検査方法及び装置,公開番号:特開2000-002665(2000年1月7日)
  30. 前田 俊二,広井 高志,窪田 仁志,牧平 坦,回路パタ―ン欠陥検査方法及びその装置,公開番号:特開平11-340292(1999年12月10日)
  31. 前田 俊二,岡 健次,芝田 行広,吉田 実,宍戸 千絵,高木 裕二,欠陥検査方法および装置,公開番号:特開平11-304718(1999年11月5日)
  32. 前田 俊二,窪田 仁志,牧平 坦,広井 高志,欠陥検査方法及び装置,公開番号:特開平11-142346(1999年5月28日)
  33. 前田 俊二,岡 健次,牧平 坦,中山 保彦,吉田 実,芝田 行広,宍戸 千絵,欠陥検査方法および装置,公開番号:特開平11-132959(1999年5月21日)
  34. 前田 俊二,窪田 仁志,半導体装置の製造システム及び欠陥検査方法,公開番号:特開平10-185535(1998年7月14日)
  35. 前田 俊二,田中 麻紀,窪田 仁志,被検査パターンの検査方法及び製造プロセス診断方法並びに半導体基板の製造方法,公開番号:特開平10-074812(1998年3月17日)
  36. 前田 俊二,田中 麻紀,窪田 仁志,被検査パターンの欠陥検査方法およびその方法を用いた半導体製造プロセス評価方法並びに複数画像の位置合わせ方法,公開番号:特開平09- 203621(1997年8月5日)
  37. 前田 俊二,吉田 実,中山 保彦,窪田 仁志,岡 健次,牧平 坦,被検査パターンの欠陥検査方法及びその装置,公開番号:特開平08-320294(1996年12月3日)
  38. 前田 俊二,中山 保彦,吉田 実,岡 健次,窪田 仁志,半導体基板の製造方法並びに被検査対象物上のパターンの欠陥検査方法及びその装置,公開番号:特開平08-162511(1996年6月21日)
  39. 前田 俊二,窪田 仁志,半導体装置の製造システム及び製造方法,公開番号:特開平08-068618(1996年3月12日)
  40. 前田 俊二,窪田 仁志,広井 高志,吉武 康裕,牧平 坦,パターン検査装置及び方法,公開番号:特開平07-318326(1995年12月8日)
  41. 前田 俊二,窪田 仁志,広井 高志,牧平 坦,半導体製造方法及び製造ライン,公開番号:特開平07-066255(1995年3月10日)
  42. 前田 俊二,窪田 仁志,牧平 坦,広井 高志,回路パターン欠陥検出装置およびその方法並びにイメージセンサ,公開番号:特開平06-241744(1994年9月2日)
  43. 前田 俊二,牧平 坦,窪田 仁志,パターン比較検査方法とその装置,公開番号:特開平06-174652(1994年6月24日)
  44. 前田 俊二,小野 眞,窪田 仁志,薄膜トランジスタ液晶基板検査方法及びその装置,公開番号:特開平06-051011(1994年2月25日)
  45. 前田 俊二,小野 眞,窪田 仁志,赤外線検出装置,公開番号:特開平05-296825(1993年11月12日)
  46. 前田 俊二,窪田 仁志,牧平 坦,広井 高志,パターン検査方法及び装置,公開番号:特開平05-264463(1993年10月12日)
  47. 前田 俊二,窪田 仁志,牧平 坦,広井 高志,画像処理方法,公開番号:特開平05-242253(1993年9月21日)
  48. 前田 俊二,窪田 仁志,牧平 坦,広井 高志,パターン検査方法及び装置,公開番号:特開平05-182887(1993年7月23日)
  49. 前田 俊二,広井 高志,牧平 坦,窪田 仁志,パターン検査方法及び装置,公開番号:特開平05-006928(1993年1月14日)
  50. 前田 俊二,窪田 仁志,牧平 坦,広井 高志,パターン検査方法及び装置,公開番号:特開平04-348260(1992年12月3日)
  51. 前田 俊二,窪田 仁志,牧平 担,広井 高志,回路パターンの画像検出方法およびその装置,公開番号:特開平04-061142(1992年2月27 日)
  52. 前田 俊二,窪田 仁志,市橋 幹雄,松井 宏信,パターン検査方法及びその装置,公開番号:特開平04-051441(1992年2月19日)
  53. 前田 俊二,広井 高志,窪田 仁 志,牧平 坦,回路パターン欠陥検出方法及びその装置,公開番号:特開平03-209843(1991年9月12日)
  54. 前田 俊二,窪田 仁志,被検査対象パターンの欠陥検出方法及びその装置,公開番号:特開平02-170279(1990年7月2日)
  55. 前田 俊二,窪田 仁志,欠け検査装置および方法,公開番号:特開平02-073110(1990年3月13日)
  56. 前田 俊二,窪田 仁志,欠け検査装置,公開番号:特開平01-134722(1989年5月26日)
  57. 前田 俊二,窪田 仁志,牧平  坦,多層パターン欠陥検出方法及びその装置,公開番号:特開平01-057634(1989年3月3日)
