知能情報工学研究室

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研究者情報

項目: 学歴; 職歴; 賞; 査読付き論文; 著書; 報告書; 特許; 受賞歴; 教育上の功績; 学協会活動歴; 外部資金

前田俊二教授

研究者情報: 所属
研究室

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所属学会

その他; 広島工業大学　工学部　電子情報工学科
知能情報工学研究室　新1号館706,701,702705
〒731-5193 広島市佐伯区三宅2-1-1
(082) 921-4255
s.maeda.ep(at)cc.it-hiroshima.ac.jp
電子情報通信学会，精密工学会，映像メディア学会
日本法科学技術学会，電気学会，IEEE
日立社友

学歴: 昭和49年 3月31日　岡山県立岡山大安寺高等学校卒業(9期生); 昭和53年 3月31日　神戸大学工学部電子工学科卒業(6期生); 昭和55年 3月31日　神戸大学大学院工学研究科電気工学専攻修了; 平成16年 2月29日　東京工業大学博士(工学)「半導体回路パターンの欠陥認識技術に関する研究」

職歴: 昭和55年　4月1日　(株)日立製作所　生産技術研究所配属; 平成6年　8月21日　同社生産技術研究所第三部　主任研究員; 平成11年　4月1日　同社生産技術研究所検査システム部室長; 平成17年　 6月1日　同社生産技術研究所参事; 平成17年　10月1日　同社生産技術研究所主管研究員兼室長; 平成18年　10月1日　同社生産技術研究所主管研究員; 平成22年　4月1日北海道大学大学院情報科学研究科　客員教授; 平成23年　4月1日　同社横浜研究所主管研究員; 平成25年　3月31日　同社退社; 平成25年　4月1日　広島工業大学工学部電子情報工学科教授

賞

令和3年度電気・情報関連学会中国支部連合大会にて、中村雅美さん(M2)が「サンプリングと外れ値検出を用いた異常検知」により、電気学会中国支部奨励賞を受賞(2022.1.13連絡)
令和3年度電気・情報関連学会中国支部連合大会にて、安食拓哉君(M2)が「KLDの双対性を用いた異常検知手法」により、電気学会中国支部奨励賞を受賞(2022.1.13連絡)
令和3年度電気・情報関連学会中国支部連合大会にて、安食拓哉君(M2)が「KLDの双対性を用いた異常検知手法」により、電子情報通信学会中国支部連合大会奨励賞を受賞
令和2年度（第73回）電気・情報関係学会九州支部連合大会にて、松林幹大君（M2)が「オスカー式研磨機における光学レンズの面精度に及ぼす研磨条件の影響について」により「優秀論文発表賞B賞」を受賞
令和元年特許「高速局所部分空間法による異常検知方法」により，(社)発明協会「令和元年度関東地方発明表彰発明奨励賞」を受賞(2019)
平成30年度電気学会次世代産業システム研究会にて、稲田淳志君(B3)が「レンズ研磨加工の定量化を目的とした加工条件の検討」により、電気学会優秀論文発表賞受賞(2019.3.1)
平成30年度電気・情報関連学会中国支部連合大会にて、松林幹大(B4)が「ごみ焼却炉における数理モデルを用いた位相遅れの測定」により、電子情報通信学会中国支部奨励賞、電気学会中国支部奨励賞を受賞(2019.03.01)
平成29年度電気・情報関連学会中国支部連合大会にて、橋本将弥君(B4)が「HOG特徴量の部分空間への射影による欠陥特性評価」により、電子情報通信学会中国支部奨励賞、電気学会中国支部奨励賞を受賞(2018.3.2)
平成28年電気学会電子・情報・システム部門大会にて、松尾浩司(B4)が「PS5-8 刃物の威力評価手法の検討」により，優秀ポスター賞を受賞(2016.8.31)
平成27年論文「画像解析に基づく線条痕の特徴強調と局所照合による発射弾丸の異同識別」により，精密工学会論文賞を受賞(2015)
平成25年論文「部分空間法に基づく残差ベクトル軌跡による異常検知手法の検討」により、精密工学会髙城賞を受賞(2013)
平成19年発表「欠陥種を考慮に入れた局所整合性に基づく点群照合法」により、画像センシングシンポジウム SSII07「オーディエンス賞」を受賞(2007)
平成18年特許「TFT液晶基板の検査・修正方法」により、(社)発明協会「平成18年度関東地方発明表彰発明奨励賞」を受賞(2006)
平成９年　特許「半導体回路パターン欠陥検出方法」により、(社)発明協会「平成9年度関東地方発明表彰発明奨励賞」を受賞 (1997)
平成７年　「超高感度ＬＳＩパターン検査装置の開発」により、「第30回機械振興協会賞」を受賞(1995)
平成21年「日立実績発明者トップ100」を受賞(2009)。日立在籍中に社長技術賞、研開技術賞、戦略特許賞ほか41件の社内表彰を受賞。また、平成26年に(株)日立パワーソリューションズから知的財産権賞を受賞。計42件

文献　1-1　査読付き論文

山下智泰, 竹本和輝, 前田俊二, 坪井裕明, 池田竜二, 光学レンズの研磨条件に対する機械学習に基づく数値データ分析 , 電気学会論文誌C, Vol.142,No.7,pp. 737- 745(2022.7)
森山健, 前田俊二, 鈴木忠志, センサデータに基づく設備の異常検知及びその原因特定, 電気学会論文誌C, Vol. 139, No. 12(2019.12),pp.1517-1526
柳部正樹, 大井健太郎, 田中智裕, 西村晃紀, 前田俊二, 電子部品検査における欠陥検査感度制御のためのDeep Convolutional Auto-encoderを用いた学習画像生成の検討, 精密工学会誌, Vol.85, No.8, pp.733-740(2019.8）
谷岡知美, 山内将行, 升井義博, 谷口哲至, 荒木智行, 豊田宏, 小池正記, 今本正夫, 前田俊二, 尾崎徹, 田中武, 早期に研究に着手した学生のその後と他への波及効果, 電気学会論文誌, Vol.139, No.11, pp.469-477(2019.11)
西村晃紀, 柳部正樹, 長谷智紘, 森山　健, 前田俊二, 電子部品検査におけるHOG特徴量の局在性に着目した次元削減による欠陥識別性能向上に関する提案, 精密工学会誌、Vol.85, No.5, pp.469-476(2019.5)
長谷智紘, 森山健, 西村晃紀, 前田俊二,ニューラルネットワークによる多地点時系列データを用いた風速予測におけるVARによるデータ選択の検討, 精密工学会誌Vol.84, No.10, pp.868-875 (2018.10)
Masayuki Yamauchi, Tomomi Tanioka, Yoshihiro Masui, Tomoyuki Araki, Tetsuji Taniguchi, Hiroshi Toyota, Masaki Koike, Shunji Maeda, Toru Ozaki, Takeshi Tanaka, Early education and its effect on students who desire to research their own topics before joining laboratories, IEEJ Transactions on Electrical and Electronic Engineering, Volume 13, Issue 8, pp.1092–1098(2018.8)
西村晃紀，柳部正樹，橋本将弥，荒木智行，長谷智紘，森山　健，前田俊二，ヒストグラムベースの局所特徴量を用いた電子部品の外観検査手法の提案, 精密工学会誌, Vol.84, No.7, pp.664-670(2018.7)
森山健，西村晃紀，長谷智紘，前田俊二，排ガス影響分析のためのセンサ共通周波数に基づく予測誤差分散分解を用いた因果関係分析手法, 精密工学会誌, Vol.84, No.5, pp.454-462(2018.5)
湯山藍美，山先純也，水野太介，長谷智紘，森山健，西村晃紀，前田俊二，高橋雅也，田中和英，星平祐吾，サポートベクトル回帰による多地点時系列データを用いた風速予測におけるk-NNとVARによる学習データ選択の検討, 精密工学会誌, Vol.83, No.10, pp.941-948(2017.10)
西村晃紀，前田俊二，荒木智行，金子俊一，渋谷久恵，仁戸部勤，安野拓也，飯塚正美，中山透，Histogram Intersectionを用いた弾丸固有の線条痕の絞込み手法の提案, 精密工学会誌, Vol.83, No.8, pp.781-788(2017.8)
荒木智行，鈴木貴，大橋由侑，前田俊二，ファジィ論理文に基づくファジィエントロピー，バイオメディカル・ファジィ・システム学会誌，Vol.19, No.1, pp.73-80(2017.6)
藤井周，前田俊二，荒木智行，仁戸部勤，金子俊一，渋谷久恵，安野拓也，飯塚正美，中山透，弾丸異同識別のための線条痕の重み付けと位置を保存したHistogram Intersectionによる類似性評価手法の提案精密工学会誌, Vol.82, No.7, pp.672-678(2016.7)
升井義博, 谷岡知美, 谷口哲至, 山内将行, 荒木智行, 豊田宏, 小池正記, 前田俊二, 尾崎徹, 浅野敏郎, 田中武，工学教育におけるアクティブラーニング電子情報工学科の基礎科目における実践報告，電気学会論文誌. A, 136(10), 657-662(2016.10)
渋谷久恵, 前田俊二，二次元分布密度に基づく設備の異常関連センサ特定技術，電気学会論文誌Ｃ(電子・情報・システム部門誌), Vol. 135, No. 6, pp.611-618(2015.6)
米田圭吾, 金子俊一, 渋谷久恵, 前田俊二, 仁戸部勤, 飯塚正美,中山透, 画像解析に基づく線条痕の特徴強調と局所照合による発射弾丸の異同識別, 精密工学会誌,Vol.80,No.12,pp.1182-1188(2014.12)
渋谷久恵, 前田俊二，高速局所部分空間法による異常検知技術，電気学会論文誌Ｃ, Vol.134, No.5 pp.643-650(2014.5)
和田俊和, 尾崎晋作, 前田俊二, 渋谷久恵，Gaussian Process Regressionに基づく時系列データの異常モニタリング，電子情報通信学会論文誌, Vol.J96-D, No.12, pp.3068-3078 (2013.12)
近藤正一, 金子俊一, 高氏秀則, 前田俊二, 渋谷久恵，ロバストかつ高い収束性能を持つ二次元点群照合アルゴリズム，精密工学会誌, Vol.79, no.11, pp.1130-1135 (2013.11)
近藤孝洋, 髙木勇治, 前田俊二, 浅野敏郎, 視覚特性を考慮した電子ディスプレイの色むら定量評価, 精密工学会誌，Vol.79, no.11, pp.1096-1101 (2013.11)
渋谷久恵, 前田俊二，運転パターン情報を利用した異常検知技術，電気学会論文誌Ｃ(電子・情報・システム部門誌), Vol. 133,No. 10, pp.1998-2006 (2013.10)
渋谷久恵, 前田俊二，決定木を利用したルール設定支援機能を備えた設備監視システム，電気学会論文誌Ｃ(電子・情報・システム部門誌), Vol. 133,No. 9, pp.1845-1852 (2013.9)
前田俊二, 丸山重信, 飯塚正美, 仁戸部勉, 中山透，線条痕顕在化と画像分割照合による発射弾丸の異同識別方式の検討，精密工学会誌，Vol.79, no.5, pp.423-429 (2013.5)
前田俊二, 浦野貴裕, 酒井薫，背景別しきい値設定によるDie-to-Golden比較と画像内自己参照比較に基づく高感度ハイブリッド欠陥検査，精密工学会誌，Vol.79, no.4, pp.325-331 (2013.4)
浦野貴裕, 酒井薫, 前田俊二, 佐藤真一，対話的教示欠陥選択に基づく効率的な実欠陥・虚報弁別技術，電子情報通信学会論文誌, , Vol.J96-D, No.1, pp.221-229 (2013.1)
前田俊二, 渋谷久恵，部分空間法に基づく残差ベクトル軌跡による異常検知手法の検討，精密工学会誌, Vol.78, No.12,pp.1087-1092(2012.12)
浦野貴裕, 金子俊一, 高氏秀則, 田中孝之, 前田俊二, 渋谷久恵, 吉田実，欠陥種を考慮に入れた局所一貫性に基づく欠陥パタン照合法，電気学会論文誌 C, 電子・情報・システム部門誌, Vol.129, No.5, pp.778-785(2009.5)
近藤和樹, 菊地啓, 堀田政二, 渋谷久恵, 前田俊二，ランダムな特徴選択とバギングを利用した欠陥分類，画像電子学会誌, Vol.38, no.1, pp.9-15(2009.1)
浦野貴裕, 金子俊一, 高氏秀則, 田中孝之, 前田俊二, 渋谷久恵, 吉田実，局所一貫性による点群の回転照合法と欠陥パターン照合への応用，電子情報通信学会論文誌, Vol.J90-D, No.10, pp.2798-2806(2007.10)
前田俊二, 酒井薫, 芝田行広, 岡部隆史, 窪田仁志，照明条件制御下における相関マップ統合型画像マッチング方法，精密工学会誌, Vol.73, No.9, pp.1051-1056(2007.9)
前田俊二, 酒井薫, 岡部隆史，散布図情報を用いたLSIウェーハ薄膜多層パターン比較検査アルゴリズム，電子情報通信学会論文誌, Vol.J88-D-Ⅱ, No.7, pp.1173-1186(2005.7)
芝田行広, 前田俊二，明視野顕微鏡における像コントラスト向上技術-回折光の偏光を利用した欠陥顕在化技術-，精密工学会誌, Vol.70, No.11, pp.1428-1432(2004.11)
前田俊二, 岡健次，散布図情報を用いた重回帰分析によるしきい値設定手法の提案，精密工学会誌, Vol.66, No.12, pp.1885-1889(2000.12)
前田俊二, 吉田実, 岡健次，画像解析を用いたステージ精度測定手法の提案，精密工学会誌, Vol.66, No.1, pp.137-140(2000.1)
前田俊二, 広井高志, 窪田仁志，微分極性比較法によるLSIウェーハ多層パターンの自動外観検査，電子情報通信学会論文誌, Vol.J82-D-Ⅱ, No.1, pp.39-52(1999.1)
前田俊二, 遠藤文昭, 牧平坦, 窪田仁志，比較検査における数値解析手法を用いたしきい値設定支援，電子情報通信学会論文誌　D-Ⅱ, Vol.J81-D-Ⅱ, No.1, pp.27-36(1998.1)
前田俊二, 小野眞, 窪田仁志, 中谷光雄，赤外線画像マッチングによるTFT基板の高精度ショート欠陥検出，電子情報通信学会論文誌　D-Ⅱ, Vol.J80-D-Ⅱ, No.9, pp.2333-2344(1997.9)
前田俊二, 窪田仁志, 牧平坦，LSIウェーハパターン自動外観検査における最適しきい値の自動生成，電子情報通信学会論文誌, Vol.J79-D-Ⅱ, No.2, pp.191-201(1996.2)
前田俊二, 窪田仁志, 牧平坦, 二宮隆典, 中川泰夫, 谷口雄三，カスケードパターンマッチングによるLSIウェーハ多層パターン自動外観検査，電子情報通信学会論文誌, Vol.J72-D-Ⅱ, No.12, pp.2012-2022 (1989.12)

1-2　国際会議論文集　

Masami Nakamura, Yuta Aoto, Shunji Maeda, Basic Study on Railway Facility Extraction with Single Shot　Multibox Detector, International Conference on Machine Learning and Cybernetics ,4016, ICMLC 2019(2019.7)
Kanta Matsubayashi, Takuya Anjiki, Shunji Maeda, Causal Relationship Analysis Using Sensor Data and Infrared Image for Stabilizing Garbage Power Generation, International Conference on Machine Learning and Cybernetics ,4014, ICMLC 2019(2019.7)
Takuya Anjiki, Kanta Matsubayashi, Shunji Maeda, Utilization of the Infrared Image Capturing Combustion State for Estimating the Steam Flow Aiming to Stabilize Garbage Power Generation, International Conference on Machine Learning and Cybernetics ,4019, ICMLC 2019(2019.7)
Takeru Moriyama, Shunji Maeda and Tadashi Suzuki, Detection of Causes of Anomalies with Forecast Error Variance Decomposition for a Diecasting Facility, Th7-1-4, 2018 Joint 10th International Conference on Soft Computing and Intelligent Systems and 19th International Symposium on Advanced Intelligent Systems, pp.138-143(2018.12)
Tomohiro Nagatani, Koki Nishimura, Takeru Moriyama and Shunji Maeda, Solar Irradiance Forecasting with Convolutional Long Short-Term Memory Network using Sky Images, Th6-4-6, 2018 Joint 10th International Conference on Soft Computing and Intelligent Systems and 19th International Symposium on Advanced Intelligent Systems, pp.632-637(2018.12)
Koki Nishimura, Masaki Yanabe, Tomohiro Tanaka, Kentaro Ooi, Tomohiro Nagatani, Takeru Moriyama and Shunji Maeda, Proposed Electronic Component Visual Inspection Method with a Local Histogram-based Feature s, Fr6-3-4, 2018 Joint 10th International Conference on Soft Computing and Intelligent Systems and 19th International Symposium on Advanced Intelligent Systems, pp.1260-1265(2018.12)
Toshio Asano, Takahhiro Kondo, Shunji Maeda, Mura Grade Evaluation Based on S-CIELAB Color System, SID 2014 DIGEST, pp.1081-1084(2014.6)
Toshio Asano, Takahhiro Kondo, Shunji Maeda, Unified Evaluation Method of White Uniformity for Electronic Displays, Industrial Electronics Society, IECON 2013 - 39th Annual Conference of the IEEE (2013.11)
Toshikazu Wada, Yuki Matsumura, Shunji Maeda, Hisae Shibuya, Gaussian Process Regression with Dynamic Active Set and Its Application to Anomaly Detection, The 2013 International Conference on Data Mining(2013.7) world-comp.org/p2013/DMI8072.pdf
KAYABA HIROYUKI, Shun'ichi Kaneko, Sakai Kaoru, Taniguchi Atsushi, Maeda Shunji, Robust 3-D Reconstruction from Single Camera Rotation Stereo, 2012 IEEE/ASME International Conference on Advanced Intelligent Mechatronics,pp.93-97(2012.7)(Full paper査読)
Hiroyuki Kayaba, Shun’ichi Kaneko, Kaoru Sakai, Atsushi Taniguchi, Shunji Maeda, Robust 3-D Shape Measurement based on Single Camera Rotation Stereo, FCV2012, Proceedings of the 18th Japan-Korea Joint Workshop on Frontiers of Computer Vision 2012,H2-29(2012.2)(Full paper査読)
Hidenori Takauji, Shouichi Kondo, Hisae Shibuya, Shunji Maeda, Minoru Yoshida, Yasuo Nakagawa , A Robust Point Registration of Imbalanced Point Sets based on Parameter-Adaptive LCPD, FCV2010, Proceedings of the 16th Japan-Korea Joint Workshop on Frontiers of Computer Vision 2010,O1-2,pp.6-11(2010.2)(Full paper査読)
Kei Kikuchi, Kazuki Kondo, Seiji Hotta, Hisae Shibuya, Shunji Maeda , Class-Unbalanced Defect Classification Using Multistep Learning, FCV2008, Proceedings of the 14th Japan-Korea Joint Workshop on Frontiers of Computer Vision 2008, pp.82-87(2008.1) (Full paper査読)
Kazuki Kondo, Kei Kikuchi, Seiji Hotta, Hisae Shibuya, Shunji Maeda , Defect Classification Using Random Feature Selection and Bagging, FCV2008, Proceedings of the 14th Japan-Korea Joint Workshop on Frontiers of Computer Vision 2008, pp.76-81(2008.1) (Full paper査読)
Akira Hamamatsu, Hisae Shibuya, Yoshimasa Oshima, Shunji Maeda, Hidetoshi Nishiyama, Minori Noguchi, Statistical Threshold Method for Semiconductor Inspection, 12th A-PCNDT(Asia- Pacific Conference on Non-Destructive Testing)(2006.11) (Short　Abstract 査読)
Kensuke Takeda, Shun'ichi Kaneko, Takayuki Tanaka, Kaoru Sakai, Shunji Maeda, Yasuo Nakagawa , Interpolation-based Absolute Gradient Matching and Its Application for LSI Wafer Inspection, QCAV2005, 7th international Conference on Quality Control by Artificial Vision, pp.221-226(2005.5) (Extended Abstract査読)
Kensuke Takeda, Shun'ichi Kaneko, Takayuki Tanaka, Kaoru Sakai, Shunji Maeda, Yasuo Nakagawa , Robust Subpixel Image Alignment by Interpolation-based Absolute Gradient Matching, FCV2005, Proceedings of the 11th Japan-Korea Joint Workshop on Frontiers of Computer Vision 2005, pp.154-159(2005.1) (Full paper査読)
Atsushi Shimoda, Kenji Watanabe, Yuji Takagi, Shunji Maeda, , Short Cycle Killer-Particle Control based on Accurate In-Line Defect Classification, The 9th Int’l. Symposium on Semiconductor Manufacturing, pp.199-202(2000.9) (Full paper査読)
Yasuhiro Yoshitake, Shunji Maeda, Kenji Watanabe, , Defect Control Using an Automatic Killer Defect Selection Method, IEEE, Int’l Workshop on Statistical Metrology Technical Papers, pp.32-35(1998.6) (Extended Abstract査読)
Takashi Hiroi, Shunji Maeda, Hitoshi Kubota, Kenji Watanabe, Yasuo Nakagawa , Precise Visual Inspection for LSI Wafer Patterns Using Subpixel Image Alignment, Proc. Of the 2nd IEEE Workshop on Applications of Computer Vision, pp.26-34(1994.12) (Extended Abstract査読)
Toshio Asano, Shunji Maeda, Toshiaki Murai , Vision system aligns leads for automatic component insertion, Assembly Automation, Volume 3 issue 1, pp.32-35(1983) (Extended Abstract査読)

2　著書: 機械学習・ディープラーニングによる異常検知技術と活用事例集 (担当:共著, 範囲:第１章第２節時系列データを対象とした異常検知への応用としての数理)、技術情報協会 2022年12月 (ISBN: 9784861049132); 機械学習を中心とした異常検知技術と応用提案、第７章　現場課題解決に向けた提案及び導入活用例、第２節　社会インフラ・工場設備の異常診断の課題と対応～外観検査と対比して、情報機構、pp.95-108(2019年11月26日)　(ISBN: 9784865021790)