  58. 前田 俊二,二宮 隆典,窪田 仁志,中川 泰夫,スルーホール検査装置,公開番号:特開昭63-191948(1988年8月9日)
  59. 前田 俊二,牧平 坦,窪田 仁志,中川 泰夫,パターン欠陥検査方法,公開番号:特開昭63-111586(1988年5月16日)
  60. 前田 俊二,窪田 仁志,二宮 隆典,牧平 坦,中川 泰夫,パターン欠陥検出装置,公開番号:特開昭62-267649(1987年11月20日)
  61. 前田 俊二,牧平 坦,窪田 仁志,自動焦点合わせ方法,公開番号:特開昭62-083712(1987年4月17日)
  62. 前田 俊二,牧平 坦,窪田 仁志,半導体ウエハ上の被検査パターンの欠陥検査方法およびその装置,公開番号:特開昭62-043505(1987年2月 25日)
  63. 前田 俊二,牧平 坦,窪田 仁志,自動焦点合せ方法及び装置,公開番号:特開昭61-235808(1986年10月21日)
  64. 前田 俊二,二宮 隆典,中川 泰夫,窪田 仁志,多層パターン欠陥検出方法及びその装置,公開番号:特開昭61-212708(1986年9月20日)
  65. 前田 俊二,窪田 仁志,伏見 智,牧平 坦,中川 泰夫,パターン2値化方法とその装置,公開番号:特開昭61-189406(1986年8月23日)
  66. 前田 俊二,窪田 仁志,牧平 坦,伏見 智,パターン欠陥検出方法及びその装置,公開番号:特開昭61-151410(1986年7月10日)
  67. 前田 俊二,窪田 仁志,伏見 智,牧平 坦,中川 泰夫,パターン欠陥検出方法およびその装置,公開番号:特開昭61-085835(1986年5月1 日)
  68. 前田 俊二,窪田 仁志,伏見 智,中川 泰夫,被検査チツプの回路パターン外観検査方法並びにその装置,公開番号:特開昭61-065444(1986 年4月4日)
  69. 前田 俊二,小泉 光義,異物検査装置,公開番号:特開昭60-218845(1985年11月1日)
  70. 前田 俊二,金田 修身,カラーテレビジヨン受像機の彩度検査方法および装置,公開番号:特開昭60-196095(1985年10月4日)
  71. 前田 俊二,金田 修身,自動焦点調節方法および装置,公開番号:特開昭60-148293(1985年8月5日)
  72. 前田 俊二,小泉 光義,多層回路パターン検査装置,公開番号:特開昭60-124833(1985年7月3日)
  73. 前田 俊二,カラーテレビジヨン受像管の色計測方法および装置,公開番号:特開昭60-117889(1985年6月25日)
  74. 前田 俊二,白色むら検査装置,公開番号:特開昭60-109392(1985年6月14日)
  75. 前田 俊二,画像蓄積装置,公開番号:特開昭59-219072(1984年12月10日)
  76. 前田 俊二,自動焦点合せ方法,公開番号:特開昭59-218410(1984年12月8日)
  77. 前田 俊二,カラーブラウン管の白色むら検査装置,公開番号:特開昭59-075766(1984年4月28日)
  78. 前田 俊二,有賀 誠,松山 幸 雄,画質検査方法,公開番号:特開昭58-222668(1983年12月24日)
  79. 前田 俊二,円形物体認識方法,公 開番号:特開昭58-16107(1983年9月24日)
  80. 前田 俊二,輪郭検出回路,公開番 号:特開昭58-159187(1983年9月21日)
  81. 前田 俊二,浅野 敏郎,円形端面 の位置検出装置,公開番号:特開昭58-129888(1983年8月3日)
  82. 前田 俊二,画像処理パラメータ同 定装置,公開番号:特開昭58-72269(1983年4月30日)
  83. 前田 俊二,渋谷 久恵,真柄 博 幸,異常検知・診断方法,異常検知・診断システム,及び異常検知・診断プログラム,公報番号: WO2011/132524(2011年10月27日)
  84. 前田 俊二,渋谷 久恵,異常検知 方法及び異常検知システム,公報番号:WO2011/086805(2011年7月21日)
  85. 前田 俊二,渋谷 久恵,異常検 知・診断方法,異常検知・診断システム,及び異常検知・診断プログラム,公報番号:WO2011/027607(2011 年3月10日)
  86. 前田 俊二,渋谷 久恵,異常検知 方法及び異常検知システム,公報番号:WO2010/095314(2010年8月26日)
  87. 前田 俊二,酒井 薫 , 西山 英利,欠陥検査方法及びその装置,公報番号:WO2010/073453(2010年7月1日)
  88. 前田 俊二,渋谷 久恵,異常検知 方法及びシステム,公報番号:WO2010/041355(2010年4月15日)
  89. 前田 俊二,照明装置,公開番号: 実開昭58-470(1983年1月5日)
  90. ほか.