3-1　報告書 - 査読なし国際会、研究会、シンポジウム等の論文

奥田優樹, 前田俊二, 小松尭, 谷口哲至, 青戸勇太, 外田脩, 音響及び振動データに対する設備診断におけるエントロピーの有効性, D31, 2023年度精密工学会春季大会学術講演会(2023.3)
活田悠太, 前田俊二, 辻本　望, 小松　尭, 谷口哲至, 複数のセンシングデータを用いた設備の異常分析, D30, 2023年度精密工学会春季大会学術講演会(2023.3)
畑井那津美, 前田俊二, 辻本　望, 谷口哲至, 小松尭, 設備診断における連続計測と間欠計測のデータの有用性比較, D83, 2023年度精密工学会春季大会学術講演会(2023.3)
貞国佑輔, 居森章, 前田俊二, 小松尭, 谷口哲至, 周波数解析及びKLDを用いた異常音診断, R22-25-07, 2022年度(第73回)電気・情報関連学会中国支部連合大会(2022.10)
居森章, 前田俊二, 小松尭, 谷口哲至, 外田脩, 多変量センシングデータを対象としたエントロピーによる異常検知, , 2022 IEEE SMC Hiroshima Chapter Young Researchers' Workshop, pp.55-60(2022.7)
居森章, 前田俊二, 小松尭, 谷口哲至, 外田脩, 双対性を用いたエントロピーによる新しい異常検知への試み, IS2-24, 第28回画像センシングシンポジウム(2022.6)
居森章, 前田俊二, 小松尭，谷口哲至, 外田　脩, エントロピーがもつ統一性，双対性，従属性による異常検知～エントロピー・カルバック-ライブラーダイバージェンス・相互情報量の有用性～, 電子情報通信学会情報理論研究会, 2022-01-RCS-SIP-IT(2022.1)
安食拓哉, 中村雅美, 前田俊二, 小松堯, 谷口哲至, KLDの双対性を用いた異常検知手法の提案, R21-17-03, 2021年度(第72回)電気・情報関連学会中国支部連合大会(2021.10)
中村雅美, 安食拓哉, 前田俊二, 小松堯, 谷口哲至, リサンプリングと外れ値検出を用いた異常検知, R21-21-01, 2021年度(第72回)電気・情報関連学会中国支部連合大会(2021.10)　
居森章, 小倉直, 前田俊二, 気象データの傾向分析に基づく日射量予測, IS2-29, 第27回画像センシングシンポジウムSSII2021 (2021.6.10)
貞国佑輔, 前田俊二, 谷口哲至, 青戸勇太, 外田脩, CCAとKLDを用いた発電設備診断の検討, PI-21-016, IIS-21-029, 電気学会知覚情報・次世代産業システム合同研究会(2021.3.23)
山下智泰, 竹本和樹, 松林幹大, 前田俊二, 坪井裕明, 池田竜二, レンズ研磨条件分析のためのデータの点群照合とデータ拡張の比較, D-11-23, 2021年電子情報通信学会総合大会(2021.3.10)
髙見玲音, 中村雅美, 青戸勇太, 前田俊二, 鉄道用トロリ線の懸垂状態に基づく鉄道線設備の異常診断, D-11-26, 2021年電子情報通信学会総合大会(2021.3.10)
松林幹大，山下智泰，竹本和輝，原弘行，前田俊二，坪井裕明，池田竜二, 光学レンズ研磨装置における研磨条件の分析, IS2-16, ViEW2020(Vision Engineering Workshop 2020), ビジョン技術の実利用ワークショップ(2020.12.3)
貞国佑輔, 前田俊二, 青戸勇太, 松林幹大, 居森章, 森本直斗, 谷口哲至, 外田脩, 設備診断のためのカルバック-ライブラーダイバージェンスによるデータ分析, PI-20-060, IIS-20-072, 電気学会知覚情報・次世代産業システム合同研究会(2020.10.20)
貞国佑輔, 前田俊二, 青戸勇太, 松林幹大, 居森章, 森本直斗, 谷口哲至, 外田脩, 設備診断のためのヒストグラムに基づく類似度評価, 04-2P-06, 2020年度（第73回）電気・情報関係学会九州支部連合大会(2020.9.27)
松林幹大, 山下智泰, 竹本和輝, 前田俊二, 坪井裕明, 池田竜二, オスカー式研磨機における光学レンズの面精度に及ぼす研磨条件の影響について, 04-2P-07, 2020年度（第73回）電気・情報関係学会九州支部連合大会(2020.9.27)「優秀論文発表賞B賞」受賞
七川拓哉，居森章，池田悠人，佐藤汰一，高岡友哉，小倉直，安食拓哉，松林幹大，前田俊二, 短期先日射強度予測のための雲画像による減衰率の推定, D0303, 精密工学会2020年度秋季大会(2020.9.1)
村北泰洋，越野太貴，松本祐太郎，大下翔也，⻘戶勇太，前田俊二，森本直斗，谷口哲至，外田脩, 設備診断のためのセンサデータ前処理技術の検討, D0304, 精密工学会2020年度秋季大会(2020.9.1)
山下智泰，竹本和樹，松林幹大，前田俊二，坪井裕明，池田⻯二, 光学レンズ研磨精度予測のためのICPによるレンズ姿勢補正, D0305, 精密工学会2020年度秋季大会(2020.9.1)
高岡友哉, 池田悠人, 佐藤汰一, 七川拓哉, 居森章, 小倉直, 安食拓哉, 前田俊二, 天空動画像と気象データを用いた短期先日射強度予測手法の検討, H-005, 第19回情報科学技術フォーラム FIT2020(2020.9.1)
竹本和輝, 山下智泰, 松林幹太, 前田俊二, 坪井裕明, 池田竜二, 光学レンズ研磨機における条件設定支援, H-004, 第19回情報科学技術フォーラム FIT2020(2020.9.1)
居森章, 小倉直, 安食拓哉, 松林幹大, 前田俊二, 天空動画像を用いた短期先日射強度予測手法の検討, IS 3 – 21, 第26回画像センシングシンポジウムSSII2020(2020.6.12)
松林幹大, 山口浩英, 稲田敦志, 前田俊二, 坪井裕明, 池田竜二, オスカー式研磨機における光学レンズ形状に及ぼす研磨条件の良否判断, IS 3 – 04, 第26回画像センシングシンポジウムSSII2020(2020.6.12)
髙見玲音, 青戸勇太, 松林幹大, 中村雅美, 前田俊二, 電車線路設備を対象とした画像内の領域連結性に基づく異常診断, 電気学会知覚情報・次世代産業システム合同研究会(2020年3月23日)
貞国佑輔, 青戸勇太, 中村雅美, 前田俊二, 射影変換からなる画像レジストレーションを用いた鉄道設備の異常診断, D-11-1, 2020年電子情報通信学会総合大会(2020.3.18)
原弘行, 稲田淳志, 山口浩英, 天野光陽, 松林幹大, 前田俊二, 坪井裕明, 池田竜二, ニュートンリングを用いたレンズ形状の定量化と仕上り予測, D-11-11, 2020年電子情報通信学会総合大会(2020.3.18)
小倉直, 藤村優斗, 居森章, 青木智哉, 安食拓哉, 前田俊二,　リアルタイム短期先日射強度予測の手法改善, G21, 精密工学会2020年度春季大会(2020.3.17)
青戸勇太, 中村雅美, 前田俊二, 鉄道設備の異常診断のための外れ値検出手法の提案, G22, 精密工学会2020年度春季大会(2020.3.17)
居森章, 藤村優斗, 小倉直, 青木智哉, 安食拓哉, 前田俊二, 雲の位置と状態を考慮したリアルタイム日射強度予測手法の検討, G23, 精密工学会2020年度春季大会(2020.3.17)
松林幹大, 山口浩英, 稲田淳志, 前田俊二, 坪井裕明, 池田竜二, オスカー式研磨機における光学レンズ形状に及ぼす研磨条件の因果分析, H111, 精密工学会2020年度春季大会(2020.3.19)
稲田淳志, 山口浩英, 天野光陽, 原弘行, 前田俊二, 坪井裕明, 池田竜二, オスカー式研磨機におけるレンズ形状予測手法の検討, IS2-C13(OS3-H4), ViEW2019(Vision Engineering Workshop 2019), ビジョン技術の実利用ワークショップ(2019.12.6)
松林幹大安食拓哉, 前田俊二, ごみ焼却炉における蒸気量予測のための因果関係に基づく特徴量抽出, A2-23, 第21回IEEE広島支部学生シンポジウム（HISS）(2019.11.30,12.1)
田中智裕, 大井健太郎, 青戸勇太, 松林幹大, 前田俊二, 電子部品検査における画像データ拡張のための自己符号化器の性能把握, A2-25, 第21回IEEE広島支部学生シンポジウム（HISS）(2019.11.30,12.1)
青戸勇太, 中村雅美, 前田俊二, 変分自己符号化器の潜在空間におけるカバレッジに基づく鉄道設備の異常診断向け学習データの評価, B2-24, 第21回IEEE広島支部学生シンポジウム（HISS）(2019.11.30,12.1)
居森章, 小倉直, 青木智哉, 前田俊二, 雲による遮蔽率を考慮した日射強度予測の検討, 第24回パターン計測シンポジウム(第104回パターン計測部会研究会)(2019.11.8)
小倉直, 居森章, 青木智哉, 青戸勇太, 安食拓哉, 前田俊二, 短期先日射強度予測における天空画像の取得方法の比較検討, 第24回パターン計測シンポジウム(第104回パターン計測部会研究会)(2019.11.8)
青戸勇太, 中村雅美, 前田俊二, 連続取得画像を対象に特徴空間上の軌跡に着目した鉄道設備診断, 第24回パターン計測シンポジウム(第104回パターン計測部会研究会)(2019.11.9)
松林幹大, 安食拓哉, 前田俊二, ごみ焼却炉における赤外線画像を用いた因果関係に基づく蒸気量予測の検討, R19-22-01-01, 令和元年度(第70回)電気・情報関連学会中国支部連合大会(2019.10.26)
小倉直, 居森章, 青木智哉, 青戸勇太, 前田俊二, 短期先リアルタイム日射強度予測のための広視野全天球画像と狭視野画像の比較検討, R19-22-02-01,令和元年度(第70回)電気・情報関連学会中国支部連合大会(2019.10.26)
居森章, 小倉直, 青木智哉, 前田俊二, 日射強度予測のための雲の追跡と太陽光の遮蔽率評価手法の検討, R19-22-02-02, 令和元年度(第70回)電気・情報関連学会中国支部連合大会(2019.10.26)
山口浩英, 稲田淳志, 天野光陽, 原弘行, 前田俊二, 坪井裕明, 池田竜二, 形状計測データと研磨条件を用いたレンズ研磨工程定量化の試み, R19-22-02-05, 令和元年度(第70回)電気・情報関連学会中国支部連合大会(2019.10.26)
青戸勇太, 中村雅美, 前田俊二, 変分自己符号化器による疎な分布のデータ拡張を活用した局所部分空間法による電車線路設備の診断, R19-22-03-01, 令和元年度(第70回)電気・情報関連学会中国支部連合大会(2019.10.26)
居森章, 青木智哉, 小倉直, 安食拓哉, 松林幹大, 藤村優斗, 前田俊二, 天空画像と日射強度を対象にしたLSTMによる日射強度のリアルタイム短期先予測, P43, 令和元年電気学会電力・エネルギー部門大会(2019.9.4)
青戸勇太, 中村雅美, 前田俊二, 電車線路設備を対象とした低次元特徴に基づく局所部分空間法による異常診断, 電気学会, 知覚情報/次世代産業システム合同研究会(2019.8.28)
松林幹大, 安食拓哉, 前田俊二, ごみ焼却炉における赤外線画像に対するPre-trained networkによる特徴量抽出の検討, 2019 IEEE SMC Hiroshima Chapter 若手研究会(2019.7.20)
居森章, 小倉直, 青木智哉, 前田俊二, 天空画像を用いたリアルタイム短期先日射強度予測手法の検討, 第103回パターン計測部会研究会(2019.6.7)
居森章, 青木智哉, 小倉直, 東佑樹, 天野光陽, 栗田真吾, 貞国佑輔, 原弘行, 前田俊二, 天空画像を用いた日射強度のリアルタイム予測, 第9回電子デバイス・回路・照明・システム関連教育・研究ワークショップ, #4(2019.5.18)
安食拓哉, 松林幹大, 松岡尚弥, 髙見玲音, 森山健, 前田俊二, ごみ発電量安定化を目的とした蒸気流量推定のための炉内赤外線映像の活用, E03, 精密工学会2019年度春季大会(2019.3.13)
中村雅美, 青戸勇太, 森山健, 前田俊二, Single Shot MultiBox Detectorによる鉄道設備抽出に関する検討, E06, 精密工学会2019年度春季大会(2019.3.13)
藤村優斗, 遠藤操希, 上出敦也, 長谷智紘, 西村晃紀, 森山健, 前田俊二, 天空画像を用いたLSTM ネットワークによる短期先日射量予測, E13, 精密工学会2019年度春季大会(2019.3.13)
大井健太郎, 田中智裕, 柳部正樹, 西村晃紀, 森山健, 長谷智紘, 前田俊二, Deep Convolutional AutoEncoderを用いた電子部品検査における画像生成による識別困難欠陥への対応, E14, 精密工学会2019年度春季大会(2019.3.13)
田中智裕, 大井健太郎, 柳部正樹, 西村晃紀, 前田俊二, 電子部品検査における画像生成による欠陥学習データ確保の検討, E17, 精密工学会2019年度春季大会(2019.3.13)
柳部正樹, 大井健太郎, 田中智裕, 西村晃紀, 前田俊二, Deep Convolutional Auto-encoderによる生成画像を用いた電子部品欠陥検査感度の評価手法の検討, E19, 精密工学会2019年度春季大会(2019.3.13)
松林幹大, 安食拓哉, 松岡尚弥, 髙見玲音, 森山健, 前田俊二, ごみ発電量安定化のための温度計測値と赤外線画像の分析と比較, I29, 精密工学会2019年度春季大会(2019.3.13)
田中智裕, 大井健太郎, 柳部正樹, 西村晃紀, 前田俊二, 電子部品検査における主成分分析とオートエンコーダによる次元削減特性の比較, 第8回電子デバイス・回路・照明・システム関連教育・研究ワークショップ, #1(2018.12.7)奨励賞受賞
寺井満俊，前田俊二，安野拓也，飯塚正美，弾道ゼラチンを用いた刃物の威力評価，D-10，日本法科学技術学会第24 回学術集会(2018.11.8)
山口浩英, 稲田淳志, 松林幹大, 西村晃紀, 長谷智紘, 森山健, 谷口哲至, 前田俊二, 坪井裕明, 池田竜二, オスカー式研磨機における研磨の軌道分析, R18-18-02, 平成30年度（第69回）電気・情報関連学会中国支部連合大会(2018.10.20)
稲田淳志, 山口浩英, 松林幹大, 西村晃紀, 長谷智紘, 森山健, 前田俊二, 坪井裕明, 池田竜二, レンズ研磨加工における機械学習を用いた面精度予測, R18-24-02, 平成30年度（第69回）電気・情報関連学会中国支部連合大会(2018.10.20)
松林幹大, 安食拓哉, 高見玲音, 松岡尚弥, 森山　健, 西村晃紀, 長谷智紘, 前田俊二, ごみ焼却炉における数理モデルを用いた位相遅れの測定, R18-24-03, 平成30年度（第69回）電気・情報関連学会中国支部連合大会(2018.10.20)電子情報通信学会中国支部奨励賞、電気学会中国支部奨励賞受賞
安食拓哉, 松林幹大, 高見玲音, 松岡尚弥, 森山健, 長谷智紘, 西村晃紀, 前田俊二, ごみ焼却炉におけるごみ投入量の可視化と炉内映像と蒸気流量の関係把握, R18-24-04, 平成30年度（第69回）電気・情報関連学会中国支部連合大会(2018.10.20)
藤村優斗, 遠藤操希, 上出敦也, 前田龍佑, 長谷智紘, 西村晃紀, 森山健, 前田俊二, 天空画像を対象とした日射量予測における画像生成精度と予測精度の把握, R18-24-05, 平成30年度（第69回）電気・情報関連学会中国支部連合大会(2018.10.20)
青戸勇太, 中迫篤志, 中村雅美, 森山　健, 長谷智紘, 西村晃紀, 前田俊二, Deep LearningとOptical Flowを組み合わせた逆走車両検知手法の検討, 多値論理研究会, 第41回多値論理フォーラム, No.13(2018.9.16)
長谷智紘, 上出敦也, 前田龍佑, 西村晃紀, 森山　健, 前田俊二, 天空画像を対象としたDAEによる日射量予測, 2018年電子情報通信学会ソサイエティ大会, A-8-20 (2018.9.14)
森山　健, 前田俊二, 鈴木　寛, 堀江聖岳, SSD特徴量を利用したOptical Flowによる異常運転認識の検討, 2018年電子情報通信学会ソサイエティ大会, A-8-23 (2018.9.14)
稲田淳志, 山口浩英, 松林幹大, 西村晃紀, 長谷智紘, 森山　健, 前田俊二, 坪井裕明, 池田竜二, レンズ研磨工程における面精度予測の検討, 2018年電子情報通信学会ソサイエティ大会, A-8-24(2018.9.14)
西村晃紀, 柳部正樹, 田中智裕, 大井健太郎, 長谷智紘, 森山　健, 前田俊二, 電子部品検査のためのNMF次元削減による識別精度向上の検討, 2018年電子情報通信学会ソサイエティ大会, A-8-25(2018.9.14)
大井健太郎, 田中智裕, 柳部正樹, 西村晃紀, 森山　健, 長谷智紘, 前田俊二, 電子部分検査におけるAutoencoderとSVMを用いた欠陥識別, 2018年電子情報通信学会ソサイエティ大会, A-8-26(2018.9.14)
山口浩英, 稲田淳志, 松林幹大, 西村晃紀, 長谷智紘, 森山　健, 前田俊二, 坪井裕明, 池田竜二, レンズ研磨工程における作業内容の分析, 精密工学会2018年度秋季大会(2018.9.5)
松林幹大, 安食拓哉, 松岡尚弥, 高見玲音, 森山　健, 長谷智紘, 西村晃紀, 前田俊二, ごみ焼却設備における蒸気流量の安定制御支援を目的とした因果関係分析, 精密工学会2018年度秋季大会(2018.9.5)
長谷智紘, 上出敦也, 前田龍佑, 遠藤操希, 藤村優斗, 西村晃紀, 森山　健, 前田俊二, 天空画像を対象とした日射量予測におけるConvolutional Neural NetworkとConvolutional LSTM Networkの比較検討, 精密工学会2018年度秋季大会(2018.9.7)
柳部正樹, 田中智裕, 大井健太郎, 西村晃紀, 森山　健, 長谷智紘, 前田俊二, 電子部品検査精度の向上のためのオートエンコーダを用いた欠陥画像生成手法の検討, 精密工学会2018年度秋季大会(2018.9.7)
西村晃紀, 柳部正樹, 田中智裕, 大井健太郎, 長谷智紘, 森山　健, 前田俊二, 電子部品検査のためのHOG特徴量の次元削減による欠陥識別精度向上の検討, 精密工学会2018年度秋季大会(2018.9.7)
安食拓哉, 松林幹大, 松岡尚弥, 高見玲音, 森山　健, 長谷智紘, 西村晃紀, 前田俊二, ごみ焼却設備におけるごみ燃焼状態から蒸気流量の推定, 精密工学会2018年度秋季大会(2018.9.7)
中村雅美, 青戸勇太, 森山　健, 前田俊二, 鈴木　寛, 堀江聖岳, 少数サンプル条件下におけるSingle Shot MultiBox Detectorの逆走車両検知精度確保に関する検討, 精密工学会2018年度秋季大会(2018.9.7)
森山　健, 青戸勇太, 前田俊二, 鈴木　寛, 堀江聖岳, Single Shot MultiBox DetectorとOptical Flowを組み合わせた逆走車両検知手法の検討, 精密工学会2018年度秋季大会(2018.9.7)
藤村優斗, 遠藤操希, 上出敦也, 前田龍佑, 長谷智紘, 西村晃紀, 森山健, 前田俊二, Convolutional LSTM Networkを用いた日射量予測のための未来画像生成, 電気学会, 知覚情報/次世代産業システム合同研究会, PI-18-049, IIS-18-030(2018.7.30)
田中智裕, 大井健太郎, 柳部正樹, 西村晃紀, 森山健, 長谷智紘, 前田俊二, 電子部品検査における画像データ拡張のための画像生成手法の検討, 電気学会, 知覚情報/次世代産業システム合同研究会, PI-18-050, IIS-18-031(2018.7.30)
安食拓哉, 松林幹大, 松岡尚弥, 高見玲音, 森山健, 前田俊二, 赤外線画像を対象とした燃焼状態分類のための特徴抽出の検討, 電気学会, 知覚情報/次世代産業システム合同研究会, PI-18-054, IIS-18-035(2018.7.30)
中村雅美, 青戸勇太, 中迫篤志, 森山健, 長谷智紘, 西村晃紀, 前田俊二, 少数サンプル条件下でのSingle Shot MultiBox DetectorとOptical Flowを組み合わせた逆走車両検知精度確保に関する検討, 電気学会, 知覚情報/次世代産業システム合同研究会, PI-18-055, IIS-18-036(2018.7.30)
稲田淳志, 山口浩英, 松林幹大, 西村晃紀, 長谷智紘, 森山健, 前田俊二, 坪井裕明, 池田竜二, レンズ研磨加工の定量化を目的とした加工条件の検討, 電気学会, 知覚情報/次世代産業システム合同研究会, PI-18-059, IIS-18-040(2018.7.30)
西村晃紀，柳部正樹，長谷智紘，森山健，前田俊二，ヒストグラム特徴量を用いた識別とディープラーニングを用いた識別の優劣について，IS2-30，第24回画像センシングシンポジウム(SSII2018) (2018.6.14)
森山健，西村晃紀，長谷智紘，前田俊二，鈴木寛，堀江聖岳，Optical FlowとSingle Shot Multibox Detectorを用いた異常運転認識の検討，IS3-15，第24回画像センシングシンポジウム(SSII2018) (2018.6.15)
柳部正樹，西村晃紀，森山健，長谷智紘，前田俊二，電子部品検査におけるオートエンコーダによる欠陥画像データの拡張，計測自動制御学会計測部門，第101回パターン計測部会研究会(2018.6.8)
森山健，松林幹大，安食拓哉，前田俊二，ごみ焼却炉の赤外線画像データを対象にしたOptical Flowと時間方向wavelet 変換によるごみ移動状態の認識，計測自動制御学会計測部門，第101回パターン計測部会研究会(2018.6.8)
田中智裕, 安食拓哉, 稲田淳志, 遠藤操希, 大井健太郎, 中村雅美, 藤村優斗, 山口浩英, 長谷智紘, 前田俊二, 日射量予測のための畳み込みニューラルネットワークによる未来天空画像の生成, 第７回電子デバイス・回路・照明・システム関連教育・研究ワークショップ, #3(2018.5.26)　奨励賞受賞
森山　健, 西村晃紀, 長谷智紘, 前田俊二, 排ガス変動分析のための共通周波数に基づく因果関係分析, A-8-1, 2018電子情報通信学会総合全国大会(2018.3.21)
長谷智紘, 西村晃紀, 森山　健, 前田俊二, 日射量予測のための未来天空画像の生成, A-8-8, 2018電子情報通信学会総合全国大会(2018.3.21)
西村晃紀, 柳部正樹, 橋本将弥, 長谷智紘, 森山　健, 前田俊二, HOG特徴量の高精度電子部品検査への適用, A-8-12, 2018電子情報通信学会総合全国大会(2018.3.21)
青戸勇太, 森山　健, 西村晃紀, 長谷智紘, 前田俊二, Single Shot MultiBox DetectorとOptical Flowを用いた逆走車両認識, A-8-14, 2018電子情報通信学会総合全国大会(2018.3.21)
森山健, 西村晃紀, 長谷智紘, 前田俊二，鈴木寛, 堀江聖岳，オプティカルフローと畳込みニューラルネットワークによる逆走車両の認識，ビジョン技術の実利用ワークショップViEW2017，IS2-A2 (2017.12.8)
西村晃紀, 柳部正樹, 青戸勇太, 橋本将弥, 長谷智紘, 森山健, 前田俊二，ヒストグラムベースの局所特徴量を用いた電子部品の外観検査の検討，ビジョン技術の実利用ワークショップViEW2017，IS1-A2(2017.12.7)
長谷智紘, 森山健, 西村晃紀, 前田俊二，雲画像を用いた日射量の推定，ビジョン技術の実利用ワークショップViEW2017，IS1-C8(2017.12.7)
森山健, 藤井将貴, 中迫篤志, 前田俊二, 鈴木寛, 堀江聖岳，オプティカルフローを用いた道路における異常運転認識の検討，B2-18，第 19 回 IEEE 広島支部学生シンポジウム(2017.12.2,3両日)
橋本興典, 寺井満俊, 前田龍佑, 米花拓郎, 前西緋槻, 前田俊二, 飯塚正美, 安野拓也, 刃物威力に対する衣服の影響評価手法の提案, 第６回電子デバイス・回路・照明・システム関連教育・研究ワークショップ, #11(2017.11.25)
松林幹大, 森山健, 西村晃紀, 長谷智紘, 前田俊二, LiNGAMを用いた数理モデルによる因果関係の解析, 第６回電子デバイス・回路・照明・システム関連教育・研究ワークショップ, #12(2017.11.25)　奨励賞受賞
前西緋槻, 米花拓郎, 橋本興典, 寺井満俊, 前田龍佑, 前田俊二, 飯塚正美, 安野拓也, 刃物の摩擦を考慮した威力評価手法の検討, 第６回電子デバイス・回路・照明・システム関連教育・研究ワークショップ, #17(2017.11.25)
松林幹大, 高見玲音, 秋本匠, 吉武駿也, 森山健, 西村晃紀, 長谷智紘, 前田俊二, ごみ焼却に伴うNOx発生要因の線形非ガウスモデルによる分析, 平成29年度（第68回）電気・情報関連学会中国支部連合大会, R17-15-16(2017.10.21)
前田龍佑, 前西緋槻, 米花拓郎, 橋本興典, 寺井満俊, 前田俊二, 飯塚正美, 安野拓也, 刃物の特性を考慮した刃物の威力評価手法の検討, 平成29年度（第68回）電気・情報関連学会中国支部連合大会, R17-22-03(2017.10.21)
橋本興典, 寺井満俊, 前田龍佑, 米花拓郎, 前西緋槻, 前田俊二, 飯塚正美, 安野拓也, 衣服の影響を考慮した刃物の威力評価手法の検討, 平成29年度（第68回）電気・情報関連学会中国支部連合大会, R17-22-04(2017.10.21)
柳部正樹, 橋本将弥, 西村晃紀, 長谷智紘, 森山健, 前田俊二, 電子部品検査のための配線パターンとHOG特徴量算出領域の位置関係の影響分析, 平成29年度（第68回）電気・情報関連学会中国支部連合大会, R17-22-05(2017.10.21)
橋本将弥, 柳部正樹, 西村晃紀, 森山健, 長谷智紘, 前田俊二, HOG特徴量の部分空間への射影による欠陥特性評価, 平成29年度（第68回）電気・情報関連学会中国支部連合大会, R17-22-06(2017.10.21)　電子情報通信学会中国支部奨励賞、電気学会中国支部奨励賞受賞
西村晃紀，柳部正樹，青戸勇太，長谷智紘，森山健，前田俊二，HOG 特徴量を電子部品検査に適用した場合の課題検討，D08, 精密工学会, 2017年度秋季大会(2017.9.20)
柳部正樹，青戸勇太，橋本将弥，藤井将貴，西村晃紀，森山健，長谷智紘，前田俊二，電子部品検査における過検出抑制のためのHOG特徴量に関する検討，D09，精密工学会, 2017年度秋季大会(2017.9.20)
森山健，西村晃紀，長谷智紘，前田俊二，荒木智行，ごみ焼却設備における排ガス変動因子の分析，C04，精密工学会, 2017年度秋季大会(2017.9.20)
長谷智紘，森山　健，西村晃紀，前田俊二，雲画像を用いた日射量推定の検討，2017年電子情報通信学会ソサイエティ大会，A-8-3(2017.9.12)
西村晃紀，柳部正樹，青戸勇太，長谷智紘，森山　健，前田俊二，HOG特徴量を用いた外観検査における欠陥の影響検討，2017年電子情報通信学会ソサイエティ大会，A-8-4(2017.9.12)
森山　健，西村晃紀，長谷智紘，前田俊二，荒木智行，位相遅れを考慮したごみ焼却設備における排ガス変動因子の分析，2017年電子情報通信学会ソサイエティ大会，A-8-19(2017.9.12)
西村晃紀，柳部正樹，青戸勇太，森山　健，長谷智紘，前田俊二，電子部品の外観検査におけるHOG評価のためのHistogram IntersectionとKullback Leibler Divergenceの比較検討，平成29年電気学会電子・情報・システム部門大会，GS9-2(2017.9.8)
森山　健，西村晃紀，長谷智紘，松林幹大，前田俊二，荒木智行，ごみ焼却設備における排ガス低減因子の分析，平成29年電気学会電子・情報・システム部門大会，GS6-8(2017.9.7)
松林幹大，前西緋槻，秋本　匠，吉武駿也，森山　健，西村晃紀，長谷智紘，前田俊二，ごみ焼却設備の窒素酸化物低減に影響を与える要因に関する検討，平成29年電気学会電子・情報・システム部門大会，PS4-1(2017.9.6)
青戸勇太，柳部正樹，橋本将弥，藤井将貴，西村晃紀，森山　健，長谷智紘，前田俊二，Histogram Intersectionによる局所特徴量の安定抽出に基づく欠陥検査，平成29年電気学会電子・情報・システム部門大会，PS6-7 (2017.9.6)
中迫篤志，髙見玲音，西村晃紀，森山　健，長谷智紘，前田俊二，鈴木　寛，堀江聖岳，道路における異常運転認識の検討，平成29年電気学会電子・情報・システム部門大会，PS6-10 (2017.9.6)
長谷智紘，森山　健，西村晃紀，前田俊二，ニューラルネットワークによる短時間先風速予測におけるベクトル自己回帰を用いた時間および空間特徴に基づくデータ選択の検討，平成29年電気学会電子・情報・システム部門大会，TC2-2 (2017.9.6)
森山健，西村晃紀，長谷智紘，前田俊二，荒木智行，鈴木忠志，野田統治郎，予測誤差分散分解を用いた設備の異常検知手法の検討，計測自動制御学会，第99回パターン計測部会研究会(2017.7.14)
西村晃紀，柳部正樹，青戸勇太，長谷智紘，森山健，前田俊二，HOG特徴を用いた外観検査における回路配線パターンとセルのかかり具合によるヒストグラム変動に関する分析検討，計測自動制御学会，第99回パターン計測部会研究会(2017.7.14)
長谷智紘，森山健，西村晃紀，川人将典，櫻井博章，前田俊二，日射量予測における全天画像と太陽画像の比較検討，計測自動制御学会，第99回パターン計測部会研究会(2017.7.14)
柳部正樹, 青戸勇太, 橋本将弥, 藤井将貴, 西村晃紀, 森山健, 長谷智紘, 前田俊二，Histogram Intersectionによる局所特徴量の安定抽出に基づく欠陥検査，第５回電子デバイス・回路・照明・システム関連教育・研究ワークショップ(2017.5.27)
松林幹大, 前西緋槻, 秋本匠, 吉武駿也, 森山健, 西村晃紀, 長谷智紘, 前田俊二，ごみ焼却設備の窒素酸化物発生に影響する要因に関する初期検討，第５回電子デバイス・回路・照明・システム関連教育・研究ワークショップ(2017.5.27)
寺井満俊, 橋本興典, 藤本章太郎, 天野輝月, 米花拓郎, 廣岡祐輔, 前田俊二, 飯塚正美, 安野拓也，画像解析による被験物の変形および損傷に着目した刃物の威力評価，第５回電子デバイス・回路・照明・システム関連教育・研究ワークショップ(2017.5.27)
前田龍佑, 松岡尚弥, 伊藤駿, 上出敦也, 櫻井博章, 川人将典, 長谷智紘, 西村晃紀, 森山健, 前田俊二，太陽光発電のための天空画像における雲の分類，第５回電子デバイス・回路・照明・システム関連教育・研究ワークショップ(2017.5.27)
中迫篤志, 髙見玲音, 西村晃紀, 森山健, 長谷智紘, 前田俊二，道路における走行車両の異常状態検知の初期検討，第５回電子デバイス・回路・照明・システム関連教育・研究ワークショップ(2017.5.27)
森山　健, 長谷智紘, 西村晃紀, 前田俊二, 鈴木忠志, 野田統治郎, 知久馬成美, 予測誤差分散分解を用いた設備の性能劣化評価手法の検討, O07, 精密工学会, 2017年度春季大会(2017.3.13)
長谷智紘, 森山　健, 西村晃紀, 前田俊二, ニューラルネットワークによる短時間先風速予測の初期検討, A20, 精密工学会, 2017年度春季大会(2017.3.13)
櫻井博章, 川人将典, 長谷智紘, 西村晃紀, 森山　健, 前田俊二, 太陽光発電のための天空画像における雲領域の抽出, A63, 精密工学会, 2017年度春季大会(2017.3.15)
川人将典, 櫻井博章, 長谷智紘, 森山　健, 西村晃紀, 前田俊二, 太陽光発電安定化のための天空画像における雲の動き追跡, A64, 精密工学会, 2017年度春季大会(2017.3.15)
松尾浩司, 前田俊二, 飯塚正美，安野拓也，西村晃紀, 画像解析による断面積を考慮した刃物の威力評価, A73, 精密工学会, 2017年度春季大会(2017.3.15)
西村晃紀，前田俊二，金子俊一，渋谷久恵，仁戸部勤，安野拓也，飯塚正美，中山透，弾丸識別におけるハフ変換による検出直線部に限定したヒストグラムインターセクションの検討A74, 精密工学会, 2017年度春季大会(2017.3.15)
橋本興典, 橋本将弥, 宮崎大輔, 秋本匠, 川人将典, 櫻井博章, 佐々木秀晃,玉井雅大, 寺井満俊, 徳永優一, 藤井将貴, 吉武駿也, 前田俊二，Pythonを用いた天空画像における雲の動き追跡，第4回電子デバイス・回路・照明・システム関連教育・研究ワークショップ，2-11(2016.11.27)
森山　健, 前田俊二, 荒木智行, 鈴木忠志, 野田統治郎, 知久馬成美, 機械学習を用いた設備の異常度分類手法の検討, 第18回 IEEE広島支部学生シンポジウム(2016.11.19,20)
松尾浩司，前田俊二，飯塚正美，安野拓也，画像解析による刃物突刺し威力の評価，D-27，日本法科学技術学会第22 回学術集会(2016.11.11)
西村晃紀，前田俊二，金子俊一，渋谷久恵，仁戸部勤，安野拓也，飯塚正美，中山透，弾丸の異同識別のための線条痕の特徴によるROI の選択，D-34，日本法科学技術学会第22 回学術集会(2016.11.11)
森山　健，前田俊二，荒木智行，鈴木忠志，野田統治郎，機械学習を用いた設備の異常度分類における初期検討，R16-15-02，平成28年(第67回)電気・情報関連学会　中国支部連合大会（2016.10.22）
西村晃紀，前田俊二，仁戸部　勤，安野拓也，飯塚正美，中山　透，金子俊一，渋谷久恵，Hough変換によるρθ空間を対象としたHistogram Intersectionと弾丸異同識別への適用，R16-22-01，平成28年(第67回)電気・情報関連学会　中国支部連合大会（2016.10.22）
西村晃紀，片山拓哉，前田俊二，金子俊一，渋谷久恵，仁戸部　勤，安野拓也，飯塚正美，中山　透，固有線条痕を手がかりとした弾丸画像の対応付け，A-8- 24，2016年電子情報通信学会ソサイエティ大会（2016.9.21）
長谷智紘，湯山藍美，水野太介，山先純也，前田俊二，高橋雅也，田中和英，星平祐吾，因果関係を考慮した風速予測の検討，A-8- 26，A-8- 26，2016年電子情報通信学会ソサイエティ大会（2016.9.21）
湯山藍美，長谷智紘，水野太介，山先純也，前田俊二，高橋雅也，田中和英，星平祐吾，SVR風速予測における学習データ選択に関する検討，A-8- 27，2016年電子情報通信学会ソサイエティ大会（2016.9.21）
水野太介，長谷智紘，山先純也，湯山藍美，前田俊二，高橋雅也，田中和英，星平祐吾，SVR風速予測における学習データセットの役割の実験検討，A-8- 28，2016年電子情報通信学会ソサイエティ大会（2016.9.21）
森山　健，荒木智行，前田俊二，鈴木忠志，野田統治郎，主成分分析と予測誤差分散分解を用いた設備の性能評価手法の検討，A-3- 3，2016年電子情報通信学会ソサイエティ大会（2016.9.22）
山先純也，湯山藍美，前田俊二，高橋雅也，田中和英，星平祐吾，多地点の風速時系列データを用いたサポートベクトル回帰による風速予測手法の検討，平成28年電気学会電子・情報・システム部門大会，TC3-4(2016.8)
西村晃紀，片山拓哉，前田俊二，金子俊一，渋谷久恵，中山　透，仁戸部　勤，安野拓也，飯塚正美，弾丸異同識別のための固有線条痕の特定方法の研究，平成28年電気学会電子・情報・システム部門大会，GS7-5(2016.8)
森山　健，荒木智行，前田俊二，鈴木忠志，野田統治郎，時系列データを用いた設備の性能評価手法の検討，平成28年電気学会電子・情報・システム部門大会，GS8-4(2016.8)
松尾浩司，岸田　諭，前田俊二，飯塚正美，安野拓也，刃物の威力評価手法の検討，平成28年電気学会電子・情報・システム部門大会，PS5-8(2016.8)　優秀ポスター賞受賞
西村晃紀，前田俊二，金子俊一，渋谷久恵，中山透，仁戸部勤，安野拓也，飯塚正美，弾丸異同識別のための固有線条痕の検出方法の提案, IS1-15，第22回画像センシングシンポジウムSSII2016(2016.6.8)
湯山藍美, 山先純也, 前田俊二, 高橋雅也, 田中和英, 星平祐吾，サポートベクトル回帰による風速予測の検討，第３回電子デバイス・回路・照明・システム関連教育・研究ワークショップ(2016.5.28)
松尾浩司，岸田　諭，前田俊二，安野拓也，飯塚正美，刃物の威力評価のための刃物の動き検出と突き刺し深さに与える要因の分析，第３回電子デバイス・回路・照明・システム関連教育・研究ワークショップ (2016.5.28)
西村晃紀，前田俊二，金子俊一，渋谷久恵，中山透，仁戸部勤，安野拓也，飯塚正美，弾丸異同識別のためのCannyエッジオペレータとHough変換による線条痕の検出，第３回電子デバイス・回路・照明・システム関連教育・研究ワークショップ (2016.5.28)
西村晃紀，前田俊二（広島工業大学），金子俊一，渋谷久恵（北海道大学），中山透（神奈川県警），仁戸部勤，安野拓也，飯塚正美（科警研），弾丸異同識別のための固有線条痕絞込み方法の検討，第97回パターン計測部会研究会　計測自動制御学会　計測部門(2016.5.13)
山先純也，長谷智紘，水野太介，森山　健, 前田俊二, 荒木智行，野田統治郎，鈴木忠志，因果関係に基づく異常検知に関する考察，F79, 精密工学会, 2016 年度春季大会(2016.3.17)
森山健，長谷智紘，水野太介，山先純也，荒木智行，前田俊二，鈴木忠志,野田統治郎，多変量時系列データを用いた保守作業の分析，F80, 精密工学会, 2016 年度春季大会(2016.3.17)
水野太介，森山健，山先純也，長谷智紘, 湯山藍美, 前田俊二，高橋雅也，田中和英,　星平祐吾，多変量時系列データへのベクトル自己回帰モデルの適用に関する考察，H16, 精密工学会, 2016 年度春季大会(2016.3.15)
長谷智紘, 森山健, 湯山藍美, 前田俊二，高橋雅也, 田中和英, 星平祐吾，ベクトル自己回帰と過去の類似データの活用による風速予測，H15, 精密工学会, 2016 年度春季大会(2016.3.15)
湯山藍美, 長谷智紘, 水野太介, 前田俊二，高橋雅也, 田中和英, 星平祐吾，VARモデル風速予測における予測誤差の分析，H14, 精密工学会, 2016 年度春季大会(2016.3.15)
西村晃紀，片山拓哉，藤井周，前田俊二，金子俊一，渋谷久恵，仁戸部　勤，安野拓也，飯塚正美，中山透，弾丸の異同識別における線条痕の強調，C21, 精密工学会, 2016 年度春季大会(2016.3.15)
田中武, 谷岡知美, 升井義博, 谷口哲至, 山内将行, 荒木智行, 福原省三, 豊田　宏, 小池正記, 前田俊二, 尾崎　徹, 浅野敏郎、広島工業大学電子情報工学科における学修に対する体系的な取り組み、電気学会研究会資料、FIE 2016(1-7・9-16), 79-84(2016.2.28)
升井義博, 谷岡知美, 谷口哲至, 山内将行, 荒木智行, 豊田宏, 小池正記, 前田俊二, 尾崎徹, 浅野敏郎, 田中武、工学教育におけるアクティブラーニング電子情報工学科の基礎科目における実践報告、電気学会研究会資料、FIE 2016(1-7・9-16), 29-34( 2016.2.28)
山内将行, 谷岡知美, 升井義博, 谷口哲至, 荒木智行, 豊田宏, 小池正記, 前田俊二, 尾崎　徹 , 浅野敏郎, 田中武、早期に研究を希望する学生への教育と効果の中間報告、電気学会研究会資料、FIE-15-034(2015.12.12)
Takeru Moriyama, Tomohiro Nagatani, Shu Fujii, Tomoyuki Araki, Shunji Maeda, Tadashi Suzuki, Tojiro Noda, Analysis of maintenance tasks with VAR model and impulse response function, abstract査読, A-16, pp.50-53, 第17回 IEEE広島支部学生シンポジウム(2015.11)
長谷智紘, 森山健, 藤井周, 前田俊二, 高橋雅也, 田中和英, 星平祐吾VARモデルによる風速予測に与える多地点データの影響分析，abstract査読, B-12, pp.302-305,第17回 IEEE広島支部学生シンポジウム(2015.11)
長谷智紘, 片山拓哉, 岸田諭, 竹原和希, 西村晃紀, 水野太介, 宮崎大輔, 森山健, 山先純也, 湯山藍美, 松尾浩司, 古賀和喜, 前田俊二，Arduinoを用いた動的センシング，第２回電子デバイス・回路・照明・システム関連教育・研究ワークショップ(2015.11)　[奨励賞受賞]
森山健, 長谷智紘, 藤井周, 荒木智行, 前田俊二, 鈴木忠志, 野田統治郎，予測誤差分散分解を用いた保守作業の分析，第２回電子デバイス・回路・照明・システム関連教育・研究ワークショップ(2015.11)
古賀和喜, 長谷智紘, 森山健, 前田俊二, 高橋雅也, 田中和英, 星平祐吾, 過去の誤差を加味した類似データ選択による風速予測, 6-13, pp. 147 – 148, , 第66回電気・情報関連学会中国支部連合大会(2015.10)
長谷智紘, 森山健, 藤井周, 前田俊二, 高橋雅也, 田中和英, 星平祐吾, VARモデルによる風速予測に与える多地点の影響検討, 6-14, pp. 149 – 150 , 第66回電気・情報関連学会中国支部連合大会(2015.10)
森山健, 長谷智紘, 藤井周, 荒木智行, 前田俊二, 鈴木忠志, 野田統治郎, VARモデルとインパルス応答関数を用いた保守作業の分析, 15-5, pp. 39 – 40, 第66回電気・情報関連学会中国支部連合大会(2015.10)
藤井周, 大西淳, 中田英紀, 前田俊二, 飯塚正美, 安野拓也, 仁戸部勤, 中山透, 金子俊一, 渋谷久恵, 試射弾丸の異同識別を目的としたHistogram Intersectionと共通線条痕への重み付けに基づく類似性評価手法, 22-8, pp. 299 – 300, 第66回電気・情報関連学会中国支部連合大会(2015.10)
山内将行, 谷岡知美, 升井義博, 谷口哲至, 豊田　宏, 荒木智行, 小池正記, 前田俊二, 尾崎徹, 浅野敏郎, 田中武、国内学会発表を通した電気電子系学生の育成に向けて、電気学会教育フロンティア研究会、FIE-15-021(2015.9.26)
藤井周，中田英紀，前田俊二，飯塚正美，安野拓也，仁戸部勤，中山透，金子俊一，渋谷久恵，試射弾丸の異同識別を目的としたヒストグラムインターセクションとダイバージェンスによる類似性評価の検討, H-005, FIT2015 第14回情報科学技術フォーラム(2015.9)
中田英紀、藤井周、前田俊二，飯塚正美，安野拓也，仁戸部勤，中山透，金子俊一，渋谷久恵，試射弾丸の画像類似性評価のための局所領域の寸法決定, H-006, FIT2015 第14回情報科学技術フォーラム(2015.9)
森山健、長谷智紘、藤井周、前田俊二、鈴木忠志, 野田統治郎，インパルス応答関数を用いた保守作業の評価手法の検討，電気学会C部門大会, GS13-4, pp.1450-1455(2015.8)
長谷智紘、森山健、藤井周、前田俊二、高橋雅也，田中和英，星平祐吾，風速予測における他地点風速データ活用方法の検討，電気学会C部門大会, GS13-5, pp.1456-1461(2015.8)
清水雄二, 根石暁，荒木智行, 前田俊二, 鈴木忠志, 野田統治郎，インパルス応答関数を用いた設備の異常予兆検知手法の提案，平成27年計測自動制御学会計測部門第95回パターン計測部会研究会(2015.5)
根石暁，清水雄二, 荒木智行, 前田俊二, 鈴木忠志, 野田統治郎，設備の余寿命予測手法の検討，平成27年計測自動制御学会計測部門第95回パターン計測部会研究会(2015.5)
橘高滋成，住田隼雅，田坂翔，和田義人，隅田将太，前田俊二，高橋雅也，田中和英，星平祐吾，類似データ選択による風速予測手法の基礎検討，平成27年電気学会全国大会, 6-094, pp.133-134(2015.3)
住田隼雅，橘高滋成，田坂翔，和田義人，隅田将太，前田俊二，高橋雅也，田中和英，星平祐吾，線形予測VARモデルによる風速予測の基礎検討，平成27年電気学会全国大会, 6-205, pp.338-339(2015.3)
和田義人，田坂翔，隅田将太，前田俊二，高橋雅也，田中和英，星平祐吾，過去データを用いた風速予測のための類似データ選択，精密工学会2015年度春季大会, E17, pp.283-284(2015.3)
吉岡哲郎，佐竹凌太，清水雄二，前田俊二，鈴木忠治，野田統治郎，設備のパフォーマンスモニタ実現のためのインパルス応答関数に基づくセンサデータの選択，精密工学会, 2015年度春季大会, E15, pp.279-230(2015.3)
佐竹凌太，吉岡哲郎，根石暁，前田俊二，鈴木忠志，野田統治郎，余寿命予測のための設備状態監視手法の検討，精密工学会, 2015 年度春季大会, E06, pp.273-274(2015.3)
落合俊介，櫻田はなみ，神原卓也，藤井周，前田俊二，大石昌典，川口哲史，産業素材を対象にしたX線画像を用いた異物認識, 動的画像処理実用化ワークショップ, IS1-A2, DIA2015(2015.3)
藤井周，大西淳，中田英紀，前田俊二，飯塚正美，安野拓也，仁戸部勤，中山透，金子俊一，渋谷久恵：試射弾丸の異同識別を目的としたヒストグラムを用いた類似度分布の取得，動的画像処理実用化ワークショップ, IS1-B7, DIA2015(2015.3)
大西淳，藤井周，中田秀紀，前田俊二，飯塚正美，安野拓也，仁戸部勤，中山透，金子俊一，渋谷久恵：異同識別のための位置と周波数に関する類似性評価手法の検討，動的画像処理実用化ワークショップ, IS1-B7, DIA2015(2015.3)
落合俊介, 櫻田はなみ, 神原卓也, 藤井周, 前田俊二, 大石昌典, 川口哲史, X線画像を用いた異物検査手法の検討, 平成26年度(第65回)電気・情報関連学会中国支部連合大会, pp.157-158(2014.10)
田坂翔, 和田義人, 隅田将太, 前田俊二，高橋雅也，星平祐吾, 風速予測のための予測誤差分析と予測値の修正, 精密工学会秋季大会学術講演会講演論文集,O23(2014.9)
藤井周，前田俊二，飯塚正美，安野拓也，仁戸部勤，中山透, 金子俊一，渋谷久恵, 試射弾丸の異同識別を目的とした画像ヒストグラムを用いた類似性評価手法の検討, 精密工学会秋季大会学術講演会講演論文集,C17(2014.9)