    国内公開特許 計281件(筆頭上記 89件.登録特許は含まず)

5 受賞歴 - 社外

  1. 平成28年 電気学会 電子・情報・システム部門大会にて、松尾浩司(B4)が「PS5-8 刃物の威力評価手法の検討」により,優秀ポスター賞を受賞(2016.8.31)
  2. 平成27年 論文「画像解析に基づく線条痕の特徴強調 と局所照合による発射弾丸の異同識別」により,精密工学会論文賞を受賞(2015)
  3. 平成25年 論文「部分空間法に基づく残差ベクトル軌 跡による異常検知手法の検討」により,精密工学会髙城賞を受賞(2013)
  4. 平成19年 発表「欠陥種を考慮に入れた局所整合性に基づく点群照合法」により,画像センシングシンポジウムSSII07「オーディエンス賞」を受賞(2007)
  5. 平成18年 特許「TFT液晶基板の検査・修正方法」により,(社)発明協会「平成18年度関東地方発明表彰 発明奨励賞」を受賞(2006)
  6. 平成9年 特許「半導体回路パターン欠陥検出方法」により,(社)発明協会「平成9年度関東地方発明表彰 発明奨励賞」を受賞 (1997)
  7. 平成7年 「超高感度LSIパターン検査装置の開発」により,「第30回機械振興協会賞」を受賞(1995)
6 教育上の功績
北海道大学 大学院 情報科学研究科 「システム展開情報学特論」平成22年4月〜25年3月
教育ネットワーク中国 高大連携事業 公開講座「集積回路のしくみ(集積回路を用いたセンシングと産業応用)」平成28年8月5日
広島工業大学公開講座「ビッグデータを用いたスマートメンテナンスの世界」平成26年6月7日
日立製作所 技術研修所 客員講師 「生産設備の基本要素と応用事例」内の「FAの画像処理技術」を担当.平成10年以降 平成27年現在まで継続
日立製作所 技術研修所 客員講師 「画像処理の基礎と応用」を担当.平成18年〜平成29年(継続中)
7 学協会活動歴
日本法科学技術学会 第9期評議員(平成29年11月~32年11月)
精密工学会論文4賞審査委員(平成28年10月~29年1月)
科学警察研究所 研究開発機関評価委員会委員(平成27年10月~28年1月)
精密工学会論文4賞選考委員(平成27年10月~28年1月)
電子情報通信学会 中国支部運営委員(平成27年6月~平成29年4月)
動的画像処理実利用化ワークショップ DIA2015 実行委員会副委員長
精密工学会校閲協力委員(平成21年4月~)
ViEW(VisionEngineering Workshop) 実行委員(平成19年4月~平成25年3月)
精密工学会校閲協力委員(平成21年4月~)
FCV(Korea-Japan Joint Workshop onFrontiers of Computer Vision) 2010,2012  Scientific Committee Member
8-1 外部資金 - 科研費
風力発電安定化のための数時間先局所風況予測手法の研究 (研究代表者)
研究期間:2014年4月1日~2017年3月31日
事例に基づく予兆検出(連携研究者)
研究期間:2012年4月1日~2016年3月31日
8-2 外部資金 - 関連研究(10件)
プラント運転データ解析の研究
プラントの異常検知の研究
機械学習による回路基板検査の研究
太陽光と風力のハイブリット発電の研究
刃物の威力評価に関する研究
設備のパフォーマンスモニタの研究
発射弾丸の異同識別の研究
風力発電のための風況予測の研究1,2,3
自動判定画像処理の研究
設備性能および余寿命予測の研究
8-3 外部資金 - 奨学寄附金
4件