和田義人, 隅田将太, 田坂翔, 前田俊二，高橋雅也，星平祐吾, 類似データ選択に基づく風速予測手法の検討, imec008, pp.131-136, 第19回知能メカトロニクスワークショップ(2014.7.12)
藤井周，前田俊二，飯塚正美，安野拓也，仁戸部勤，中山透, 金子俊一，渋谷久恵, 試射弾丸の異同識別のための対応付け評価手法の検討, imec007, pp.92-97, 第19回知能メカトロニクスワークショップ(2014.7.12)
渋谷久恵, 前田俊二，センサ信号からの異常検知および異常関連センサ特定技術, 電気学会知覚情報/次世代産業システム合同研究会, PI-14-005 (2014.3)
吉岡哲郎, 佐竹凌太, 前田俊二, 鈴木忠志, 野田統治朗, 設備の異常予兆検知における時系列データを対象にしたクラスタリング手法の比較検討̶, 精密工学会2013年度春季大会,A14(2014.3)
佐竹凌太, 吉岡哲郎, 前田俊二, 鈴木忠志, 野田統治朗, 複数のクラスタリング手法の組合せによる時系列データを対象にした予兆検知手法の検討̶, 精密工学会2013年度春季大会,A15(2014.3)
米田圭吾，金子俊一，渋谷久恵，仁戸部勤，飯塚正美，中山透，前田俊二，画像照合に基づく発射弾丸異同識別における有効線条痕の選択, ビジョン技術の実利用ワークショップ，ViEW2013,IS2-A11(2013.12)
米田圭吾, 金子俊一, 仁戸部勤, 飯塚正美, 中山透, 前田俊二，線条痕の画像解析に基づく発射弾丸の異同識別, 第19回画像センシングシンポジウムSSII2013, IS2-16(2013.6.13)
近藤正一, 金子俊一, 前田俊二, 渋谷久恵, 高氏秀則，パラメータ適応型LCPDによるロバスト点群照合，動的画像処理実用化ワークショップ(DIA), I3-8(2013.3.8)
渋谷久恵, 前田俊二，高速局所部分空間法による異常検知技術, 電気学会情報処理研究会資料Vol.IP−13 No.1−11 Page.35-40 (2013.03.29)
岩崎匠史, 金井理, 伊達宏昭, 金子俊一, 谷口敦史, 前田俊二, 宮本敦, 田中麻紀, スクリュー理論を用いた多数の計測点群に対する同時レジストレーション, 精密工学会大会学術講演会講演論文集, Vol.2013 春季(CD−ROM) Page.ROMBUNNO.M66 (2013.02.27)
金井理, 岩崎匠史, 伊達宏昭, 金子俊一, 谷口敦史, 前田俊二, 宮本敦, 田中麻紀, MLSを用いた計測点群に基づいた現物良品モデル生成とその検査への応用, 精密工学会大会学術講演会講演論文集, Vol.2013 春季(CD−ROM) Page.ROMBUNNO.M32 (2013.02.27)
松村祐貴, 和田俊和, 前田俊二, 渋谷久恵，動的Active Setを用いたGaussian Process Regressionによるベクトル出力推定法，パターン認識・メディア理解研究会(PRMU)pp.317-322 (2013.1.24)
栢場皓之, 金子俊一, 谷口敦史，前田俊二，宮本敦，ロバスト単眼回転ステレオの開発とその3次元形状計測への融合的応用，ビジョン技術の実利用ワークショップ，ViEW2012,IS2-C1 (2012.12)
山本忠, 吉田稔, 中川裕志, 渋谷久恵, 前田俊二，製品修理作業レポートと付随する数値データの関係性分析，第15回情報論的学習理論ワークショップ(IBIS2012)(2012.11.7)
前田　俊二, 丸山　重信, 飯塚　正美, 仁戸部　勉，画像分割照合による発射弾丸の異同識別方式の検討，日本法科学技術学会　第18回学術集会,D-31(2012.11)
米田　圭吾, 金子　俊一, 前田　俊二, 飯塚　正美, 仁戸部　勤, 石井　将人, 中山　透, 画像パタン認識による発射弾丸の異同識別の試み，日本法科学技術学会　第18回学術集会,D-30(2012.11)
栢場皓之, 金子俊一, 谷口敦史, 酒井薫, 前田俊二，幾何拘束を利用した単眼回転ステレオによる３次元形状計測，第30回日本ロボット学会学術講演会(2012.9)
前田俊二, 丸山重信, 飯塚正美, 仁戸部勉，展開画像取得と線条痕顕在化による弾丸の異同識別方式の検討，精密工学会第17 回知能メカトロニクスワークショップIMEC2012,V4-4 (2012.8)
吉田　稔, 中川　裕志, 渋谷　久恵, 前田　俊二，テキストマイニングによる機器異常診断支援の試み，第4回データ工学と情報マネジメントに関するフォーラムdeim2012,F5-4 (2012.3)
三上卓也, 安藤政志, 小山　純, 堀田政二, 渋谷久恵, 前田俊二，尤度プロファイル特徴に基づく異常分類識別，パターン認識・メディア理解研究会(PRMU)pp.37-40(2012.2)
尾崎晋作, 渋谷久恵, 前田俊二, 和田俊和，Gaussian Processesに基づく異常予兆検出への多重解像度解析の導入，パターン認識・メディア理解研究会(PRMU)pp.109-114(2012.1)
栢場皓之, 金子俊一, 酒井薫, 谷口敦史, 前田俊二，単眼回転ステレオ法によるロバスト3次元形状計測，ビジョン技術の実利用ワークショップ，I2-29,ViEW2011,pp.444-449 (2011.12)
渋谷久恵, 前田俊二, 鈴木忠志, 野田統治郎，予兆診断のためのリモートモニタリング基準設定支援技術，第16 回動力・エネルギー技術シンポジウム，機械学会,C114,pp43-46(2011.6)
野田　統治郎, 鈴木　忠志, 藤村　尚, 鈴木　英明, 前田俊二, 渋谷　久恵，高度予兆診断システムの開発，第16 回動力・エネルギー技術シンポジウム，機械学会,C113,pp39-42(2011.6)
前田俊二, 浦野　貴裕, 酒井　薫，背景別しきい値設定によるDie-to-Golden比較と画像内自己参照比較に基づく高感度ハイブリッド欠陥検査，第17回画像センシングシンポジウム, IS4-13,SSII2011,pp. IS4-13-1 - IS4-13-6(2011.6)
尾崎晋作, 和田俊和, 前田俊二, 渋谷久恵，異常検出におけるSimilarity Based ModelingとGaussian Processesの関連に関して，パターン認識・メディア理解研究会(PRMU),画像工学(IE),pp.133-138(2011.5)
前田俊二, 渋谷久恵，時系列データに対する異常予兆検知のための部分空間生成方法の検討，精密工学会2011年度春季大会,K19,pp.819-820 (2011.3)
安藤政志, 堀田政二, 渋谷久恵, 前田俊二，尤度ヒストグラムに基づく異常検出，パターン認識・メディア理解研究会(PRMU), pp.127-130 (2011.3)
中島將貴, 堀田政二, 渋谷久恵, 前田俊二，多センサの多次元表現と部分空間識別器に基づく異常検知，パターン認識・メディア理解研究会(PRMU), pp.123-126 (2011.3)
尾崎晋作, 和田俊和, 前田俊二, 渋谷久恵，Gaussian Processesを用いたプラントの異常及びその予兆の検出，パターン認識・メディア理解研究会(PRMU), pp.211-216 (2011.1)
浦野貴裕，酒井薫，前田俊二，佐藤真一，実欠陥・虚報弁別のための対話的教示欠陥選択における誤り耐性解析，ビジョン技術の実利用ワークショップ, B-3O,ViEW2010,pp.54-61(2010.12)
Masashi Ando, Masaki Nakajima, Seiji Hotta, Hisae Shibuya, and Shunji Maeda, ``Likelihood Histogram for Fault Detection,'' China-Japan-Korea Joint Workshop on Pattern Recognition (CJKPR2010)(2010.11)
前田俊二, 渋谷久恵，過渡状態を伴うセンサデータに対応可能な異常予兆検知方法の研究，精密工学会2010年度秋季大会,H40, pp541-542(2010.9)
高宮隆弘，和田俊和，前田俊二, 渋谷久恵，ユーザの選好を反映した特徴変換法，第13回画像の認識・理解シンポジウム, IS1-84, MIRU2010,pp.618-624(2010.7)
浦野貴裕，酒井薫，前田俊二，佐藤真一，対話的教示欠陥選択に基づく効率的な実欠陥・虚報弁別技術の開発，第13回画像の認識・理解シンポジウム, IS1-71, MIRU2010,pp.528-534(2010.7)
尾崎晋作, 和田俊和, 前田俊二, 渋谷久恵，Whiteningと線形予測を用いた人為的操作を伴うプラントの異常検出，パターン認識・メディア理解研究会(PRMU),pp.275-279 (2010.3)
高宮隆弘, 和田俊和, 前田俊二, 渋谷久恵，ユーザの選好を反映した特徴変換，パターン認識・メディア理解研究会(PRMU),pp.425-430(2010.3)
前田俊二, 渋谷久恵，部分空間法に基づく残差ベクトル軌跡による異常検知手法の検討，精密工学会2010年度春季大会,D74,pp329-330(2010.3)
菊地啓, 近藤和樹, 堀田政二, 渋谷久恵, 前田俊二，センサモデルと投票に基づく異常検知，情報処理学会創立50周年記念（第72回）全国大会, 3E-2,pp.2-119 - 2-120 (2010.3)
渋谷久恵, 前田俊二，クラスタリングと部分空間法による異常検知手法，電気学会一般産業研究会GID-09-16, pp.83-88 (2009.12)
近藤正一, 高氏秀則, 渋谷久恵, 前田俊二, 吉田実, 中川泰夫, 金子俊一，不均衡点群データを対象としたロバスト点群照合，ViEW2009ビジョン技術の実利用ワークショップ講演論文集, I-41, pp.300-305(2009.12)
前田俊二, 渋谷久恵，多次元時系列センシングデータを対象とした部分空間法による設備異常検知の検討，精密工学会2009年度秋季大会, I39,pp651-652(2009.9)
近藤和樹, 菊地啓, 堀田政二, 渋谷久恵, 前田俊二，センサモデルと投票に基づく発電機の異常検知の検討，第8回情報科学技術フォーラム(2009.9)
高宮隆弘, 小倉将義, 和田俊和, 前田俊二, 酒井薫，カーネル弁別特徴変換に関する研究，第12回画像の認識・理解シンポジウム, IS1-9, MIRU2009(2009.7)
淺海徹哉, 和田俊和, 酒井薫, 前田俊二，自己参照に基づくパターン欠陥検査法，第12回画像の認識・理解シンポジウム, IS3-5, MIRU2009(2009.7)
近藤正一, 高氏秀則, 渋谷久恵, 前田俊二, 吉田実, 中川泰夫, 金子俊一，点数不均衡な二次元点群照合のためのパラメータ適応型LCPD，第15回画像センシングシンポジウム, IS3-14, SSII2009,pp. IS3-14-1 - IS3-14-6(2009.6)
淺海徹哉, 和田俊和, 酒井薫, 前田俊二，自己参照に基づくパターン欠陥検査法，パターン認識・メディア理解研究会(PRMU)pp.287-292 (2009.3)
菊池啓, 近藤和樹, 堀田政二, 渋谷久恵, 前田俊二，未知欠陥の分類における閾値の決定に関する基礎検討，2009年電子情報通信学会総合大会講演論文集(2009.3)
近藤和樹, 菊池啓, 堀田政二, 渋谷久恵, 前田俊二，未知欠陥の分類に有効な特徴量選択手法の基礎検討，2009年電子情報通信学会総合大会講演論文集(2009.3)
渋谷久恵, 前田俊二, 堀田政二，フレキシブルナイブベイズと特徴選択による欠陥分類，ViEW2008ビジョン技術の実利用ワークショップ講演論文集, C-40, pp.204-208(2008.12)
近藤正一, 金子俊一, 高氏秀則, 前田俊二, 渋谷久恵, 吉田実, 中川泰夫，局所一貫性に基づく点群照合の位置・スケール変化を含む点群への応用，精密工学会, 第13回知能メカトロニクスワークショップ(2008.9)
近藤正一, 金子俊一, 高氏秀則, 前田俊二, 渋谷久恵, 吉田実, 中川泰夫，局所一貫性に基づく点群照合法，映像情報メディア学会技術報告, Vol.32, No.35(ME2008 107-138), pp.75-78 (2008.8)
中川泰夫, 前田俊二，外観検査の課題と進化，電気学会電子･情報･システム部門大会講演論文集(CD-ROM), Vol.2008, TC3-2(2008.8)
堀田政二, 菊地啓, 近藤和樹, 渋谷久恵, 前田俊二，特徴選択とベイズ決定則を利用した欠陥分類，電気学会情報処理研究会資料, Vol.IP-08, No.13-25, pp.1-4(2008.7)
堀田政二, 菊地啓, 近藤和樹, 渋谷久恵, 前田俊二，特徴選択とベイズ決定則を利用した欠陥分類，電気学会情報処理・産業システム情報化合同研究会(2008.7)
淺海徹哉, 加藤丈和, 和田俊和, 酒井薫, 前田俊二，顕著性に基づく外観検査のための異常検出アルゴリズム，第11回画像の認識・理解シンポジウム, IS5-2, MIRU2008(2008.7)
佐野真通, 加藤丈和, 和田俊和, 酒井薫, 前田俊二，パターンの近接性と密度推定に基づく1クラス識別器，第11回画像の認識・理解シンポジウム, IS3-6, MIRU2008(2008.7)
浦野貴裕, 金子俊一, 高氏秀則, 田中孝之, 前田俊二, 渋谷久恵, 吉田実，欠陥種を考慮に入れた局所一貫性に基づく欠陥パタン照合法とその応用，電気学会情報処理研究会資料, Vol.IP-08, No.1-12, pp.39-44(2008.2)
菊地啓, 近藤和樹, 堀田政二, 渋谷久恵, 前田俊二，多段階学習を利用したクラス不均衡な欠陥分類，View2007ビジョン技術の実利用ワークショップ講演論文集, I-28, pp. 177-182(2007.12)
近藤和樹, 菊地啓, 堀田政二, 渋谷久恵, 前田俊二，ランダム特徴選択とアンサンブル学習を利用した欠陥分類，View2007ビジョン技術の実利用ワークショップ講演論文集, I-27(A-5H), pp.24-29(2007.12)
浦野貴裕, 金子俊一, 高氏秀則, 田中孝之, 前田俊二, 渋谷久恵, 吉田実，Color LCPDに基づく欠陥点群照合法，View2007ビジョン技術の実利用ワークショップ講演論文集, I-21, pp.167-172(2007.12)
浦野貴裕, 金子俊一, 高氏秀則, 田中孝之, 前田俊二, 渋谷久恵, 吉田実，局所一貫性による点群の回転照合法と欠陥パタン照合への応用，精密工学会画像応用技術専門委員会研究会報告, Vol.22, No.1, pp.17-22(2007.7)
加藤丈和, 野口真身, 和田俊和, 酒井薫, 前田俊二，パターンの近接性に基づく1クラス識別器，第10回画像の認識・理解シンポジウム, MIRU2007, IS-2-10,pp.762-767(2007.7)
浦野貴裕, 金子俊一, 高氏秀則, 田中孝之, 前田俊二, 渋谷久恵, 吉田実，欠陥種を考慮に入れた局所整合性に基づく点群照合法，第13回画像センシングシンポジウム, IN2-02, SSII2007 (2007.6)
浦野貴裕, 金子俊一, 高氏秀則, 田中孝之, 前田俊二, 渋谷久恵, 吉田実，LCPDに基づく点群位置決め法と欠陥点群照合への応用，ViEW2006ビジョン技術の実利用ワークショップ講演論文集, A-4H, pp.20-25(2006.12)
浦野貴裕, 金子俊一, 高氏秀則, 田中孝之, 前田俊二, 渋谷久恵, 吉田実，LCPDによる欠陥点群照合のためのロバスト位置決め法，計測自動制御学会第7回システムインテグレーション部門講演会, SI-SICE, pp.1332-1333(2006.12)
酒井薫, 前田俊二，特徴空間の再帰的分割に基づく半導体欠陥検査手法，電子情報通信学会技術研究報告, Vol.106, No.229(PRMU2006 60-76),pp.65-72 (2006.9)
浦野貴裕, 金子俊一, 田中孝之, 前田俊二, 渋谷久恵, 吉田実，近傍整合性の累積評価に基づく回転照合法と欠陥点群分布照合への応用，電気学会情報処理研究会, Vol.IP-06-28,IIS-06-44, No.20-25.27-28, pp.41-44(2006.8)
酒井薫, 前田俊二，複数パターン情報を利用した統計的はずれ値検出による微小欠陥の認識手法，電子情報通信学会技術研究報告, Vol.105, No.673(PRMU2005 233-258), pp.1-6(2006.3)
竹田健祐, 金子俊一, 田中孝之, 酒井薫, 前田俊二, 中川泰夫，内挿型絶対差分照合法を用いたLSIウェハ欠陥抽出，ViEW2005ビジョン技術の実利用ワークショップ講演論文集, A-5H, pp.20-25(2005.12)
酒井薫, 前田俊二，統計パターン比較と特徴的はずれ値検出による微小欠陥の認識手法，電子情報通信学会技術研究報告, Vol.105, No.301(PRMU2005 51-62), pp.11-16(2005.9)
竹田健祐, 金子俊一, 田中孝之, 酒井薫, 前田俊二, 中川泰夫，内挿型絶対差分照合に基づくロバストなサブピクセル画像照合法，映像情報メディア学会技術報告, Vol.29, No.47(ME2005 125-139), pp.31-34(2005.8)
浜松玲, 渋谷久恵, 西山英利, 大島良正, 前田俊二 , 野口稔，背景別統計的しきい値法を用いた半導体ウェハ検査技術，ViEW2004ビジョン技術の実利用ワークショップ講演論文集, 11, pp.1-5(2004.12)
竹田健祐, 金子俊一, 田中孝之, 酒井薫, 前田俊二, 中川泰夫，内挿型増分符号相関に基づくロバストなサブピクセル画像照合法，ViEW2004ビジョン技術の実利用ワークショップ講演論文集, 21, pp.16-21(2004.12)
竹田健祐, 金子俊一, 田中孝之, 酒井薫, 前田俊二, 中川泰夫，増分符号相関を用いたサブピクセル単位での位置照合，精密工学会北海道支部大会講演論文集, pp.41-42(2004.9)
岡部隆史, 前田俊二, 酒井薫，画像位置合せの信頼性評価技術，第14回外観検査の自動化ワークショップ講演論文集, 61, pp.166-171(2002.12)
芝田行広, 前田俊二，光学顕微鏡における像コントラスト向上に関する検討，精密工学会大会学術講演会講演論文集, Vol.2002, 秋季, pp.558(2002.9)
酒井薫, 前田俊二, 岡部隆史，複数の正規化相関マップを用いたロバストな画像マッチング，第13回外観検査の自動化ワークショップ論文集, 42, pp.65-70(2001.12)
芝田行広, 前田俊二，光学顕微鏡における焦点検出方式の検討，精密工学会大会学術講演会講演論文集, Vol.2001, 春季, pp.611(2001.3)
吉田実, 前田俊二, 岡健次, 牧平坦，画像解析によるスキャニングステージの高精度測定技術，精密工学会大会学術講演会講演論文集, Vol.1997, 秋季, pp.265(1997.9)
小野眞, 前田俊二, 窪田仁志, 中谷光雄，赤外線画像を用いた発熱追跡によるTFT基板ショート欠陥検出 TFT基板ショート欠陥検出技術 (1)，精密工学会大会学術講演会講演論文集, Vol.1994, 春季, pp.39-40(1994.3)
前田俊二, 小野真, 窪田仁志, 中谷光雄，赤外線画像マッチングによるTFT基板の高精度ショート欠陥位置検出 TFT基板ショート欠陥検出技術 (2)，精密工学会大会学術講演会講演論文集, Vol.1994, 春季, pp.41-42(1994.3)
広井高志, 前田俊二, 窪田仁志, 牧平坦，最小二乗法を用いたサブピクセルマッチング法，電子情報通信学会大会講演論文集, Vol.1993, 春季, D-89, pp.6.89(1993.3)
前田俊二, 牧平坦, 窪田仁志，ストライプパターン投影コントラスト検出方式によるオートフォーカスの開発，精密工学会大会学術講演会講演論文集, Vol.1993, 春季, pp.977-978(1993.3)
前田俊二, 窪田仁志, 広井高志, 牧平坦，LSIウェーハ多層パターン自動外観検査における高精度欠陥検出アルゴリズム，電子情報通信学会大会講演論文集, Vol.1993, 春季,D-527, pp.7.288(1993.3)
窪田仁志, 前田俊二, 牧平坦, 広井高志，LSIウェーハパターン検査装置の開発 (第2報) システム構成と性能，精密工学会大会学術講演会講演論文集, Vol.1993, 春季, L09, pp.431-432(1993.3)
窪田仁志, 前田俊二, 広井高志, 牧平坦，LSIウェーハパターン検査装置の開発 (第1報) 検査原理，精密工学会大会学術講演会講演論文集, Vol.1993, 春季, L08, pp.429-430(1993.3)
Shunji Maeda, Takashi Hiroi, Hiroshi Makihira, Hitoshi Kubota , Automated Visual Inspection of LSI Wafer Patterns Using a Derivative-Polarity Comparison Algorithm, SPIE, Vol.1567 Applications of Digital Image Processing XIV, pp.100-109(1991.7)(査読なし)
前田俊二, 窪田仁志, 広井高志, 牧平坦，微分極性比較によるLSIウェーハパターン自動外観検査，電子情報通信学会全国大会講演論文集, Vol.1991, 春季, D-470, pp.7.182(1991.3)
谷口雄三, 斎藤幹人 , 窪田仁志, 前田俊二, 依田晴夫，LSIウエーハ自動外観検査技術 (第1報) システム構成と欠陥検出性能，精密工学会大会学術講演会講演論文集, Vol.1990, 秋季, A64, pp.953-954(1990.9)
窪田仁志, 前田俊二, 牧平坦, 谷口雄三，LSI多層パターンを対象としたサブミクロン欠陥検査の研究，精密工学会関西地方定期学術講演会論文集, 221, pp.115-120(1990)
前田俊二, 窪田仁志, 遠藤文昭，濃淡画像の比較検査における数値解析的しきい値設定，電子情報通信学会技術研究報告, Vol.90, No.168(IE90-29), IE90-29,pp.1-8(1990.7)
前田俊二, 窪田仁志，LSIウエーハパターン自動外観検査におけるしきい値最適化の試みエッジ保存グレインノイズスムージングアルゴリズム，電子情報通信学会技術研究報告, Vol.89, No.438(IE89-93),IE-89-93,pp.7-14(1990.2)
前田俊二, 窪田仁志, 牧平担, 二宮隆典, 中川泰夫，カスケードパターンマッチングによるLSIウエハ多層パターン自動外観検査，電子情報通信学会技術研究報告, Vol.87, No.132, pp.31-38(IE87-46)(1987.7)
前田俊二, 金田修身，テレビ画像の色相計測，昭和58年電気関係学会東北支部連合大会,1H2(1983.8)
前田俊二, 戸塚範敬, 河合信雄，テレビ画質計測方法の検討，昭和58年電気学会総合全国大会, 1190, pp.5.61(1983.4)
前田俊二, 浅野敏郎, 戸塚範敬，動的p-タイル法を用いた電子部品のリード認識，第21回SICE学術講演会, 2506, pp.373(1982.7)
浅野敏郎, 前田俊二, 川原田政幸, 有賀誠，プログラマブル画像入力装置(PPI)，昭和56年電気学会東京支部大会,330, pp.441(1981.11)
前田俊二, 浅野敏郎, 戸塚範敬，電子部品のリード認識(第二報)，昭和56年電気学会東京支部大会,329, pp.440(1981.11)

執筆支援　2015.1.1追加: 中川泰夫、外観検査技術の進展、電気学会論文誌C、121巻、5号(2001.5); 中川泰夫、世紀末の外観検査、第11回外観検査の自動化ワークショップ、pp.89-94(1999.12)

3-2　報告書 - 解説記事

渋谷久恵, 前田俊二，局所部分空間法に基づく異常予兆検知技術，日立返仁会(2013.11)
酒井薫, 前田俊二, 岡部隆史，散布図情報を用いたLSIウェーハ薄膜多層パターンの比較検査手法，画像ラボ, Vol.17, No.2, pp.15-19(2006.2)
Kenji Watanabe, Shunji Maeda, Tomohiro Funakoshi, Yoko Miyazaki , DUV Optical Wafer Inspection System for 65-nm Technology Node, Hitachi Review, Vol.54, No.1(2005.1)
芝田行広, 前田俊二，外観検査技術光学式半導体外観検査における光学技術，光技術コンタクト, Vol.42, No.11, pp.574-582(2004.11)
渡辺健二, 船越知弘, 前田俊二, 宮崎陽子，65nmノード対応高性能明視野光学式ウェーハ外観検査装置「HA-3000形」，日立評論, Vol.86, No.7, pp.477-480(2004.7)
芝正孝, 見坊行雄, 前田俊二, 窪田仁志, 平塚信次，サブクォータミクロンデバイスに対応する半導体製造･検査システム半導体ウェーハ外観不良検査の効果的運用，日立評論, Vol.79, No.10, pp.809-814(1997.10)
金井務, 渡辺健二 , 窪田仁志, 前田俊二, 広井高志, 野村敬三，超高感度LSIパターン検査装置の開発，機械振興, Vol.28, No.12, pp.68-71(1995.12)

3-3　報告書 - 招待講演・講師

前田俊二, 松本慎平, 小松尭, 谷口哲至, 時系列データを対象とした異常検知への応用としての数理, 技術情報協会(2021.11)
前田俊二，類似性に基づく生産設備の異常検知・風速予測・弾丸の異同識別の研究, 北海道大学情報科学研究科技術講演会(2016.9.7)
前田俊二，工場自動化の画像処理技術, 日立総合技術研修所第44回グローバル化に対応した新時代の生産設備・システム技術(2016.8)
前田俊二，製造業におけるビッグデータ活用　〜時系列データから生産設備の異常を検知〜、日本産業機械工業会関西支部環境装置部会(2016.7)
前田俊二，工場自動化の画像処理技術, 日立総合技術研修所第43回グローバル化に対応した新時代の生産設備・システム技術(2015.8)
前田俊二，視て・診て・読んで、現場を支えるビッグデータ -スマートメンテナンスを中心に- ，広島工業大学主催企業懇談会講演(2014.11)
前田俊二，ビッグデータを用いたスマートメンテナンスの世界，日本鉄鋼協会　第90回設備技術部会大会(2014.6)
前田俊二，FAの画像処理技術, 日立総合技術研修所第42回グローバル化に対応した新時代の生産設備・システム技術(2014.6)
前田俊二，FAの画像処理技術, 日立総合技術研修所第41回生産設備の基本要素と応用事例講座(2013.6)
前田俊二，画像処理応用概論, 日立総合技術研修所第14回画像処理の基礎と応用講座(2013.5)
前田俊二，マシンビジョン・パタン認識による半導体欠陥検査・設備異常予兆検知，：北海道大学情報科学研究科システム制御情報学研究室主催技術講演会 (2012.12)
前田俊二，半導体パターン欠陥認識技術の動向，精密工学会中国四国支部講習会,pp1-11(2008)
前田俊二，マシンビジョン応用研究の歴史と最近の事例，広島県画像処理活用研究会(2008)
前田俊二，早稲田大学　理工学部　講義「生産プロセス工学」（検査・計測）2006年11月

4　特許　総出願件数　308件（2014.10.27）　広島工大着任(2013.4.1)後8件出願

特開2017-187371　気象予測装置及び風力発電所（2016年4月5日出願）
発明者：田中和英、星平祐吾、前田俊二、長谷智紘
特願2014-264916　風力発電量の予測方法（2014年12月26日出願)
特願2014-171436　特許第5771317異常診断装置及び異常診断方法（2015年7月3日登録）
特願2014-171446　特許第 5771318 異常診断装置及び異常診断方法（2015年7月3日登録）
特願2014-171350　特許第5715288　動態監視装置及び動態監視方法（2015年3月20日登録）
特願2014-023667　特許第5530045　ヘルスマネージメントシステム及びヘルスマネージメント方法（2014年4月25日登録）
特願2013-227838　特許第5530020　異常診断システム及び異常診断方法（2014年4月25日登録）
特願2013-227837　特許第5530019　異常予兆検知システム及び異常予兆検知方法（2014年4月25日登録

特許 - 合計（Shareresearch、米国特許庁検索　2014年8月25日: 国内出願特許　計282件(筆頭 89件)　ほかに公開前の出願あり; 国内登録特許　計153件(筆頭 53件); 米国登録特許　計157件(筆頭 27件)

特許 - 日立知的財産権本部　特許第2部調査（2013年3月19日）: 国内出願特許　計282件(筆頭 89件)　ほかに公開前の出願あり; 国内登録特許　計153件(筆頭 53件); 米国登録特許　計157件(筆頭 27件); 以下，内訳を記す．

4-1-1　特許 - 成立済 - 国内

前田俊二，岡健次，芝田行広，吉田実，宍戸千絵，高木裕治，欠陥検査方法および装置，特許番号：特許4024381(2007年12月19日)
前田俊二，吉田敦志，芝田行広，吉田実，宇都幸雄，中田俊彦，宍戸弘明，パターン欠陥検査方法及びその装置，特許番号：特許4009409(2007年11月14日)
前田俊二，中山保彦，吉田実，岡健次，窪田仁志，パターンの欠陥検査方法およびその装置，特許番号：特許3976775(2007年9月19日)
前田俊二，中山保彦，吉田実，岡健次，窪田仁志，パターンの欠陥検査方法およびその装置，特許番号：特許3936959(2007年6月27日)
前田俊二，吉武康裕，岡健次，下田篤，芝正孝，検査データ処理方法およびその装置，特許番号：特許3920003(2007年5月30日)
前田俊二，吉田敦志，岡健次，吉田実，芝田行広，山口和夫，パターンの欠陥検査方法およびその装置，特許番号：特許3878340(2007年2月7日)
前田俊二，吉田敦志，芝田行広，吉田実，宇都幸雄，宍戸弘明，中田俊彦，パターン欠陥検査方法及びその装置，特許番号：特許3858571(2006年12月13日)
前田俊二，中山保彦，吉田実，岡健次，窪田仁志，半導体基板の製造方法，特許番号：特許3744966(2006年2月15日)
前田俊二，田中麻紀，窪田仁志，被検査パターンの検査方法及び製造プロセス診断方法並びに半導体基板の製造方法，特許番号：特許3660763(2005年6月15日)
前田俊二，田中麻紀，窪田仁志，被検査パターンの検査方法および半導体製造プロセス評価方法，特許番号：特許3625236(2005年3月2日)
前田俊二，窪田仁志，広井高志，牧平坦，半導体デバイスの製造方法，特許番号：特許3472600(2003年12月2日)
前田俊二，岡健次，牧平坦，中山保彦，吉田実，芝田行広，欠陥検査方法および装置，特許番号：特許3397101(2003年4月14日)
前田俊二，窪田仁志，広井高志，吉武康裕，牧平坦，パターン検査方法及び装置，特許番号：特許3346032(2002年11月18日)
前田俊二，牧平坦，窪田仁志，パターン欠陥検査方法およびその装置，特許番号：特許3327600(2002年9月24日)
前田俊二，吉田実，中山保彦，窪田仁志，牧平坦，被検査パターンの欠陥検査方法及びその装置，特許番号：特許3279868(2002年4月30日)
前田俊二，窪田仁志，半導体デバイスの製造方法，特許番号：特許3271622(2002年4月2日)
前田俊二，窪田仁志，牧平坦，広井高志，パターン検査方法及び装置，特許番号：特許3257010(2002年2月18日)
前田俊二，広井高志，窪田仁志，牧平坦，回路パターン欠陥検査方法及びその装置，特許番号：特許3252826(2002年2月4日)
前田俊二，小野眞，窪田仁志，薄膜トランジスタ液晶基板検査方法及びその装置，特許番号：特許3252451(2002年2月4日)
前田俊二，広井高志，牧平坦，窪田仁志，パターン検査方法及び装置，特許番号：特許3221861(2001年10月22日)
前田俊二，窪田仁志，半導体デバイスの製造方法，特許番号：特許3201396(2001年8月20日)
前田俊二，窪田仁志，牧平坦，広井高志，欠陥検査方法及び装置，特許番号：特許3189796(2001年7月16日)
前田俊二，窪田仁志，牧平坦，広井高志，パターン検査方法及び装置，特許番号：特許3163306(2001年5月8日)
前田俊二，窪田仁志，半導体装置の製造システム及び半導体装置の製造方法，特許番号：特許3047881(2000年6月5日)
前田俊二，広井高志，窪田仁志，牧平坦，回路パターン欠陥検出方法及びその装置，特許番号：特許2986824(1999年12月6日)
前田俊二，広井高志，牧平坦，窪田仁志，パターン検査方法及び装置，特許番号：特許2971628(1999年11月8日)
前田俊二，窪田仁志，牧平坦，広井高志，パターン検査方法及び装置，特許番号：特許2954381(1999年9月27日)
前田俊二，窪田仁志，牧平坦，広井高志，回路パターンの画像検出方法およびその装置，特許番号：特許2886278(1999年4月26日)
前田俊二，窪田仁志，半導体装置の製造システム及び欠陥検査方法，特許番号：特許2822937(1998年11月11日)
前田俊二，窪田仁志，市橋幹雄，松井宏信，パターン検査方法及びその装置，特許番号：特許2810216(1998年10月15日)
前田俊二，窪田仁志，牧平坦，多層パターン欠陥検出方法及びその装置，特許番号：特公平7-74787(1995年8月9日)
前田俊二，窪田仁志，欠け検査装置，特許番号：特公平7-43325(1995年5月15日)
前田俊二，窪田仁志，二宮隆典，牧平坦，中川泰夫，パターン欠陥検出装置，特許番号：特公平6-74972(1994年9月21日)
前田俊二，牧平坦，窪田仁志，半導体ウェハ上の被検査パターンの欠陥検査方法およびその装置，特許番号：特公平6-58215(1994年8月3日)
前田俊二，二宮隆典，中川泰夫，窪田仁志，多層パターン欠陥検出方法及びその装置，特許番号：特公平6-56294(1994年7月27日)
前田俊二，窪田仁志，伏見智，牧平坦，中川泰夫，パターン欠陥検出方法およびその装置，特許番号：特公平6-24215(1994年3月30日)
前田俊二，窪田仁志，伏見智，中川泰夫，被検査チップの回路パターン外観検査方法並びにその装置，特許番号：特公平6-24214(1994年3月30日)
前田俊二，窪田仁志，牧平坦，伏見智，パターン欠陥検出方法及びその装置，特許番号：特公平6-17778(1994年3月9日)
前田俊二，牧平坦，窪田仁志，自動焦点合わせ方法，特許番号：特公平6-10696(1994年2月9日)
前田俊二，牧平坦，窪田仁志，自動焦点合せ方法及び装置，特許番号：特公平6-10694(1994年2月9日)
前田俊二，小泉光義，異物検査装置，特許番号：特公平4-58622(1992年9月18日)
前田俊二，金田修身，カラーテレビジヨン受像機の彩度検査方法および装置，特許番号：特公平4-49835(1992年8月12日)
前田俊二，白色むら検査装置，特許番号：特公平4-49834(1992年8月12日)
前田俊二，小泉光義，多層回路パターン検査装置，特許番号：特公平3-29177(1991年4月23日)
前田俊二，浅野敏郎，円形端面の位置検出装置，特許番号：特公平1-55630(1989年11月27日)
ほか．
国内登録特許　計117件(筆頭上記 45件)

4-1-2 特許 - 成立済 - 米国

Shunji Maeda et al., Defect inspection method and apparatus, US8107717B2( 2012/1/31)
Shunji Maeda et al., Fault inspection method, US8103087B(2012/1/24)
Shunji Maeda et al., Defect inspection method and apparatus, US7916929B2(2011/3/29)
Shunji Maeda et al., Defect inspection method and apparatusUS7512259B2(2009/3/31)
Shunji Maeda et al., Manufacturing method of semiconductor substrate and method and apparatus for inspecting defects of patterns of an object to be inspected, US7460220B2(2008/12/2)
Shunji Maeda et al., Defect inspection method and apparatus, US7274813B2(2007/9/25)
Shunji Maeda et al., Defect inspection method and apparatus therefor, US7251024B2(2007/7/31)
Shunji Maeda et al., Manufacturing method of semiconductor substrate and method and apparatus for inspecting defects of patterns of an object to be inspected, US7180584B2(2007/2/20)
Shunji Maeda et al., Manufacturing method of semiconductor substrate and method and apparatus for inspecting defects of patterns on an object to be inspected, US7061600B2(2006/6/13)
Shunji Maeda et al., Defect inspection method and apparatus, US6947587B1(2005/9/20)
Shunji Maeda et al., Defect inspection method and apparatus therefor, US6819416B2(2004/11/16)
Shunji Maeda et al., Defect inspection method and apparatus therefor, US6674890B2(2004/1/6)
Shunji Maeda et al., Method and apparatus for inspecting defects in a patterned specimen, US6621571B1(2003/9/16)
Shunji Maeda et al., Defect inspection method and apparatus therefor, US6556290B2(2003/4/29)
Shunji Maeda et al., Method and apparatus for processing inspection data, US6456951B1(2002/9/24)
Shunji Maeda et al., Manufacturing method of semiconductor substrate and method and apparatus for inspecting defects of patterns on an object to be inspected, US6404498B1(2002/6/11)
Shunji Maeda et al., Pattern checking method and checking apparatus, US6317512B1(2001/11/13)
Shunji Maeda et al., Manufacturing method of semiconductor substrate and method and apparatus for inspecting defects of patterns of an object to be inspected, US6263099B1(2001/7/17)
Shunji Maeda et al., Defect inspection method and apparatus therefor, US6169282B1(2001/1/2)
Shunji Maeda et al., Manufacturing method of semiconductor substrative and method and apparatus for inspecting defects of patterns on an object to be inspected, US5774222(1998/6/30)
Shunji Maeda et al., Pattern checking method and checking apparatus, US5649022(1997/7/15)
Shunji Maeda et al., Method of inspecting thin film transistor liquid crystal substrate and apparatus therefor, US5309108(1994/5/3)
Shunji Maeda et al., Chipping detection system and method, US5157735(1992/10/20)
Shunji Maeda et al., Method and apparatus for detecting patterns, US5153444(1992/10/6)
Shunji Maeda et al., Defect detection system and method for pattern to be inspected utilizing multiple-focus image signals, US5038048(1991/8/6)
Shunji Maeda et al., Method of and apparatus for checking geometry of multi-layer patterns for IC structures, US4791586(1988/12/13)
Shunji Maeda et al., Automatic focusing method and apparatus utilizing contrasts of projected pattern, US4725722(1988/2/16)
ほか．
米国登録特許　計 125件(筆頭上記 27件)

4-2　特許 - 出願中（公開）

前田俊二，渋谷久恵，発電量予測方法及びそのシステム並びに風力発電設備の健康管理方法及びそのシステム, 公開番号：特開2013—222423(2013年10月28日)
前田俊二，渋谷久恵，異常検知方法及び異常検知システム, 公開番号：特開2013-218725(2013年10月24日)
前田俊二，弾丸の異同識別方法及びその装置, 公開番号：特開2013-210690(2013年10月10日)
前田俊二，渋谷久恵，プラント又は設備の異常診断方法及びヘルスマネージメント方法, 公開番号：特開2013-152655(2013年8月8日)
前田俊二，渋谷久恵，異常検知・診断方法、および異常検知・診断システム, 公開番号：特開2013-41448(2013年2月28日)
前田俊二，渋谷久恵，異常検知方法及びシステム, 公開番号：特開2012-230703(2012年11月22日)
前田俊二，渋谷久恵，真柄博幸，異常検知・診断方法，異常検知・診断システム，及び異常検知・診断プログラム並びに企業資産管理・設備資産管理システム，公開番号：特開2012- 137934（2012年7月19日）
前田俊二，渋谷久恵，異常検知方法及びそのシステム，公開番号：特開2012-58890（2012年3月22日）
前田俊二，渋谷久恵，真柄博幸，異常検知・診断方法，異常検知・診断システム，及び異常検知・診断プログラム，公開番号：特開2011-227706（2011年11月10日）
前田俊二，渋谷久恵，異常検知方法，異常検知システム，及び異常検知プログラム，公開番号：特開2011-145846（2011年7月28日）
前田俊二，渋谷久恵，異常検知・診断方法，異常検知・診断システム，及び異常検知・診断プログラム，公開番号：特開2011-059790（2011年3月24日）
前田俊二，酒井薫，浦野雄太，欠陥検出方法及び装置，公開番号：特開2011-007553（2011年1月13日）
前田俊二，渋谷久恵，異常検知方法及び異常検知システム，公開番号：特開2010-191556（2010年9月2日）
前田俊二，酒井薫 , 西山英利，欠陥検査方法及びその装置，公開番号：特開2010-151655（2010年7月8日）
前田俊二，渋谷久恵，異常検知方法及びシステム，公開番号：特開2010-092355（2010年4月22日）
前田俊二，酒井薫，欠陥検査方法，公開番号：特開2007-192688（2007年8月2日）
前田俊二，中山保彦，吉田実，岡健次，窪田仁志，パターンの欠陥検査方法およびその装置，公開番号：特開2006-227016（2006年8月31日）
前田俊二，中山保彦，吉田実，岡健次，窪田仁志，パターンの欠陥検査方法およびその装置，公開番号：特開2006-171014（2006年6月29日）
前田俊二，中山保彦，吉田実，岡健次，窪田仁志，被検査対象物上のパターンの欠陥検査方法及びその装置，公開番号：特開2005-003689（2005年1月6日）
前田俊二，酒井薫，岡部隆史，欠陥検査方法，公開番号：特開2003-271927（2003年9月26日）
前田俊二，パターン欠陥検査方法，公開番号：特開2002-168799（2002年6月14日）
前田俊二，吉田敦志，芝田行広，田実，宇都幸雄，宍戸弘明，中田俊彦，パターン欠陥検査方法及びその装置，公開番号：特開2002-039960（2002年2月6日）
前田俊二，窪田仁志，半導体デバイスの製造方法，公開番号：特開2001-313324（2001年11月9日）
前田俊二，吉武康裕，岡健次，下田篤，芝正孝，検査データ処理方法およびその装置，公開番号：特開2001-305073（2001年10月31日）
前田俊二，吉田敦志，芝田行広，吉田実，宇都幸雄，中田俊彦，宍戸弘明，パターン欠陥検査方法及びその装置，公開番号：特開2001-194323（2001年7月19日）
前田俊二，吉武康裕，岡健次，検査データ処理方法および検査データ処理装置，公開番号：特開2000-306964（2000年11月2日）
前田俊二，窪田仁志，被処理基板の検査方法及びその装置，公開番号：特開2000-155842（2000年6月6日）
前田俊二，吉田敦志，岡健次，吉田実，芝田行広，山口和夫，パターンの欠陥検査方法およびその装置，公開番号：特開2000-097869（2000年4月7日）
前田俊二，広井高志，牧平坦，窪田仁志，パタ―ン検査方法及び装置，公開番号：特開2000-002665（2000年1月7日）
前田俊二，広井高志，窪田仁志，牧平坦，回路パタ―ン欠陥検査方法及びその装置，公開番号：特開平11-340292（1999年12月10日）
前田俊二，岡健次，芝田行広，吉田実，宍戸千絵，高木裕二，欠陥検査方法および装置，公開番号：特開平11-304718（1999年11月5日）
前田俊二，窪田仁志，牧平坦，広井高志，欠陥検査方法及び装置，公開番号：特開平11-142346（1999年5月28日）
前田俊二，岡健次，牧平坦，中山保彦，吉田実，芝田行広，宍戸千絵，欠陥検査方法および装置，公開番号：特開平11-132959（1999年5月21日）
前田俊二，窪田仁志，半導体装置の製造システム及び欠陥検査方法，公開番号：特開平10-185535（1998年7月14日）
前田俊二，田中麻紀，窪田仁志，被検査パターンの検査方法及び製造プロセス診断方法並びに半導体基板の製造方法，公開番号：特開平10-074812（1998年3月17日）
前田俊二，田中麻紀，窪田仁志，被検査パターンの欠陥検査方法およびその方法を用いた半導体製造プロセス評価方法並びに複数画像の位置合わせ方法，公開番号：特開平09- 203621（1997年8月5日）
前田俊二，吉田実，中山保彦，窪田仁志，岡健次，牧平坦，被検査パターンの欠陥検査方法及びその装置，公開番号：特開平08-320294（1996年12月3日）
前田俊二，中山保彦，吉田実，岡健次，窪田仁志，半導体基板の製造方法並びに被検査対象物上のパターンの欠陥検査方法及びその装置，公開番号：特開平08-162511（1996年6月21日）
前田俊二，窪田仁志，半導体装置の製造システム及び製造方法，公開番号：特開平08-068618（1996年3月12日）
前田俊二，窪田仁志，広井高志，吉武康裕，牧平坦，パターン検査装置及び方法，公開番号：特開平07-318326（1995年12月8日）
前田俊二，窪田仁志，広井高志，牧平坦，半導体製造方法及び製造ライン，公開番号：特開平07-066255（1995年3月10日）
前田俊二，窪田仁志，牧平坦，広井高志，回路パターン欠陥検出装置およびその方法並びにイメージセンサ，公開番号：特開平06-241744（1994年9月2日）
前田俊二，牧平坦，窪田仁志，パターン比較検査方法とその装置，公開番号：特開平06-174652（1994年6月24日）
前田俊二，小野眞，窪田仁志，薄膜トランジスタ液晶基板検査方法及びその装置，公開番号：特開平06-051011（1994年2月25日）
前田俊二，小野眞，窪田仁志，赤外線検出装置，公開番号：特開平05-296825（1993年11月12日）
前田俊二，窪田仁志，牧平坦，広井高志，パターン検査方法及び装置，公開番号：特開平05-264463（1993年10月12日）
前田俊二，窪田仁志，牧平坦，広井高志，画像処理方法，公開番号：特開平05-242253（1993年9月21日）
前田俊二，窪田仁志，牧平坦，広井高志，パターン検査方法及び装置，公開番号：特開平05-182887（1993年7月23日）
前田俊二，広井高志，牧平坦，窪田仁志，パターン検査方法及び装置，公開番号：特開平05-006928（1993年1月14日）
前田俊二，窪田　仁志，牧平　坦，広井　高志，パターン検査方法及び装置，公開番号：特開平04-348260（1992年12月3日）
前田俊二，窪田　仁志，牧平　担，広井　高志，回路パターンの画像検出方法およびその装置，公開番号：特開平04-061142（1992年2月27 日）
前田俊二，窪田　仁志，市橋　幹雄，松井　宏信，パターン検査方法及びその装置，公開番号：特開平04-051441（1992年2月19日）
前田俊二，広井　高志，窪田　仁志，牧平　坦，回路パターン欠陥検出方法及びその装置，公開番号：特開平03-209843（1991年9月12日）
前田俊二，窪田　仁志，被検査対象パターンの欠陥検出方法及びその装置，公開番号：特開平02-170279（1990年7月2日）
前田俊二，窪田　仁志，欠け検査装置および方法，公開番号：特開平02-073110（1990年3月13日）
前田俊二，窪田　仁志，欠け検査装置，公開番号：特開平01-134722（1989年5月26日）
前田俊二，窪田　仁志，牧平　坦，多層パターン欠陥検出方法及びその装置，公開番号：特開平01-057634（1989年3月3日）
前田俊二，二宮　隆典，窪田　仁志，中川　泰夫，スルーホール検査装置，公開番号：特開昭63-191948（1988年8月9日）
前田俊二，牧平　坦，窪田　仁志，中川　泰夫，パターン欠陥検査方法，公開番号：特開昭63-111586（1988年5月16日）
前田俊二，窪田　仁志，二宮　隆典，牧平　坦，中川　泰夫，パターン欠陥検出装置，公開番号：特開昭62-267649（1987年11月20日）
前田俊二，牧平　坦，窪田　仁志，自動焦点合わせ方法，公開番号：特開昭62-083712（1987年4月17日）
前田俊二，牧平　坦，窪田　仁志，半導体ウエハ上の被検査パターンの欠陥検査方法およびその装置，公開番号：特開昭62-043505（1987年2月 25日）
前田俊二，牧平　坦，窪田　仁志，自動焦点合せ方法及び装置，公開番号：特開昭61-235808（1986年10月21日）
前田俊二，二宮　隆典，中川　泰夫，窪田　仁志，多層パターン欠陥検出方法及びその装置，公開番号：特開昭61-212708（1986年9月20日）
前田俊二，窪田　仁志，伏見　智，牧平　坦，中川　泰夫，パターン2値化方法とその装置，公開番号：特開昭61-189406（1986年8月23日）
前田俊二，窪田　仁志，牧平　坦，伏見　智，パターン欠陥検出方法及びその装置，公開番号：特開昭61-151410（1986年7月10日）
前田俊二，窪田　仁志，伏見　智，牧平　坦，中川　泰夫，パターン欠陥検出方法およびその装置，公開番号：特開昭61-085835（1986年5月1 日）
前田俊二，窪田　仁志，伏見　智，中川　泰夫，被検査チツプの回路パターン外観検査方法並びにその装置，公開番号：特開昭61-065444（1986 年4月4日）
前田俊二，小泉　光義，異物検査装置，公開番号：特開昭60-218845（1985年11月1日）
前田俊二，金田　修身，カラーテレビジヨン受像機の彩度検査方法および装置，公開番号：特開昭60-196095（1985年10月4日）
前田俊二，金田　修身，自動焦点調節方法および装置，公開番号：特開昭60-148293（1985年8月5日）
前田俊二，小泉　光義，多層回路パターン検査装置，公開番号：特開昭60-124833（1985年7月3日）
前田俊二，カラーテレビジヨン受像管の色計測方法および装置，公開番号：特開昭60-117889（1985年6月25日）
前田俊二，白色むら検査装置，公開番号：特開昭60-109392（1985年6月14日）
前田俊二，画像蓄積装置，公開番号：特開昭59-219072（1984年12月10日）
前田俊二，自動焦点合せ方法，公開番号：特開昭59-218410（1984年12月8日）
前田俊二，カラーブラウン管の白色むら検査装置，公開番号：特開昭59-075766（1984年4月28日）
前田俊二，有賀　誠，松山　幸雄，画質検査方法，公開番号：特開昭58-222668（1983年12月24日）
前田俊二，円形物体認識方法，公開番号：特開昭58-16107（1983年9月24日）
前田俊二，輪郭検出回路，公開番号：特開昭58-159187（1983年9月21日）
前田俊二，浅野　敏郎，円形端面の位置検出装置，公開番号：特開昭58-129888（1983年8月3日）
前田俊二，画像処理パラメータ同定装置，公開番号：特開昭58-72269（1983年4月30日）
前田俊二，渋谷　久恵，真柄　博幸，異常検知・診断方法，異常検知・診断システム，及び異常検知・診断プログラム，公報番号： WO2011/132524（2011年10月27日）
前田俊二，渋谷　久恵，異常検知方法及び異常検知システム，公報番号：WO2011/086805（2011年7月21日）
前田俊二，渋谷　久恵，異常検知・診断方法，異常検知・診断システム，及び異常検知・診断プログラム，公報番号：WO2011/027607（2011 年3月10日）
前田俊二，渋谷　久恵，異常検知方法及び異常検知システム，公報番号：WO2010/095314（2010年8月26日）
前田俊二，酒井　薫 , 西山　英利，欠陥検査方法及びその装置，公報番号：WO2010/073453（2010年7月1日）
前田俊二，渋谷　久恵，異常検知方法及びシステム，公報番号：WO2010/041355（2010年4月15日）
前田俊二，照明装置，公開番号：実開昭58-470（1983年1月5日）
ほか．
国内公開特許　計281件(筆頭上記 89件．登録特許は含まず)

5　受賞歴 - 社外

令和3年度電気・情報関連学会中国支部連合大会にて、中村雅美さん(M2)が「サンプリングと外れ値検出を用いた異常検知」により、電気学会中国支部奨励賞を受賞(2022.1.13連絡)
令和3年度電気・情報関連学会中国支部連合大会にて、安食拓哉君(M2)が「KLDの双対性を用いた異常検知手法」により、電気学会中国支部奨励賞を受賞(2022.1.13連絡)
令和3年度電気・情報関連学会中国支部連合大会にて、安食拓哉君(M2)が「KLDの双対性を用いた異常検知手法」により、電子情報通信学会中国支部連合大会奨励賞を受賞(2021.12.15連絡)
特許「高速局所部分空間法による異常検知方法」により，(社)発明協会「令和元年度関東地方発明表彰発明奨励賞」を受賞(2019)
令和元年特許「高速局所部分空間法による異常検知方法」により，(社)発明協会「令和元年度関東地方発明表彰発明奨励賞」を受賞(2019)
平成30年度電気学会次世代産業システム研究会にて、稲田淳志君(B3)が「レンズ研磨加工の定量化を目的とした加工条件の検討」により、電気学会優秀論文発表賞受賞(2019.3.1)
平成30年度電気・情報関連学会中国支部連合大会にて、松林幹大君(B4)が「ごみ焼却炉における数理モデルを用いた位相遅れの測定」により、電子情報通信学会中国支部連合大会奨励賞、電気学会中国支部連合大会奨励賞受賞(2019.3.1)
平成29年度電気・情報関連学会中国支部連合大会にて、橋本将弥君(B4)が「HOG特徴量の部分空間への射影による欠陥特性評価」により、電子情報通信学会中国支部連合大会奨励賞、電気学会中国支部連合大会奨励賞を受賞(2018.3.2)
平成28年電気学会電子・情報・システム部門大会にて、松尾浩司君(B4)が「PS5-8 刃物の威力評価手法の検討」により，優秀ポスター賞を受賞(2016.8.31)
平成27年　論文「画像解析に基づく線条痕の特徴強調と局所照合による発射弾丸の異同識別」により，精密工学会論文賞を受賞(2015)
平成25年　論文「部分空間法に基づく残差ベクトル軌跡による異常検知手法の検討」により，精密工学会髙城賞を受賞(2013)
平成19年発表「欠陥種を考慮に入れた局所整合性に基づく点群照合法」により，画像センシングシンポジウムSSII07「オーディエンス賞」を受賞(2007)
平成18年特許「TFT液晶基板の検査・修正方法」により，(社)発明協会「平成18年度関東地方発明表彰発明奨励賞」を受賞(2006)
平成９年特許「半導体回路パターン欠陥検出方法」により，(社)発明協会「平成9年度関東地方発明表彰発明奨励賞」を受賞 (1997)
平成７年「超高感度ＬＳＩパターン検査装置の開発」により，「第30回機械振興協会賞」を受賞(1995)

6　教育上の功績: 北海道大学　大学院　情報科学研究科「システム展開情報学特論」平成22年4月〜25年3月; 教育ネットワーク中国　高大連携事業　公開講座「ビッグなAI(人工知能)に繋がる小さなIC(マイクロチップ)の世界、ICからAIへ：センシングと産業応用」平成29年8月4日; 教育ネットワーク中国　高大連携事業　公開講座「集積回路のしくみ（集積回路を用いたセンシングと産業応用）」平成28年8月5日; 広島工業大学公開講座「ビッグデータを用いたスマートメンテナンスの世界」平成26年6月7日; 日立製作所　技術研修所　客員講師　「生産設備の基本要素と応用事例」内の「FAの画像処理技術」を担当．平成10年以降　平成29年現在まで継続; 日立製作所　技術研修所　客員講師　「画像処理の基礎と応用」を担当．平成18年〜平成25年

7　学協会活動歴: 精密工学会論文4賞選考委員（平成29年10月～30年1月）; 日本法科学技術学会　第9期評議員(平成29年11月～32年11月); 精密工学会論文4賞審査委員（平成28年10月～29年1月）; 科学警察研究所　研究開発機関評価委員会委員（平成27年10月～28年1月）; 精密工学会論文4賞選考委員（平成27年10月～28年1月）; 電子情報通信学会中国支部運営委員（平成27年6月～平成29年4月）; 動的画像処理実利用化ワークショップ DIA2015　実行委員会副委員長; 精密工学会校閲協力委員（平成21年4月～）; ViEW(VisionEngineering Workshop) 実行委員（平成19年4月～平成25年3月）; FCV(Korea-Japan Joint Workshop onFrontiers of Computer Vision) 2010,2012  Scientific Committee Member

8-1　外部資金 - 科研費: 風力発電安定化のための数時間先局所風況予測手法の研究（研究代表者）
研究期間：2014年4月1日～2017年3月31日; 事例に基づく予兆検出（連携研究者）
研究期間：2012年4月1日～2016年3月31日

8-2　外部資金 - 関連研究(2013年度以降:22件): 振動データを用いた故障予兆検知に関する研究; 振動データを用いた故障予知に関する研究; 発電設備の監視データを用いた設備診断アルゴリズムの研究; 社会インフラ設備の動画からの認識・抽出技術の研究1,2; 太陽光発電のための日射強度予測; レンズ研磨加工の定量化1,2; プラント運転データ解析の研究; プラントの異常検知の研究; 機械学習による回路基板検査の研究; 太陽光と風力のハイブリット発電の研究; 刃物の威力評価に関する研究; 設備のパフォーマンスモニタの研究; 発射弾丸の異同識別の研究; 風力発電のための風況予測の研究1,2,3; 自動判定画像処理の研究; 設備性能および余寿命予測の研究

8-3　外部資金 - 奨学寄附金(2013年度以降): 5件